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[发明专利]用于制造分析消耗品的方法-CN201080012648.0无效
发明人： W·施沃贝尔;J·德雷布霍尔茨 -专利权人：霍夫曼-拉罗奇有限公司
申请日： 2010-03-09 - 公布日： 2012-02-08 - 主分类号： G01N35/00 文献下载
摘要：本发明提出了一种用于制造分析消耗品(112)的方法。该分析消耗品(112)包括至少一个载体(116)和至少一个与载体(116)相连的分析辅助物(118)。将至少一种光敏材料(128)施加到载体(116)上，布置所述光敏材料(128)，以便在电磁辐射(146)作用下实施至少一个光学可检测的变化。在至少一个编码步骤中，将至少一个关于分析消耗品(112)的功能信息(150)借助电磁辐射(146)引入到光敏材料(128)中。布置该功能信息(150)，以便使得至少一个分析仪器正确使用分析消耗品(112)成为可能。
用于制造分析消耗品方法

[发明专利]具有接触面涂覆了硬材料的测试元件分析系统-CN200580007852.2无效
发明人： J·德雷布霍尔茨;S·里贝尔;M·奥古斯泰因 -专利权人：霍夫曼－拉罗奇有限公司
申请日： 2005-03-08 - 公布日： 2008-02-13 - 主分类号： G01N33/487 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于试样，尤其是体液的分析检验的测试元件分析系统，包括至少一个测试元件，其具有位于测试元件上的一个或多个测量区和接触面，尤其是电极或导体线路，要检验的试样被置于测量区中进行分析，以便确定特征性的测量的量，用于所述分析，和具有用于将测试元件定位在测量位置上的测试元件保持架的评估仪器，和用于测量所述特征性的变化的测量装置，测试元件保持架包含具有接触面的接触元件，其能够在测试元件的接触面和测试元件保持架的接触面之间产生电接触，其特征在于，这些接触面中的一个接触面具有导电的硬材料表面。按照本发明的技术方案包括尤其是具有导电的硬材料的测试元件分析器的接触连接的接触面的涂层。
具有接触面材料测试元件分析系统