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- [发明专利]用于光显微镜的光束成形的光学布置和方法-CN201980027523.6有效
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J.西本摩根;I.克莱普;R.内茨
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卡尔蔡司显微镜有限责任公司
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2019-04-11
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2023-03-14
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G02B21/06
- 本发明涉及一种用于光显微镜的光束成形的光学布置，该光学布置包括：第一液晶区域和第二液晶区域或微抬升反射镜区域(35A，35B)，各自具有可独立于彼此切换的多个液晶元件或反射镜，通过该多个液晶元件或反射镜，入射光的相位以可调整的方式改变；耦合/解耦合偏振分束器(10)；偏振分束器(20)，该偏振分束器布置在所述耦合/解耦合偏振分束器(10)和所述液晶区域或微抬升反射镜区域(35A，35B)之间，使得所述偏振分束器(20)偏振相关地将来自所述耦合/解耦合偏振分束器(10)的光(1)分成第一子束(1A)和第二子束(1B)，所述第一子束被引导到所述第一液晶区域或微抬升反射镜区域(35A)，以及所述第二子束(1B)被引导到所述第二液晶区域或微抬升反射镜区域(35B)；以及使得所述偏振分束器(20)将从所述液晶区域或微抬升反射镜区域(35A，35B)返回的两个子束(1A，1B)组合，并且将所述束一起引导到所述耦合/解耦合偏振分束器(10)作为出射光束(2)。
- 用于显微镜光束成形光学布置方法
- [发明专利]TIRF显微术的布置、显微镜和方法-CN201880014305.4有效
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J.西本摩根;R.内茨
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卡尔蔡司显微镜有限责任公司
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2018-02-15
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2022-08-16
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G02B21/00
- 本发明涉及TIRF显微术的布置(1)，其包括具有照明物镜(2)的照明光学单元以通过照明束路径在样品平面(4)的样品区域中照明位于样品承载件(7)上的样品(5)，其中照明物镜(2)的光轴(A1)与样品平面(4)的法线(B)形成不为零的照明角(α1)，将样品承载件(7)关于该样品平面(4)取向。检测束路径中具有检测物镜(3)的检测光学单元形成所述检测物镜的光轴(A2)和样品平面(4)的法线(B)之间的不为零的检测角(α2)。根据本发明，转换元件(10)出现在样品承载件(7)和物镜(2、3)之间，所述转换元件布置在照明束路径(BS)中和检测束路径(DS)中。转换元件(10)配置为校正由于要检测的辐射和/或照明样品(5)的辐射通过具有不同折射率的介质而出现的像差。将照明束路径以适合于在样品平面(4)处产生照明辐射(BS)的全内反射的照明角(α1)指引到样品平面(4)的样品区域中。本发明附加地涉及包括TIRF显微术的布置(1)的显微镜(0)，及TIRF显微术的方法。
- tirf显微布置显微镜方法
- [发明专利]高分辨率扫描显微术-CN201480051234.7有效
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I.克莱普;Y.诺维考;C.尼滕;R.内茨
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卡尔蔡司显微镜有限责任公司
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2014-07-18
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2018-09-11
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G02B21/00
- 本发明涉及一种用于对样本(2)进行高分辨率扫描显微术的显微镜和方法，所述显微镜具有‑用于对样本(2)进行照明的照明装置(3)，‑成像装置(4)，用于在样本(2)上扫描至少一个点光斑或线光斑(14)并且用于在考虑成像比例的条件下在探测层面(18)内将点光斑或线光斑(14)成像为衍射受限的、静止的单个图像(17)，‑探测器装置(19)，用于对于不同的扫描位置以位置分辨率采集探测层面(18)内的单个图像(17)，所述位置分辨率在考虑成像比例的情况下在至少一个延伸/维度上至少是衍射受限的单个图像(17)的半值宽度的两倍，‑分析装置(C)，用于根据探测器装置(19)的数据对于扫描位置分析单个图像(17)的衍射结构并且用于产生样本(17)的图像，所述图像的分辨率超过衍射极限，其中，‑探测器装置(19)具有：‑探测器阵列(24)，所述探测器阵列具有像素(25)并且大于单个图像(17)，和‑不成像的再分配元件(20‑21；30‑34；30‑35)，其布置在探测器阵列(24)上游并且将来自探测层面(18)的射线以不成像的方式分配到探测器阵列(24)的像素(25)上，‑其中，在调整回路中，通过根据调整信号切换再分配元件和/或调节用于适配图像尺寸的变焦光学器件/聚焦光学器件和/或联合探测器阵列的单个像素来进行调整，‑其中，该调整包含了图像对比度和/或图像清晰度和/或信噪比来作为调整参量。
- 高分辨率扫描显微
- [发明专利]光学显微镜和显微术方法-CN201480005722.4有效
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W.巴思;R.内茨
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卡尔蔡司显微镜有限责任公司
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2014-01-23
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2017-12-01
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G02B21/00
- 本发明涉及一种具有样本平面的光学显微镜，待研究的样本能够定位在所述样本平面上，所述光学显微镜具有用于发出照明光线的光源、用于将照明光线导入样本平面中的光学成像器件和探测器装置，所述探测器装置具有多个探测器元件来检测来自样本的样本光线。在此，相邻的探测器元件彼此之间的距离小于样本平面的点在探测器装置上产生的埃里斑。按照本发明的光学显微镜的特征在于，设有带至少一个第一和第二光学装置的扫描装置，所述扫描装置的光学装置能够同时沿共同的方向运动，以便产生彼此方向相反的照明扫描运动和探测扫描运动，第一和第二光学装置分别具有多个并排布置的光学元件，通过所述光学元件能够同时研究相互间隔的样本区域，第一和第二光学装置布置为，使得从样本平面朝向探测器装置的样本光线的光路以及从光源朝向样本平面的照明光线的光路均经过第一光学装置并且这两条光路中只有一条经过第二光学装置，并且为了实现与照明扫描运动的方向相反的探测扫描运动的方向，能够通过扫描装置使样本光线非倒立地并且以小于1的成像比例成像。
- 光学显微镜显微方法
- [发明专利]高分辨率扫描显微术-CN201480055894.2在审
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I.克莱普;Y.诺维考;R.内茨;M.戈勒斯;G.洛伦茨;C.尼滕
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卡尔蔡司显微镜有限责任公司
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2014-07-18
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2016-05-25
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G02B21/00
- 本发明涉及一种用于对样本(2)进行高分辨率扫描显微术的显微镜和方法，其中，-照亮样本(2)，-将至少一个扫描地导引通过样本(2)的点光斑或线光斑(14)成像为帧(17)，其中，光斑(14)按成像比例衍射受限地成像为帧(17)并且帧(17)静止地处于探测平面(18)内，-针对不用的扫描位置以位置分辨率检测帧(17)，所述位置分辨率在考虑成像比例的情况下至少是衍射受限的帧(17)的半值宽度的两倍，因此检测到帧(17)的衍射结构，-针对每个扫描位置分析帧(17)的衍射结构，并且产生样本(2)的图像，所述图像具有超过衍射极限的分辨率，其中，-提供测器阵列(24)，所述探测器阵列具有像素(25)并且大于帧(17)，并且-来自探测平面(18)的帧的射线不成像地再分配到探测器阵列(24)的像素(25)上，-其中，设有至少两个并行地受到探测光线加载的再分配元件，并且其中，探测光线至少部分地在其光谱组成方面有所区别，并且射线从所述至少两个再分配元件到达探测器阵列的像素。
- 高分辨率扫描显微
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