专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种道路施工测量用的锚杆拉拔仪-CN202320818807.0有效
  • 王文强;齐国健;盖宏磊;张显;张鹏 - 甘肃路桥第三公路工程有限责任公司
  • 2023-04-13 - 2023-07-21 - G01N3/10
  • 本实用新型公开了一种道路施工测量用的锚杆拉拔仪,包括支撑框,所述支撑框的顶部固定连接有操作台,所述支撑框的底部设置有液压伸缩杆,所述支撑框的两侧固定连接有支撑架,所述支撑架的表面设置有加固装置,所述液压伸缩杆的输出端固定连接有牵引绳,所述牵引绳的端部固定连接有固定环,所述固定环套接有夹持装置,本实用新型涉及建筑质量检测设备技术领域。该一种道路施工测量用的锚杆拉拔仪,达到了利用夹持装置,快速对不同规格的锚杆进行夹持固定,然后液压伸缩杆工作,通过牵引绳带动夹持装置运动,即可对锚杆进行拉拔牵引,进而进行测试,支撑框的两侧设置支加固装置,便于对地面进行加固,提高整体稳定性,满足使用需求的目的。
  • 一种道路施工测量拉拔
  • [发明专利]一种芯片切割后处理方法-CN202210321794.6在审
  • 徐盼盼;闫宝华;齐国健;李法健 - 山东浪潮华光光电子股份有限公司
  • 2022-03-25 - 2022-06-24 - H01L33/00
  • 本发明公开一种芯片切割后处理方法,包括如下步骤:(1)将电极面贴覆了白膜的芯片沿着电极面垂直方向及平行方向划片。(2)去除芯片电极面上的白膜,然后在芯片的非电极面贴上白膜,沿着所述非电极面垂直方向及平行方向划片,并保留非电极面上的白膜。(3)沿着芯片的电极面切割道中心对芯片进行垂直方向及平行方向劈裂。(4)清洗劈裂完成的芯片,然后对白膜进行微括处理,完成后对芯片进行倒膜,使芯片非电极面朝向蓝膜粘贴面;然后对芯片进行加热扩膜,即可。本发明的方法解决了切割后芯片崩边、崩角、残胶污染的问题,显著提升了切割良率。同时,该方法无需增加额外设备及材料,易于工业化实现。
  • 一种芯片切割处理方法
  • [发明专利]测试LED芯片参数的方法-CN201910660037.X有效
  • 郑军;李琳琳;齐国健;闫宝华;王成新 - 山东浪潮华光光电子股份有限公司
  • 2019-07-22 - 2022-02-08 - H01L33/00
  • 本发明实施例公开了测试LED芯片参数的方法,包括步骤:S1,对芯片进行半切操作,形成测试点;S2,对芯片进行参数测试,输出芯片参数测试结果及各参数的Mapping图;S3,全切,形成若干颗独立的管芯;S4,扩膜,使所述管芯之间产生间隙;S5,对应Mapping图,划定参数范围,并夹取划定范围内的管芯,放置到铜板上;S6,对管芯逐一进行扎测,输出单颗管芯参数测试结果;S7,将芯片参数测试结果与管芯参数测试结果进行对比,若两测试结果符合差异率标准,测试通过。通过对全切后的管芯进行扎测,将芯片测试参数与管芯扎测参数对比,提高了对芯片测试参数的准确性监控,保证了产品性能参数的准确性,提升产品可靠性。
  • 测试led芯片参数方法
  • [发明专利]一种减小LED芯片切割损失的切割方法-CN201910561911.4有效
  • 郑军;李琳琳;齐国健 - 山东浪潮华光光电子股份有限公司
  • 2019-06-26 - 2021-10-01 - H01L33/00
  • 本发明公开了一种减小LED芯片切割损失的切割方法,本发明首先对芯片P面进行半切,利用测试机进行测试,便于输出芯片的亮度,电压,波长等光电参数;再利用匀胶机对芯片P面涂覆光刻胶,形成掩护膜,再对芯片P面进行曝光显影,腐蚀暴露切割道;再对芯片N面涂覆光刻胶,用于保护N面金属的同时也便于进行后续的干法刻蚀;洗去P面的掩护膜并贴蓝膜,最后洗去N面的胶膜,倒膜,结束切割操作。本发明设计了一种减小LED芯片切割损失的切割方法,利用N面胶膜设计,并配合干法刻蚀,有效避免了芯片切割时发生崩边、飞片等情况,降低了芯片切割损耗,同时也还保证管芯芯粒的出光效率,提高产品良率,具有较高是实用性。
  • 一种减小led芯片切割损失方法
  • [发明专利]一种GaAs基LED芯片的切割方法-CN201510629523.7在审
  • 郑军;李法健;齐国健;刘琦;徐现刚 - 山东浪潮华光光电子股份有限公司
  • 2015-09-29 - 2016-01-06 - H01L33/00
  • 一种GaAs基LED芯片的切割方法,包括如下步骤:(1)P面半切,形成纵横交错的切割槽,将芯片P面电极等间距分隔开;(2)将芯片P电极向下朝向白膜,N电极向上,贴在白膜上;(3)沿P面半切的切割槽进行芯片N面划片,释放芯片N面应力;(4)将划过的芯片进行倒膜,芯片由白膜转移到蓝膜上;(5)在芯片N面用裂片机的劈刀沿划痕进行裂片,芯片被加工成独立的晶粒。本发利用改善后的贴片方法,采用锯片机与激光划片机优势互取的组合切割方法,最大限度释放了芯片P面应力和N面应力,并减小了贴膜时带来的形变应力影响,由此减少了芯片切割后容易出现的崩边、裂管芯现象,提高了芯片切割后的外观质量。
  • 一种gaasled芯片切割方法

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