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[发明专利]一种全金属气体微流量计-CN201210451846.8无效
发明人：张瑞芳;李得天;赵澜;冯焱;习振华;魏万印 -专利权人：中国航天科技集团公司第五研究院第五一〇研究所
申请日： 2012-11-12 - 公布日： 2013-02-20 - 主分类号： G01F1/38 文献下载
摘要：本发明公开了一种全金属气体微流量计，属于测量领域。所述微流量计包括：第一真空阀门、绝压式压力计、第二真空阀门、第一定容室、隔断阀门、平动机构、波纹管、第三真空阀门、第二定容室、固定流导小孔、供气系统、抽气系统、第四真空阀门、差压式压力计、变容室、第五真空阀门、第六真空阀门；外围设备包括校准室和加热装置。所述微流量计中大部分组件采用不锈钢材料，有利于流量计的除气，减小了气体流量计器壁的放气，有效地延伸了气体流量计产生的流量下限；且使得所述微流量计结构简单、体积小、重量轻，同时降低了成本。
一种全金属气体流量计

[发明专利]一种电子辐照下介质材料表面电荷密度的测试方法-CN201210484898.5无效
发明人：汤道坦;李得天;李存惠;秦晓刚;柳青;杨生胜 -专利权人：中国航天科技集团公司第五研究院第五一〇研究所
申请日： 2012-11-25 - 公布日： 2013-02-20 - 主分类号： G01R29/24 文献下载
摘要：本发明涉及一种电子辐照下介质材料表面电荷密度的测试方法，属于测试领域。所述方法步骤包括静电电容探头的标度，将介质样品材料放置在支撑架上表面，开启抽真空系统抽真空，开启电子枪模拟静止地球轨道（GEO）电子环境，对介质样品材料进行辐照；利用三维传动机构对介质样品材料表面进行扫描测量，通过高阻计和静电电容探头得到介质样品材料表面的电位分布；结合静电电容原理，利用静电电容探头测量电压与介质样品材料表面电荷之间的关系式，计算出介质样品材料的表面电荷分布。所述方法能够拟合得出静电电容的灵敏度和施加电压的线性关系，消除了电子辐照效应，使其适应与电子辐照环境下的测试工作。
一种电子辐照介质材料表面电荷密度测试方法

[发明专利]一种减小电子激励脱附中性粒子误差的极高真空测量方法-CN201210490416.7有效
发明人：习振华;李得天;冯焱;成永军;马奔;刘珈彤 -专利权人：中国航天科技集团公司第五研究院第五一〇研究所
申请日： 2012-11-27 - 公布日： 2013-02-13 - 主分类号： G01L21/30 文献下载
摘要：本发明公开了一种减小电子激励脱附中性粒子误差的极高真空测量方法，属于测量领域。所述方法采用的装置包括：真空阀门、电离规、真空室、真空泵组和四极质谱计；其中，真空阀门、电离规、真空泵组、四极质谱计分别与真空室相连；所述四极质谱计为离子源与四极杆之间装有能量分析器的可分离电子激励脱附离子与气相离子的四极质谱计；所述真空阀门为全金属结构；所述电离规的测量下限为10-10Pa量级。所述方法解决了全压力测量中分离规等能够有效分离ESD离子及气相离子，但不能区分气相离子中掺杂的ESD中性粒子产生离子的问题；减小了极高真空测量的误差，延伸了准确测量的下限。
一种减小电子激励中性粒子误差极高真空测量方法

[发明专利]一种碳纳米管场发射阴极的制备方法-CN201110396380.1有效
发明人： 李得天;成永军;冯焱;蔡敏 -专利权人：中国航天科技集团公司第五研究院第五一〇研究所
申请日： 2011-12-04 - 公布日： 2012-03-21 - 主分类号： H01J9/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种碳纳米管场发射阴极的制备方法，属于纳米材料制备与应用领域。本发明采用二次阳极氧化法制备多孔阳极氧化铝模板，在氯化镍或氯化钴溶液中浸泡后，取出晾干，得到模板2；用化学气相沉积法在模板2的孔洞中制备碳纳米管，得到模板3；在模板3没有沉积碳纳米管的一面滴加磷酸溶液，得到模板4；在不锈钢基底上蒸发一层银浆层后将模板4生长碳纳米管的一面粘贴到银浆层上；得到本发明所述的一种碳纳米管场发射阴极；本发明在制备多孔阳极氧化铝模板的后期采用降压法，可以减小多孔阳极氧化铝模板底部的孔洞直径，从而提高碳纳米管的长径比，提高碳纳米管冷阴极的场发射特性。
一种纳米发射阴极制备方法

