专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种数控抛光用气封抽液非接触式喷液磨头-CN200810050506.8无效
  • 巩岩;张巍 - 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 2008-03-18 - 2008-08-20 - B24B13/00
  • 一种数控抛光用气封抽液非接触式喷液磨头,属于光学冷加工技术领域中涉及的喷液磨头。要解决的技术问题是:提供一种数控抛光用气封抽液非接触式喷液磨头。解决的技术方案包括空心磨头、抛光液出孔、收集盘连接架、抛光液收集盘、进气孔、气帘槽、抽液孔、集液槽等;抛光液收集盘通过收集盘连接架与磨头轴套固连,套装于空心磨头上;抛光液收集盘的第一进气孔和第一气帘槽相通,第一气帘槽与空心磨头和抛光液收集盘之间的空隙相通;抛光液收集盘的第二进气孔和第二气帘槽相通,第二气帘槽与抛光液收集盘下工作面相通;抛光液收集盘下工作面上带有集液槽,集液槽上的抽液孔与抛光液收集盘外部的空间相通;抛光液出孔分布于空心磨头的工作面上。
  • 一种数控抛光用气封抽液非接触式喷液磨头
  • [发明专利]一种连续扫描荧光成像文检仪-CN200510017203.2无效
  • 巩岩 - 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 2005-10-21 - 2007-01-17 - G01N21/64
  • 一种连续扫描荧光成像文检仪属于荧光光谱分析技术领域中涉及的用于无损检验方面的荧光检测仪器。要解决的技术问题是提供一种连续扫描荧光成像文检仪,解决的技术方案包括紫外光源、紫外单色仪、被检样品、样品台、驱动电机、滤光片转盘及转盘轴、滤光片、相机。紫外光源经紫外单色仪实现连续扫描分光,在紫外单色仪出射狭缝的下方适当位置放置样品台,被检样品置于样品台上,在被检样品荧光反射光路上,置滤光片转盘,在滤光片转盘的工作面上开有若干个孔,用于安装不同中心波长的滤光片,在滤光片后安装相机,由相机获得被检样品的不同波段的荧光图象。该图像中含有丰富的被检样品的特征信息,可供有关部门对被检样品真伪进行鉴别。
  • 一种连续扫描荧光成像文检仪
  • [发明专利]一种小型动态星光模拟器的光学系统-CN200510017204.7无效
  • 巩岩 - 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 2005-10-21 - 2007-01-17 - G02B27/00
  • 一种小型动态星光模拟器的光学系统,属于空间探测技术领域中涉及的一种星模拟器的光学系统。本发明要解决的技术问题是:提供一种小型动态星光模拟器的光学系统。解决的技术方案包括光源、照明光学透镜、数字微晶片(DMD)、准直物镜组。在水平光路的光轴上,安置数字微晶片(DMD)和准直物镜组,数字微晶片(DMD)的反射面朝向准直物镜组,并位于准直物镜组的焦面上;光源和照明光学透镜所构成的光路光轴与水平光路光轴成一定角度,其延长线通过数字微晶片(DMD)的中心,光源经照明光学透镜发出的光均匀照明数字微晶片(DMD),再经数字微晶片(DMD)反射后沿水平光轴,由准直物镜组以平行光发出。该光学系统结构简单,仪器的体积小、重量轻,使用方便。
  • 一种小型动态星光模拟器光学系统
  • [发明专利]一种掠出射荧光在线测量光学多层膜厚度的装置-CN200410010637.5无效
  • 巩岩 - 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 2004-01-10 - 2005-07-20 - G01M11/00
  • 一种掠出射荧光在线测量光学多层膜厚度的装置,属于光学测试技术领域中涉及的一种膜厚测量装置,要解决的技术问题是:提供一种掠出射荧光在线测量光学多层膜厚度的装置,解决的技术方案:包括高压电源、X光管、聚光透镜、被测光学多层膜、多层膜基片、工作转台、氩气入口、阴极靶、双狭缝、分光元件、探测器、真空腔体、抽气口。在真空腔体内,在X光管发出的光的传播方向上,依次装置聚光透镜、被测光学多层膜、双狭缝、分光元件、探测器;多层膜基片置于工作转台上,阴极靶与高压电源连接。X光管发出的X光,经聚光透镜聚焦在多层膜的表面上,荧光以小于2°的掠出射角出射,经双狭缝、分光元件后射向探测器,实现多层膜厚度在线测量。
  • 一种掠出射荧光在线测量光学多层厚度装置
  • [发明专利]一种掠发射X射线荧光分析用样品制备装置-CN02109015.7无效
  • 巩岩;陈波 - 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 2002-01-07 - 2004-09-15 - G01N1/28
  • 一种掠发射X射线荧光分析用样品制备装置,属于X射线荧光分析应用技术领域中的一种荧光分析用样品的制备装置。本发明要解决的技术问题是:使被待测分析物质产生高温等离子体,高速喷发沉积在透明待测物载物片上,形成待测样品,解决技术问题的技术方案是:采用脉冲宽度足够窄的激光器作光源,选择非球面聚光镜聚焦激光能量,待测物的载台沿光轴方向可调,待测物的所在环境为真空室。该装置是由窄脉宽激光光源、聚光镜、样品盒、调整鼓轮、螺纹副、待测物载台、待测物、透明待测物载物片、真空室等部分组成的。该装置制备分析样品工艺过程简单、快捷、样品纯度高、质量好,适于X射线荧光分析。
  • 一种发射射线荧光分析样品制备装置

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