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- [发明专利]用于校准至少一个质谱装置的方法-CN202080087959.7在审
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A·盖斯坦格;D·因特尔曼;S·沙赫里亚里;A·希尔格
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豪夫迈·罗氏有限公司
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2020-12-16
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2022-08-05
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H01J49/00
- 本发明公开了一种用于校准具有第一定义的硬件配置的至少一个质谱装置(110)的方法。所述方法包括以下步骤：a)至少一个制造商现场(116)预校准步骤，其包括：a1：为具有第二定义的硬件配置的通用型质谱装置(114)建立至少一个参考校准函数fp，其中所述第二定义的硬件配置等效于所述第一定义的硬件配置，其中所述参考校准函数fp描述至少一个校准品样品中的至少一种分析物的至少一个浓度c的关系，其中所述参考校准函数fp是参数化函数fp(浓度)其中p＝(p1，p2，...pn)为所述参考校准函数的参数组，并且n为正整数；a2：确定用于所述通用型质谱装置(114)的所述参考校准函数的所述参数组的校准值(I)；b)向所述质谱装置(110)的客户(118)提供至少以下各项：所述通用型质谱装置(114)的参考校准函数fp、所述通用型质谱装置(114)的校准值(I)以及具有所述至少一种分析物的定义的目标值的至少一个校准品样品；以及c)用于所述质谱装置(110)的至少一个客户现场(120)重新校准步骤，其包括：c1：使用所述质谱装置(110)以及校准品样品中的至少一个执行至少一次校准测量，从而产生至少一个校准信号；c2：基于所述校准信号生成校准信息。
- 用于校准至少一个装置方法
- [发明专利]用于校准具有多个重复硬件组件的至少一个分析装置的方法-CN202080087683.2在审
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N·阿伦斯;A·盖斯坦格;A·希尔格;D·因特尔曼;S·沙赫里亚里
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豪夫迈·罗氏有限公司
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2020-12-16
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2022-08-02
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G01N30/86
- 本发明公开了一种用于校准具有重复硬件组件的至少一个分析装置(112)的方法。所述分析装置(112)包括多个硬件组件(114)。所述方法包括以下步骤：a)提供至少一个具有至少一种分析物的浓度的已知目标值的校准品样品i；b)至少一个测量步骤，其中所述测量步骤包括使用所述分析装置对所述校准品样品进行至少一次测量，其中获取至少一个检测器信号sijk，其中i=1,…I，I≥2，其中i是指所述校准品样品的数量，j=1,…J，J≥2，其中j是指所述硬件组件的数量，其中k=1,…Kij，Kij≥1，其中k是指所述测量步骤的重复次数；c)至少一个校准步骤，其中确定所述检测器信号与所述分析物的浓度之间和/或所述检测器信号与理论信号值之间的关系，其中所述校准步骤包括：c.1：提供至少一个参数化函数，其中所述参数化函数具有参数组，其中所述参数组包括描述所述参数化函数的分析物特定部分的参数，其中所述参数组进一步包括用于调整所述硬件组件(114)的所述参数化函数的参数；c.2：通过进行基于所述参数化函数的校准来确定校准值；以及c.3：基于所述参数化函数的反函数和确定的校准值来确定分析函数。
- 用于校准具有重复硬件组件至少一个分析装置方法
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