[发明专利]判断失效率与选择最佳预处理周期的方法

摘要

一种判断失效率与选择最佳预处理周期的方法，至少包括：提供数个集成电路；根据测试环境下各集成电路的有效工作期限建立失效率一测试时间关系，并建立加速因子函数，它为测试环境的测试时间与正常工作环境的真实时间的关系；使用以测试时间或真实时间为变数的函数模拟失效率一时间关系，此测试时间与真实时间的转换使用加速因子函数，且函数的转折点即为最佳预处理周期；对真实时间大于最佳预处理周期的部份进行函数的积分计算，以得到累积失效率一真实时间函数。当函数转折点所对应的特定测试时间前已有不只一个集成电路失效时，可消除部份测量资料并重新找寻特定测试时间，直到在特定测试时间前只有一个集成电路失效为止。

主权项

1.一种判断失效率与选择最佳预处理周期的方法，其特征在于，所述方法包括：提供数个集成电路；执行一使用期限测试程序，测量在一测试环境下各个所述集成电路的有效工作期限，借以建立这些集成电路的失效率与测试时间关系，同时建立对应到所述测试环境的一加速因子函数，所述加速因子函数为所述集成电路在所述测试环境的测试时间与所述集成电路在一正常工作环境的真实时间的关系；执行一模拟程序，使用测试时间函数模拟所述失效率与测试时间关系；执行一转换程序，使用所述加速因子函数将所述测试时间函数转换为一真实时间函数，在此所述真实时间函数的一转折点所对应的一运作时间即为测试所述这些集成电路的一最佳预处理周期；以及执行一积分计算程序，对所述真实时间大于所述最佳预处理周期的部份进行所述真实时间函数的积分计算，以获得一累积失效率与真实时间函数。