[发明专利]一种光电耦合器件成像边缘检测计算方法无效

专利信息
申请号: 01119490.1 申请日: 2001-06-06
公开(公告)号: CN1357845A 公开(公告)日: 2002-07-10
发明(设计)人: 贺庚贤 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G06F17/13 分类号: G06F17/13;G01R31/26
代理公司: 长春科宇专利代理有限责任公司 代理人: 刘树清
地址: 130022 *** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 一种光电耦合器件成像边缘检测计算方法,属于光电检测技术领域中的一种光电耦合器件(以下称CCD)成像边缘检测的计算方法,是通过对CCD成像器件输出的模拟量转换成数字量并对其进行微分计算,找出微分信号的上波峰和下波峰,将波峰看成是一种星点能量信号,应用星的像心计算公式Xc=∑XiRi/∑Ri,将微分数值代入该公式中,计算所得像心Xc,即是CCD成像器件输出的被测物的边缘值。
搜索关键词: 一种 光电 耦合 器件 成像 边缘 检测 计算方法
【主权项】:
1、一种光电耦合器件成像边缘检测计算方法,是通过将CCD成像器件输出的模拟量转换成数字量,并对其进行微分计算实现的(完成的),其特征在于:第一步,对CCD成像器件输出的被测物的边缘信号波形b进行采样,将模拟量转换成数字量(A/D转换)信号波形c,存储在计算机里;第二步,将采集的数字信号波形c进行微分计算,得出边缘信号微分波形d,找出上波峰和下波峰,并将波峰看成是一种星点能量信号,边缘信号波形c的上升沿梯度最大处对应边缘信号微分波形d的上波峰峰值,边缘信号波形c的下降沿梯度最大处对应边缘信号微分波形d的下波峰峰值;第三步,应用星的像心算法公式式中Xc为像心位置(X轴方向与CCD像元排列方向一致),Xi为CCD像元在X轴方向的位置,i为像元个数,i=1、2、3、……Ri为A/D转换后的Xi点处的像素响应电平。将第二步微分数值看成是星点的响应电平Ri代入该公式中,计算所得像心Xc即是CCD成像器件输出的被测物的边缘点值。
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