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- [发明专利]一种密封件、密封装置及精密设备-CN201810442549.4有效
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黎永明;沈景凤;黎纯;杨颖
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上海理工大学
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2018-05-10
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2021-06-18
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F16J15/16
- 根据本发明所涉及的密封件、密封装置及精密设备，密封件包括至少一块呈圆板状基板，以及设置在基板外缘上的边翼件,其中，边翼件为剖面呈锯齿状的圆环，边翼件与基板活动连接，边翼件是可调换的。密封装置包括水平旋转轴；设置在水平旋转轴上的轴承组件；以及两个密封件，其中，轴承组件包括两个轴承，密封件设置在水平旋转轴上且与水平旋转轴同步旋转，两个密封件分别位于两个轴承的外侧，密封件呈板状。因为密封件与水平旋转轴同步旋转，利用离心力的作用将密封件上的油向外甩出，所以，本发明的密封装置具有阻挡油溅出的作用，并适用于各种直径的轴系，而且可做到不接触，适用于高精度轴系，使用寿命长，适用于液压轴系等密封。
- 一种密封件密封装置精密设备
- [发明专利]一种静压半球体轴承轴系及精密机床-CN201711402584.5有效
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黎永明;黎纯;王振华
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上海理工大学
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2017-12-22
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2020-09-01
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B23Q5/04
- 根据本发明所涉及的静压半球体轴承轴系及精密机床，包括至少一个静压半球体轴承和转动轴，静压半球体轴承具有支撑座、容纳组件以及转动件，容纳组件包括容纳件以及多个静压衬套，容纳件具有多个用于通过流体的静压通道，静压衬套设置在第一凹腔的开口处且静压凹腔的开口朝向内凹半球面，多个静压衬套沿至少一个布置平面设置在内凹半球面上，布置平面为垂直于转动件的旋转轴线的平面，支撑座具有与容纳件的外表面相配的支撑座内腔。根据本发明所涉及的静压半球体轴承轴系，凸球旋转时与凹球面互不接触，相对于静压锥体轴承，静压半球体轴承具有更好的同心配合度，因此采用气体或液体静压技术能提高转动副上转动轴的动态旋转精度。
- 一种静压半球轴承精密机床
- [发明专利]一种高精度电机装置及精密设备-CN201711403400.7有效
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黎永明;黎纯;沈景凤
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上海理工大学
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2017-12-22
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2020-05-05
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F16C32/06
- 根据本发明所涉及的高精度电机装置及精密设备，包括至少两个动静压半球体轴承以及具有转动轴的电动机，转动轴设置在动静压半球体轴承中，动静压半球体轴承具有支撑座、容纳组件以及转动件，容纳组件包括容纳件、多个静压衬套以及多个动压衬套，容纳件具有多个静压通道和动压通道，静压衬套设置在第一凹腔的开口处，动压衬套设置在第二凹腔的开口处，动压凹腔的横截面从底部至开口是逐渐扩大的。本发明的高精度电机装置及精密设备，工作状态时，半球体轴承中的凸球旋转时与凹球面互不接触，相对于动静压锥体轴承，动静压半球体轴承具有更好的同心配合度，因此采用气体或液体动静压技术能提高轴承轴系上转动轴的动态旋转精度。
- 一种高精度电机装置精密设备
- [发明专利]一种微量位移误差的校正装置-CN201710785449.7有效
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黎永明;赵思航;黎纯
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上海理工大学
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2017-09-04
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2020-04-03
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G01B11/00
- 根据本发明所涉及的微量位移误差的校正装置，包括测量部、微动部以及校正机构。微动部包括位移输入单元、工件平台、支撑单元、连接单元、变速单元以及第一缓冲单元。变速单元将输入的位移量进行变速后输出；第一缓冲单元设置在变速单元与工作件平台之间，该第一缓冲单元的输入端与变速单元的输出端相连，输出端与工作件平台的输入端相连，第一缓冲单元具有缓冲吸收部件，用于缓冲来自变速单元作用于工件平台的作用力，并减小工件平台的位移量，缓冲吸收部件和工件平台相连。位移输入单元通过校正机构来设定输入位移，使得工件平台的位移量等于工作件的制造累积误差和温度累积误差。
- 一种微量位移误差校正装置
- [发明专利]一种滑轨装置-CN201711403399.8有效
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黎永明;沈景凤;黎纯
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上海理工大学
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2017-12-22
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2020-03-10
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B23Q1/38
- 本发明的滑轨装置，包括滑道组件以及滑动件，滑道组件包括具有滑行表面和滑道外表面的滑道、多个静压衬套以及多个动压衬套，滑道具有多个静压通道和动压通道，静压通道和动压通道分别设置在滑道的内壁中且贯通滑行表面和滑道外表面，静压通道包括设置在滑行表面上向内凹的第一凹腔和连通第一凹腔和滑道外表面的静压孔道，动压通道包括设置在滑行表面上向内凹的第二凹腔和连通第二凹腔和滑道外表面的动压孔道，静压衬套设置在第一凹腔的开口处且静压凹腔开口朝向滑行表面，动压衬套设置在第二凹腔的开口处且动压凹腔的的开口朝向滑行表面，动压凹腔的底部与第二凹腔相连通，动压凹腔的横截面从底部至开口是逐渐扩大的。
- 一种滑轨装置
- [发明专利]一种对长度误差进行校正的方法-CN201710785290.9有效
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黎永明;杨颖;黎纯
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上海理工大学
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2017-09-04
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2020-02-18
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G01B11/04
- 本发明所涉及的对长度误差进行校正的方法，包括步骤1，设置光栅测量系统，光栅测量系统包括主光栅、与主光栅相对移动的副光栅；步骤2，将微量位移装置设置在主光栅的前方，微量位移装置包括具有可滑动的直杆的位移输入单元以及工作件平台，副光栅设置在工作件平台上；步骤3，将校正尺设置在直杆的下方，直杆的工作端与校正尺的工作面相接触；步骤4，进行移动测量，将副光栅与主光栅相对移动预定行程，且保持直杆与校正尺接触；步骤5，到达预定行程时，校正尺通过直杆传递至微量位移装置产生的副光栅移动的距离是工作件的制造和温度的累积误差，即光栅测量系统测得的数值是对主光栅的制造和温度的累积误差校正后的精确数值，此时即完成校正。
- 一种长度误差进行校正方法
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