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- [发明专利]光学颗粒传感器-CN201780030806.7有效
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J·H·M·斯普鲁伊特;P·T·于特;A·M·范德莱;H·J·门希;J·W·海尔米格
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通快光电器件有限公司
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2017-05-17
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2022-08-12
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G01N15/02
- 本发明描述了一种激光传感器模块。所述激光传感器模块包括：至少第一激光器(111)，其适于发射第一测量光束(111’)，以及至少第二激光器(112)，其适于发射第二测量光束(112’)。所述激光传感器模块还包括光学设备(150)，所述光学设备被布置为对所述第一测量光束(111’)和所述第二测量光束(112’)进行重定向，使得5所述第一测量光束(111’)与所述第二测量光束包围在45°和135°之间的角度。所述激光传感器模块包括一个探测器(120)，所述一个探测器适于确定所述第一激光器(111)的第一激光腔内的第一光波的至少第一自混合干涉信号和所述第二激光器(112)的第二激光腔内的第二光波的至少第二自混合干涉信号。尽管实际上不可能确定速度矢量的分量，但是该配置10使得能够确定颗粒的平均速度。借助于统计变化引入的误差是可接受的，因为探测到的颗粒的数量与颗粒速度的立方根成比例。本发明还描述了一种包括这样的激光传感器模块的颗粒传感器(100)、对应的方法和计算机程序产品15。本发明使得能够基于激光自混合干涉来探测小颗粒的简单且低成本的颗粒传感器(100)。
- 光学颗粒传感器
- [发明专利]光学颗粒传感器模块-CN201780085969.5有效
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J·H·M·斯普鲁伊特;A·M·范德莱;P·T·于特;H·J·门希;J·W·黑尔米格;R·奥温克
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通快光电器件有限公司
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2017-12-01
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2022-03-29
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G01N15/06
- 本发明描述一种激光传感器模块。所述激光传感器模块包括：适用于发射第一测量光束(111')的至少第一激光器(111)和适用于发射第二测量光束(112')的至少第二激光器(112)；光学装置(150)，其设置用于至少将所述第一测量光束(111')聚焦到第一测量区(161)，所述光学装置还设置用于至少将所述第二测量光束(112')聚焦到第二测量区(162)，其中，所述光学装置的特征在于关于所述第一测量光束(111')的第一数值孔径和关于所述第二测量光束(112')的第二数值孔径，其中，所述第一数值孔径和所述第二数值孔径设置用以在参考速度下检测预定的最小颗粒尺寸，其中，所述参考速度在包括所述参考速度的0.01m/s与7m/s之间的预定的速度范围内进行选择，其中，所述第一测量光束(111')和所述第二测量光束(112')相互围成10°和160°之间的角度；至少第一检测器(121)，其适用于确定所述第一激光器(111)的第一激光器腔内的第一光波的第一自混合干涉信号；至少第二检测器(122)，其适用于确定所述第二激光器(112)的第二激光器腔内的第二光波的第二自混合干涉信号；分析处理装置(140)，其中，所述分析处理装置(140)适用于接收由至少第一检测器(121)和第二检测器(122)响应于所确定的自混合干涉信号而产生的检测信号，其中，所述分析处理装置(140)还适用于通过在预定的时间段内接收到的检测信号来确定由所述第一检测器(121)检测到的颗粒的至少第一平均速度和由所述第二检测器(122)检测到的颗粒的至少第二平均速度，其中，所述分析处理装置(140)还适用于基于由所述第一检测器(121)在预定的时间段内提供的检测信号来确定颗粒的至少第一数量并且基于由所述第二检测器(122)在预定的时间段内提供的检测信号来确定颗粒的至少第二数量，其中，所述分析处理装置(140)还适用于基于平均颗粒速度来确定颗粒密度，所述平均颗粒速度至少通过所述第一平均速度和所述第二平均速度、所述颗粒的至少第一数量和所述颗粒的至少第二数量来确定。本发明还涉及一种颗粒密度检测的方法和一种相应的计算机程序产品。本发明还涉及一种包括这样的激光传感器模块(100)的移动通信装置(190)。
- 光学颗粒传感器模块
- [发明专利]用于颗粒密度探测的激光传感器模块-CN201780085999.6有效
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J·H·M·斯普鲁伊特;A·M·范德莱;J·W·海尔米格;R·E·T·古德;P·T·于特;R·奥温克
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通快光电器件有限公司
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2017-12-01
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2022-03-04
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G01N15/14
- 本发明描述一种激光传感器模块。所述激光传感器模块包括：至少第一激光器(111)，其适于发射第一测量光束(111')；光学装置(150)，所述光学装置被布置用于至少将所述第一测量光束(111')聚焦到第一测量体积(161)，其中，所述光学装置的特征在于相对于所述第一测量光束(111')的第一数值孔径；至少第一探测器(121)，其适于确定所述第一激光器(111)的第一激光腔内的第一光波的第一自混合干涉信号；评估器(140)，其中，所述评估器(140)适于接收由至少所述第一探测器(121)响应于所确定的第一自混合干涉信号而生成的探测信号，所述评估器(140)还适于基于由所述颗粒生成的第一自混合干涉信号的持续时间来确定在预先确定的时间段内通过所述第一测量体积(161)的颗粒的平均渡越时间，其中，所述评估器(140)还适于在所述预先确定的时间段中基于所述第一自混合干涉信号来确定颗粒数目，其中，所述评估器(140)还适于基于所述平均渡越时间和所述颗粒数目确定第一颗粒密度。本发明还涉及一种颗粒密度探测方法和相应的计算机程序产品。本发明还涉及一种包括这种激光传感器模块(100)的移动通信设备(190)。
