[发明专利]电极阵列的测试装置和有关的方法无效
| 申请号： | 00105509.7 | 申请日： | 2000-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN1269511A | 公开（公告）日： | 2000-10-11 |
| 发明（设计）人： | 雅克·德尚 | 申请（专利权）人： | 汤姆森等离子体公司 |
| 主分类号： | G01R31/302 | 分类号： | G01R31/302 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 戎志敏 |
| 地址： | 法国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种电极阵列的测试装置和有关的方法。本发明涉及用于电极(21)阵列的测试装置,电极至少放置在一块显示屏板(20)上,装置包括用于向电极(21)交替地施加偏压(Vsin(ωt))和反相偏压(－Vsin(ωt))的供电装置22、23。天线(24)在支撑显示屏板(20)上平行移动,以便测量来自所述的电极(21)的电场。本发明也涉及测试电极(21)阵列的方法,在这种方法中,对电极(21)交替地施加偏压,以便产生由天线测量的电场。 | ||
| 搜索关键词： | 电极 阵列 测试 装置 有关 方法 | ||
【主权项】：
1.用于电极(21)阵列的测试装置，电极至少放置在一个支撑显示屏板(20)上，该测试装置包括：用于向电极施加偏压以便他们产生电场的供电装置(22、23)；至少一个天线，其具有引导装置(31到33)用于与电极以几乎不变的距离在支撑显示屏板(20)上能够平行移动，以便测量来自所述的电极(21)的电场，其特征是供电装置包括：第一装置(22)，其用于向一半电极施加偏压(Vsin(ωt))；第二装置(23)，其用于向另一半电极施加反相偏压(-Vsin(ωt))；以及所述的第一装置和第二装置被设计成交替地向所述电极施加偏压。
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