|
钻瓜专利网为您找到相关结果 12个,建议您 升级VIP下载更多相关专利
- [发明专利]测试LED芯片参数的方法-CN201910660037.X有效
-
郑军;李琳琳;齐国健;闫宝华;王成新
-
山东浪潮华光光电子股份有限公司
-
2019-07-22
-
2022-02-08
-
H01L33/00
- 本发明实施例公开了测试LED芯片参数的方法,包括步骤:S1,对芯片进行半切操作,形成测试点;S2,对芯片进行参数测试,输出芯片参数测试结果及各参数的Mapping图;S3,全切,形成若干颗独立的管芯;S4,扩膜,使所述管芯之间产生间隙;S5,对应Mapping图,划定参数范围,并夹取划定范围内的管芯,放置到铜板上;S6,对管芯逐一进行扎测,输出单颗管芯参数测试结果;S7,将芯片参数测试结果与管芯参数测试结果进行对比,若两测试结果符合差异率标准,测试通过。通过对全切后的管芯进行扎测,将芯片测试参数与管芯扎测参数对比,提高了对芯片测试参数的准确性监控,保证了产品性能参数的准确性,提升产品可靠性。
- 测试led芯片参数方法
|