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[发明专利]全光学的、相位灵敏的光信号采样法-CN201080007126.1有效
发明人： M·韦斯特伦德;M·斯克尔德;H·桑那拉德;P·安德里克森;B·吕谢 -专利权人：爱斯福公司
申请日： 2010-02-23 - 公布日： 2012-01-04 - 主分类号： H04B10/148 文献下载
摘要：一种光学采样用于对光学输入信号的时变电场进行高速测量的光学采样安排利用了该光学输入信号与一个参考激光源在相位互异的光学混合器解决方案中进行的相干混合，随后进行的是在该光学混合器的输出端处对这些相干混合场的光学采样。然后对所产生的光学样本流进行检测和信号处理，以便重构原始光学输入信号的电场的一个被采样的版本。
光学相位灵敏信号采样

[发明专利]全光学平衡式检测系统-CN200980135355.9有效
发明人： M·韦斯特伦德;P·安德里克森;H·桑那拉德;M·斯克尔德 -专利权人：爱斯福公司
申请日： 2009-09-17 - 公布日： 2011-08-10 - 主分类号： H04B10/12 文献下载
摘要：已经设计了一种双门采样系统用于对一个或多个输入信号对进行采样的平衡式检测。本发明对每个信号对中的两个信号进行同时的采样，随后使用软件将这些样本对进行数字化和组合。通过首先对这些信号进行采样并且然后将所采样的信号组合成为相应的平衡式检测信号，这有可能避免由传统的平衡式检测器与电学示波器引入的带宽限制和阻抗问题。具体地讲，对于光学采样门可以设计出非常高带宽的采样门而没有任何阻抗问题，并且因此可以对非常高速的信号进行近乎完美的平衡式检测重构。随着新的相位调制的光学数据信号被引入市场(如PSK、DPSK、QPSK以及DQPSK)，平衡式检测变得越来越重要。本发明非常适合用于这些新类型信号的分析。
光学平衡检测系统