- 用于颗粒密度探测激光传感器模块
- [发明专利]用于超细颗粒尺寸检测的激光传感器-CN201780019037.0有效
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J·H·M·斯普鲁伊特;A·M·范德莱;P·T·于特;C·R·龙达;P·德格拉夫;H·门希;J·W·海尔米格
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通快光电器件有限公司
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2017-03-21
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2021-09-28
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G01N15/02
- 本发明描述了一种用于检测超细颗粒(10)的激光传感器模块(100)，所述超细颗粒具有300nm或更小、更优选200nm或更小、最优选100nm或更小的颗粒尺寸，所述激光传感器模块(100)包括：‑至少一个激光器(110)，其适于对由至少一个电驱动器(130)提供的信号做出反应而将激光发射到至少一个聚焦区域；‑至少一个检测器(120)，其适于确定所述至少一个激光器(110)的激光腔内的光波的自混合干涉信号，其中，所述自混合干涉信号是由重新进入所述激光腔的反射激光引起的，所述反射激光是由接收所述激光的至少部分的颗粒反射的；‑所述激光传感器模块(100)被布置为执行至少一次自混合干涉测量；‑所述激光传感器模块(100)适于借助于基于所述至少一次自混合干涉测量而确定的至少一个测量结果来确定具有第一灵敏度的第一颗粒尺寸分布，所述激光传感器模块还适于确定具有第二灵敏度的第二颗粒尺寸分布函数，所述第二灵敏度不同于所述第一灵敏度；‑至少一个评价器(140)，其适于通过从所述第一颗粒尺寸分布函数中减去与校准因子q相乘的所述第二颗粒尺寸分布函数来确定300nm或更小的颗粒尺寸的颗粒度量。本发明还描述了对应的方法和计算机程序产品。本发明实现了能够检测具有100nm或者甚至更小的尺寸的颗粒的、基于激光自混合干涉的简单并且低成本的颗粒检测模块或颗粒检测器。
- 用于颗粒尺寸检测激光传感器
- [发明专利]具有减小的构建高度的激光器布置结构-CN201980047474.2在审
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P·T·于特;P·J·H·布洛曼;S·格罗嫩博恩
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通快光电器件有限公司
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2019-07-09
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2021-03-16
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H01S5/00
- 本发明描述了激光器布置结构(100)，所述激光器布置结构包括激光器阵列和光学布置结构，其中，激光器阵列包括以第一规则图案布置的多个激光器(130)，其中，每个激光器(130)被布置为能够发射在垂直于第一光轴的至少一个方向上围绕第一光轴相对于第一光轴具有发散角θ/2的相同的激光发射轮廓，其中，光学布置结构包括扩散器(140)，其中，扩散器(140)包括以第二规则图案布置的光学元件(21)的阵列，其中，每个光学元件(21)包括第二光轴，其中，每个光学元件(21)被布置为如果通过相应的光学元件(21)的每个表面元件在限定的角度范围内接收到激光(10)，则能够提供在限定的视场(160)中的参考平面中沿着至少一个第一照明轴线(33)的限定照明图案，其中，所述限定的角度范围小于或等于相对于第二光轴在‑θ至+θ之间的角度范围、优选地在‑θ/2至+θ/2之间的角度范围，其中，激光器(130)和光学元件(21)相对于彼此布置为使得扩散器(140)将从激光器(130)接收的激光(10)变换为变换的光(150)，其中，变换的光(150)在所述限定的视场(160)中的所述参考平面中沿着第一照明轴线(33)的发射特性的特征在于具有与所述限定照明图案相同的特性。本发明进一步描述了一种包括这样的激光器布置结构(100)的照明装置以及包括这样的激光器布置结构(100)或照明装置的飞行时间相机(200)。本发明最后描述了一种制造激光器布置结构(100)的方法。
- 具有减小构建高度激光器布置结构
- [发明专利]光学扫描装置-CN02813158.4无效
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P·T·于特
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皇家菲利浦电子有限公司
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2002-06-26
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2004-08-18
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G11B7/135
- 一光学扫描装置(1)包括：一辐射源(4)，它提供一辐射束(8)；一透镜系统(5)，它将所述辐射束转变成在所述信息层位置内的一扫描光点(14)；一检测系统(6)，它包括一象限检测器(20)、用于产生第一彗形象差量(W31a)以便将所述辐射束转变成第一象散辐射束(21)的象散发生元件(18)以及用来产生第二彗形象差量(W31b)以补偿所述第一彗形象差量的彗形象差校正元件(19)。所述彗形象差校正元件(19)包括一具有某个形状的校正面(19A)，所述形状由包括项“A.r3.cos(θ)”的函数“H(r，θ)”限定，其中，“H”为所述校正面沿所述透镜系统的光轴的位置，“r”和“θ”表示在所述第一象散辐射束的横截面内的极坐标，而“A”表示取决于所述第二彗形象差量的第一常数。
- 光学扫描装置
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