[发明专利]一种基于静态膨胀法真空标准的极小气体流量测量装置-CN201010523143.2有效
发明人： 李得天;成永军;冯焱;徐婕;郭美如 -专利权人：中国航天科技集团公司第五研究院第五一○研究所
申请日： 2010-10-26 - 公布日： 2011-05-11 - 主分类号： G01F1/34 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于静态膨胀法真空标准的极小气体流量测量装置，包括前级压力测量系统、阀门一、气体压力衰减系统、阀门二、校准室、阀门三、小孔、阀门四、阀门五、吸气剂泵、阀门六、分子泵、前级泵及电离规组成，前级压力测量系统通过阀门一与气体压力衰减系统连接，气体压力衰减系统通过阀门二与校准室连接，小孔与阀门四并联后一端通过阀门三和校准室相连，一端和真空系统相连，吸气剂泵通过阀门五和校准室相连，前级泵和分子泵串连后通过阀门六和校准室连接，电离规直接连接在校准室上。本发明用静态膨胀法真空标准产生的气体压力代替固定流导法气体流量计的充入气体压力，从而进一步提高气体流量的测量精度。
一种基于静态膨胀真空标准极小气体流量测量装置

[发明专利]一种测量极小气体流量的方法-CN201010523091.9有效
发明人： 李得天;成永军;冯焱;郭美如;徐婕 -专利权人：中国航天科技集团公司第五研究院第五一○研究所
申请日： 2010-10-26 - 公布日： 2011-05-04 - 主分类号： G01F1/34 文献下载
摘要：本发明涉及一种测量极小气体流量的方法，包括以下步骤：(1)对稳压室及连接真空管道抽气；(2)对装置整体进行烘烤除气；(3)利用吸气剂泵使稳压室内达到10-6Pa数量级的极限真空；(4)控制稳压室内的压力缓慢上升；(5)给稳压室内充入一定压力的惰性气体；得到气体的压力；(6)将稳压室内的惰性气体通过小孔引入到真空系统中；(7)通过气体的压力和小孔的流导得到气体的流量。本发明所述方法可以充分利用“一种测量极小气体流量的装置”的特性，完全避免了稳压室及管道内壁放气引起的测量不确定度，保证了测量下限的有效延伸，使得流量值小于1×10-8Pa.m3/s的极小气体流量能够精确测量。
一种测量极小气体流量方法

[发明专利]一种测量极小气体流量的装置-CN201010523076.4在审
发明人： 李得天;成永军;冯焱;郭美如;徐婕 -专利权人：中国航天科技集团公司第五研究院第五一○研究所
申请日： 2010-10-26 - 公布日： 2011-03-30 - 主分类号： G01F1/68 文献下载
摘要：本发明涉及一种测量极小气体流量的装置，包括气瓶、微调阀、稳压室、四个阀门、吸气剂泵、分子泵、前级泵、电容薄膜规、磁悬浮转子规以及小孔，其中：气瓶通过微调阀与稳压室连接，小孔与阀门二并联后一端通过阀门一和稳压室相连，一端和真空系统相连，吸气剂泵通过阀门三和稳压室相连，前级泵和分子泵串连后通过阀门四和稳压室连接，电容薄膜规和磁悬浮转子规直接连接在稳压室的器壁上。本发明采用吸气剂泵对稳压室及其真空管道进行抽气，完全避免了稳压室及管道内壁放气引起的测量不确定度，保证了测量下限的有效延伸，使得流量值小于1×10-8Pa.m3/s的极小气体流量能够精确测量。
一种测量极小气体流量装置

