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[发明专利]基于可伸展元件对受测电子装置进行热调节-CN202080044131.3在审
发明人：法布里齐奥·斯考克彻缇 -专利权人： ELES半导体设备股份公司
申请日： 2020-05-15 - 公布日： 2022-02-25 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本公开提出一种热调节装置(100)，其中使工艺导热流体(110)在多个可伸展元件(105)中循环；调节所述工艺导热流体(110)的压力来伸长所述可伸展元件(105)，以使得所述可伸展元件压靠在相应的受测电子装置(205)上以对所述受测电子装置进行热调节。本公开还提出一种包括此热调节装置(100)的测试设备(200)。此外，本公开提出一种相应的用于对受测电子装置(105)进行热调节的方法及一种相应的用于测试电子装置(205)的方法。
基于伸展元件电子装置进行调节

[发明专利]基于磁锁定、利用不带插座的板对电子器件的测试-CN200980126119.0无效
发明人： F·斯科海蒂 -专利权人： ELES半导体设备股份公司
申请日： 2009-06-03 - 公布日： 2011-06-08 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：提出了一种用于测试电子器件(105；105’)的方案；每个电子器件具有用于电接触该电子器件的多个端子(115；115’)。对应的测试系统(120、145；120’、145’)包括一组测试板(120；120’)；每个测试板都配备有多个导电插孔(135；135’)的排(127；127’)，每个导电插孔用于放置一个对应的电子器件(每个插孔适于接纳对应电子器件的端子)。提供锁定装置(140、145；140’、145’)以便将电子器件机械地锁定到测试板上。该锁定装置包括适于无约束地放到电子器件上、用于例如由固定到测试板下面的对应磁性盘所施加的吸引力将电子器件压向测试板的无约束装置(145；145’)，例如铁磁性盘。
基于锁定利用插座电子器件测试

[发明专利]用于接触电子设备的系统及其生产方法-CN200480044669.5无效
发明人：马尔科·巴卢坎尼 -专利权人： ELES半导体设备股份公司;上升技术有限责任公司
申请日： 2004-12-21 - 公布日： 2008-04-02 - 主分类号： H01R13/24 文献下载
摘要：提出了用于接触至少一个含许多触点元件的电子设备的系统(100)。所述系统包含具有主表面(105m)的基板(105)，和多个自主表面延伸的触点终端(110)，其中每个触点终端包含聚合物材料的核(125)和围绕核的传导材料的覆盖层(115、120、130、135)，所述覆盖层具有与主表面分离的操作部分(210bs、410e、420v)，其用于电连接相应触点元件和在主表面和操作部分之间延伸的侧部分(2101、4101、4201)。在提出的结构中，侧部分与主表面形成了45°－75°的角。
用于接触电子设备系统及其生产方法