[发明专利]磁随机存取存储器件的参考信号的产生无效
申请号: | 01121930.0 | 申请日: | 2001-06-20 |
公开(公告)号: | CN1337709A | 公开(公告)日: | 2002-02-27 |
发明(设计)人: | L·T·特兰;K·J·埃尔德雷奇 | 申请(专利权)人: | 惠普公司 |
主分类号: | G11C11/02 | 分类号: | G11C11/02;G11C11/15 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 王勇,梁永 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 磁随机存取存储器(“MRAM”)器件(100)包括存储器单元(104)的阵列(102)。尽管由于制造公差和诸如阵列中的温度梯度、电磁干扰和老化之类的其他因素造成电阻的变化,但器件(100)仍然产生能够用来判断阵列中每个存储器单元的电阻态的参考信号。 | ||
搜索关键词: | 随机存取存储器 参考 信号 产生 | ||
【主权项】:
1.一种存储器件(100),包含:存储器单元(104)组成的块(102);用来存储逻辑‘1’的第一存储器件(110);用来存储逻辑‘0’的第二存储器件(112);读出放大器(120);以及用来产生读出放大器的参考信号(Vref)的电路(126),此电路借助于组合第一和第二存储器件的输出而产生参考信号。
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