[发明专利]一种基于静态膨胀法真空标准的极小气体流量测量方法-CN201010523159.3有效
发明人： 李得天;成永军;冯焱;徐婕;郭美如 -专利权人：中国航天科技集团公司第五研究院第五一○研究所
申请日： 2010-10-26 - 公布日： 2011-03-30 - 主分类号： G01F1/34 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于静态膨胀法真空标准的极小气体流量测量方法，包括以下步骤：(1)对校准室及连接真空管道抽气；(2)对装置整体进行烘烤除气；(3)控制校准室内达到10-9Pa数量级的极限真空；(4)使校准室内的压力缓慢上升；(5)给静态膨胀法真空标准的前级充入一定压力的高纯气体；(6)将校准室内的气体通过小孔引入到真空系统中；(7)根据小孔的流导和气体压力衰减系统内的压力得到气体流量。本发明所述方法用静态膨胀法真空标准产生的气体压力代替固定流导法气体流量计的充入气体压力，这样避免用电容薄膜规或磁悬浮转子规测量压力，从而进一步提高气体流量的测量精度。
一种基于静态膨胀真空标准极小气体流量测量方法

[发明专利]一种小型磁偏转质谱计磁分析器-CN201010186033.1无效
发明人：郭美如;李得天;赵以德;肖玉华;郭文瑾;王亮;岳瑞 -专利权人：中国航天科技集团公司第五研究院第五一〇研究所
申请日： 2010-05-28 - 公布日： 2010-12-22 - 主分类号： G01N27/64 文献下载
摘要：本发明涉及一种小型磁偏转质谱计磁分析器，包括磁铁、轭铁、极靴和飞行管道；轭铁和极靴均采用软磁性材料，轭铁包括上壁、下壁和外壁，其上壁和下壁为缺口扇形，外壁连接上壁和下壁的弧形边缘，以减小边缘磁场效应；轭铁上壁、下壁的内表面分别粘接一块磁铁，磁铁设置有和上壁、下壁同样的缺口；磁铁的另一面粘接于与磁铁形状相同的极靴上，以提高空气间隙中的磁场均匀度；轭铁、磁铁连同极靴套装于飞行管道外部；飞行管道设有离子偏转半径为90°的两个离子出口。本发明由于采用双通道90°扇形磁分析器，因而极大减小了质谱计的质量与功耗，同时在很大程度上减小了由加速电压大幅度变化引起的质量歧视。
一种小型偏转质谱计磁分析器

[发明专利]一种小孔流导的测量方法-CN200910259318.0有效
发明人： 李得天;冯焱;成永军;张涤新;郭美如 -专利权人：中国航天科技集团公司第五研究院第五一○研究所
申请日： 2009-12-17 - 公布日： 2010-12-01 - 主分类号： G01M10/00 文献下载
摘要：本发明的一种小孔流导的测量方法，特别是流导值小于5×10-9m3/s且为分子流状态下的小孔流导的测量方法，属于测量技术领域。实现该方法的装置由活塞、绝对式压力计、真空阀门、变容室、小孔、真空室、高真空规、真空泵和气瓶组成。本发明测量结束时变容室压力维持在初始压力值，提高了小孔流导测量值的准确性；通过测量活塞的横截面积和移动距离来计算小孔流导，使测量下限可以达到2×10-9m3/s及以下，同时具有较小的测量不确定度；具有较短的测量时间，提高了工作效率。
一种小孔测量方法

[发明专利]一种小型磁偏转质谱计-CN201010186029.5有效
发明人： 李得天;郭美如;肖玉华;赵以德;王亮;岳瑞;郭文瑾 -专利权人：中国航天科技集团公司第五研究院第五一〇研究所
申请日： 2010-05-28 - 公布日： 2010-10-20 - 主分类号： G01N27/64 文献下载
摘要：本发明涉及一种小型磁偏转质谱计，包括离子源、离子源真空室、磁分析器、飞行管道、接收器、接收器真空室，离子源安置在离子源真空室内，飞行管道入口端与离子源真空室相连，飞行管道设置两个出口端，分别连接到两个接收器真空室，磁分析器套在飞行管道外部，接收器安置在接收器真空室内。本发明由于采用双通道90°扇形磁分析器，因而极大减小了质谱计的质量与功耗，便于控制电路的制作，减小了由加速电压大幅度变化引起的质量歧视。
一种小型偏转质谱计

