专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]测试表面粒子污染的粒子测试系统、采样条、投射曝光设备和方法-CN202180028836.0在审
  • M.席林;M.鲁斯;M.纳格尔 - 卡尔蔡司SMT有限责任公司
  • 2021-02-15 - 2022-11-29 - G03F7/20
  • 本发明涉及用于测试表面(2)上的粒子污染的粒子测试系统(1),包括用于接收粒子(5)的采样带(7)和采样装置(3)。采样装置(3)包括辊体(9),该辊体(9)设置成在辊体的外表面(10)上引导采样带(7)。采样装置(3)被设计用于将辊体(9)与采样带(7)一起在待测试的表面(2)上滚动,以便将粒子(5)从待测试的表面(2)转移到所述采样带(7)。采样装置(3)具有引导框(22)以便将采样装置(3)在所述待检查的表面(2)上或相邻于所述待检查的表面(2)定位。引导框(22)具有至少一个接触接口(24、25),通过至少一个接触接口(24、25),引导框(22)搁置在待检查的表面(2)上或另一表面上。根据本发明,采样装置(3)具有第一测量装置(16)和/或第二测量装置(19)。第一测量装置(16)被设计用于检测辊体(9)的任何转动运动。第二测量装置(19)被设计用于检测辊体(9)在待检查的表面(2)上的任何接触压力。
  • 测试表面粒子污染系统采样投射曝光设备方法

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