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专利名称

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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]TOF质量校准-CN202080025411.X在审
发明人： R·E·霍夫勒;W·M·洛德;马场崇 -专利权人： DH科技发展私人贸易有限公司
申请日： 2020-06-10 - 公布日： 2021-11-09 - 主分类号： H01J49/00 文献下载
摘要：一种用于质量分析器的校准设备，包括离子源装置和两用电子束产生单元。离子源装置电离样本的分析物，产生分析物离子。两用电子束产生单元位于离子源装置与质量分析器之间。在第一模式中，两用电子束产生单元用于产生未知质荷比的分析物离子的碎裂。在第二模式中，两用电子束产生单元用于产生已知质荷比的校准化合物的离子。所有离子随后被转移到质量分析器。
tof 质量校准

[发明专利]使用EXD和PTR的自上而下蛋白质组学方法-CN201980056024.X在审
发明人：马场崇;P·鲁米恩;W·M·洛德 -专利权人： DH科技发展私人贸易有限公司
申请日： 2019-08-15 - 公布日： 2021-04-02 - 主分类号： H01J49/42 文献下载
摘要：一种离解设备将前体离子裂解，从而在离解设备中产生具有重叠的m/z值的至少两种不同的产物离子。离解设备施加AC电压和DC电压，从而形成捕获包括至少两种产物离子的比阈值m/z低的离子的赝势。离解设备接收电荷减少试剂，所述电荷减少试剂使被捕获的该至少两种产物离子被减少电荷，直到它们的m/z值增大至超过通过AC电压设置的阈值m/z。该至少两种产物离子的m/z值的增大使它们的重叠减少。通过相对于施加到其他设备的DC电压向离解设备施加DC电压，将具有增大的m/z值的至少两种产物离子传输到另一设备，以进行后续质量分析。
使用 exd ptr 自上而下蛋白质方法

[发明专利]质谱法中的抗体的自上而下分析-CN201980024933.5在审
发明人：马场崇;P·鲁米恩;W·M·洛德 -专利权人： DH科技发展私人贸易有限公司
申请日： 2019-04-09 - 公布日： 2020-11-13 - 主分类号： G01N33/68 文献下载
摘要：分离设备从样本中分离已知mAb类的未知的完整mAb或还原mAb亚基。离子源设备将mAb离子化。质谱仪使用ECD设备使离子化的mAb碎裂，并使用质量分析仪对所得到的产物离子进行质量分析，从而产生一个或多个产物离子谱。计算mAb类的一个或多个恒定部分的理论产物离子峰。从一个或多个产物离子谱中移除理论产物离子峰，从而产生一个或多个差异产物离子谱。从头测序被应用于一个或多个差异产物离子谱，从而产生用于mAb的一个或多个可变部分的一个或多个候选序列。在基因组数据库中搜索与一个或多个候选序列的匹配，从而产生用于一个或多个可变部分的一个或多个匹配序列。
质谱法中的抗体自上而下分析

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