[发明专利]一种小型磁偏转质谱计离子源-CN201010186030.8有效
发明人：郭美如;李得天;赵以德;郭文瑾;肖玉华;王亮;岳瑞 -专利权人：中国航天科技集团公司第五研究院第五一〇研究所
申请日： 2010-05-28 - 公布日： 2010-10-20 - 主分类号： H01J49/10 文献下载
摘要：本发明涉及一种小型磁偏转质谱计离子源，包括气体样品入口，电离室，灯丝，发射电极，收集电极，永久磁铁，聚焦电极，加速电极，引出狭缝，电离室一端与气体样品入口相连，在另一端设置有离子出口；电离室内部设置有灯丝，两端分别设置发射电极和收集电极；电离室置于永久磁铁形成的磁场中，在电离室出口处依次设置有聚焦电极，加速电极和引出狭缝。本发明与现有技术相比的优点在于：在已有离子源的基础上，将离子光学引出、聚焦系统简化，去除了α缝、β缝，缩短了离子的引出距离，从而减小了离子源的质量和体积。
一种小型偏转质谱计离子源

[发明专利]一种测量恒压式正压漏孔校准装置变容室容积的方法-CN200910259325.0有效
发明人：冯焱;李得天;赵澜;张涤新;盛学民;李正海 -专利权人：中国航天科技集团公司第五研究院第五一○研究所
申请日： 2009-12-17 - 公布日： 2010-06-02 - 主分类号： G01F25/00 文献下载
摘要：本发明的一种测量恒压式正压漏孔校准装置变容室容积的方法，特别涉及一种内置法测量恒压式正压漏孔校准装置变容室容积的方法，属于真空计量技术领域。将一个外接容器与变容室相连，外接容器与变容室抽真空本底，向变容室中通入气体，而后膨胀到外接容器并平衡，向变容室中通入气体，而后膨胀到外接容器并平衡，完成对内置法测量恒压式正压漏孔校准装置变容室容积的方法。本发明方法采用等温膨胀技术，在工作环境下，将变容室容积的测量标准转化为可以精确测量的圆柱体容积，提高测量精度；测量过程中避免了使用水介质传递测量。
一种测量恒压式正压漏孔校准装置变容室容积方法

[发明专利]一种分流式真空漏孔校准的装置及方法-CN200910259319.5有效
发明人： 李得天;成永军;郭美如 -专利权人：中国航天科技集团公司第五研究院第五一○研究所
申请日： 2009-12-17 - 公布日： 2010-05-26 - 主分类号： G01M3/26 文献下载
摘要：本发明的一种分流式真空漏孔校准的装置及方法，特别是采用分流技术实现漏率值小于1×10-8Pa.m3/s的真空漏孔校准的装置及方法，属于测量技术领域。该装置由被校漏孔、阀门、电离规、小孔、分流室、非蒸散型吸气剂泵、极高真空校准室、限流孔、极高真空抽气室、无油双涡轮分子泵抽气机组、四极质谱计、流量计、超高真空校准室、限流孔、超高真空抽气室、普通分子泵抽气机组组成。该方法采用固定流导法气体微流量计提供已知气体流量，流量测量范围宽，测量不确定度小；采用流量分流法校准真空漏孔，完全避免了四极质谱计的非线性误差，使得漏率值小于1×10-8Pa.m3/s的真空漏孔能够精确校准。
一种分流真空漏孔校准装置方法

[发明专利]一种用线性真空计测量真空容器容积比的装置及方法-CN200910259326.5有效
发明人： 李得天;徐婕;张涤新;冯焱;郭美如;魏万印 -专利权人：中国航天科技集团公司第五研究院第五一○研究所
申请日： 2009-12-17 - 公布日： 2010-05-19 - 主分类号： G01F17/00 文献下载
摘要：本发明的一种用线性真空计测量真空容器容积比的装置及方法，属于测量技术领域。该装置包括稳压室，真空阀门、容器、真空计、气瓶、真空泵；抽真空；气体流入真空容器；用真空计测量真空压力。本发明用线性真空计测量真空容器容积比的装置结构简单，由于只使用一台线性真空计，引起测量不确定度的分量也就少；测量真空度的线性真空计，不要求其测量绝对压力，也就不必知道其校准系数，从而避免了由于校准引入的不确定度；测量真空容器容积比的方法简单，测量成本低，测量不确定度小。
一种线性真空计测量真空容器容积装置方法

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