[发明专利]自动样本分析系统有效
| 申请号： | 00811486.2 | 申请日： | 2000-08-09 |
| 公开（公告）号： | CN1369058A | 公开（公告）日： | 2002-09-11 |
| 发明（设计）人： | 柯林·罗伊·杰弗瑞斯 | 申请（专利权）人： | 柯林·罗伊·杰弗瑞斯 |
| 主分类号： | G01N21/13 | 分类号： | G01N21/13;G01N21/85;G01N35/04 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所 | 代理人： | 沈昭坤 |
| 地址： | 澳大利亚*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于大块材料例如甘蔗的样本分析器包括精细分割的材料并将样本放置在环形传送机(2)上的切碎装置。该样本进行压缩并且将其上表面(30)弄平,来确保相对于分析器(48)例如红外线分光仪的读头的固定存在高度。或者,样本可以安置在传送机上的隔室中并经机械或手工平滑,随后移动到分析器(48)下。如果有先前样本的残留物,每个样本就放置在残留物上,这样就防止了上部表面(30)被后继样本污染。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 样本 分析 系统 | ||
【主权项】：
1、一种用于对配制的样本材料进行分析的设备，其特征在于，包括辐射传感器以及能将样本以可控外观高度和表面条件传送经过传感器的装置。
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