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[发明专利]用于测量大尺寸各向同性激光介质中弱各向异性的测量装置及测量方法和应用-CN202111619346.6有效
发明人：李丙轩;张戈;黄凌雄;廖文斌;林长浪;陈玮冬 -专利权人：中国科学院福建物质结构研究所
申请日： 2021-12-27 - 公布日： 2023-09-08 - 主分类号： G01N21/84 文献下载
摘要：本发明公开了用于测量大尺寸各向同性激光介质的弱各向异性测量装置及测量方法，属于材料性能测试技术领域。本发明的测量装置包括：聚光腔、泵浦源、激光介质、激光谐振腔、偏振测试模块、信号分析模块、弱各向异性计算模块和指示光路模块；所述泵浦源和激光介质设置于所述聚光腔内，其中，所述激光介质位于聚光腔的焦点处；所述聚光腔设置于所述谐振腔内。本发明还提供通过上述测量装置的测量方法及其应用。本发明解决了现有技术中难以精确测量各向同性激光介质的弱各向异性的问题，本发明采用偏振检测及信号分析结合的方式，大大提高了检测精度、速度、准确性。
用于测量尺寸各向同性激光介质各向异性装置测量方法应用

[发明专利]用于测量大尺寸各向同性透明介质中弱各向异性的测量装置及测量方法和应用-CN202111616635.0有效
发明人：李丙轩;张戈;黄凌雄;廖文斌;林长浪;陈玮冬 -专利权人：中国科学院福建物质结构研究所
申请日： 2021-12-27 - 公布日： 2023-07-25 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：本发明公开了用于测量大尺寸各向同性透明介质的弱各向异性测量装置及测量方法，属于材料性能测试技术领域。本发明的测量装置包括：聚光腔、固定于所述聚光腔的泵浦源、激光介质和透明介质、谐振腔、偏振测试模块、信号分析模块、弱各向异性计算模块、指示光路；所述激光介质和泵浦源固定于所述聚光腔内，其中，所述激光介质位于聚光腔的焦点处；所述聚光腔设置于所述谐振腔内。本发明还提供通过上述测量装置的测量方法和应用。本发明解决了现有技术中难以精确测量各向同性透明介质的弱各向异性的问题，本发明采用偏振检测及信号分析结合的方式，大大提高了检测精度、速度、准确性。
用于测量尺寸各向同性透明介质各向异性装置测量方法应用

[发明专利]一种光学材料检测仪器-CN202211488346.1在审
发明人：赖信城;黄凌雄;杜源;李林;顾东安 -专利权人：福州闽波光电技术有限公司
申请日： 2022-11-25 - 公布日： 2023-03-31 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本发明提供一种光学材料检测仪器，包括：底座、样品台、光源模块、光学探测器、三维移动装置与三维坐标装置；样品台与底座固定连接，样品台用于放置光学材料样品；光源模块与光学探测器都通过三维移动装置与底座连接，光源模块用于将光线照射在光学材料样品，光学探测器用于检测光学材料样品在被光线照射后产生的光学信号；三维坐标装置与三维移动装置连接，用于获取光源模块与光学探测器的检测位置坐标。本发明的优点在于：通过光源模块与光学探测器的配合检测光学材料内部的品质，得出光学材料样品内部的检测单元块位置，在此检测单元块发出的光学信号为异常光学信号时，判断为此检测单元块存在品质缺陷，从而精确地定位光学材料的品质缺陷。
一种光学材料检测仪器

[发明专利]一种各向同性激光介质中弱各向异性的测量装置及测量方法和应用-CN202111619328.8有效
发明人：李丙轩;张戈;黄凌雄;廖文斌;林长浪;陈玮冬 -专利权人：中国科学院福建物质结构研究所
申请日： 2021-12-27 - 公布日： 2023-02-10 - 主分类号： G01N21/84 文献下载
摘要：本发明公开了一种各向同性激光介质的弱各向异性测量装置及测量方法，属于材料性能测试技术领域。本发明的测量装置包括：泵浦源、和在所述泵浦源出光侧依次设置的激光谐振腔，放置于激光谐振腔内的激光介质，偏振测试模块、信号分析模块、弱各向异性计算模块和指示光路模块。本发明还提供通过上述测量装置的测量方法及其应用。本发明解决了现有技术中难以精确测量各向同性激光介质的弱各向异性的问题，本发明采用偏振检测及信号分析结合的方式，大大提高了检测精度、速度、准确性。
一种各向同性激光介质各向异性测量装置测量方法应用

[发明专利]一种各向同性透明介质中弱各向异性的测量装置及测量方法和应用-CN202111619336.2有效
发明人：李丙轩;张戈;黄凌雄;廖文斌;林长浪;陈玮冬 -专利权人：中国科学院福建物质结构研究所
申请日： 2021-12-27 - 公布日： 2023-02-10 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：本发明公开了一种各向同性透明介质的弱各向异性测量装置及测量方法，属于材料性能测试技术领域。本发明的测量装置包括：泵浦源，和依次设置于泵浦源出光侧的谐振腔、放置于谐振腔内的激光介质、放置于谐振腔内的透明介质、偏振测试模块、信号分析模块、弱各向异性计算模块、指示光路。本发明还提供通过上述测量装置的测量方法和应用。本发明解决了现有技术中难以精确测量各向同性透明介质的弱各向异性的问题，本发明采用偏振检测及信号分析结合的方式，大大提高了检测精度、速度、准确性。
一种各向同性透明介质各向异性测量装置测量方法应用

[发明专利]一种激光损伤分析测试仪器-CN202210489238.X在审
发明人：张杨;陈伟;陈秋华;黄凌雄;陈养国;周玉兰 -专利权人：福建福晶科技股份有限公司
申请日： 2022-05-07 - 公布日： 2022-08-02 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：一种结合了紫外激光光谱分析和图像识别的激光损伤分析测试仪器，包括：工作波长激光光源和紫外激光光源、样品台、侧面光学成像模块和光谱分析探测器。本发明中，以工作波长激光对样品进行损伤测试，并以同轴的紫外激光在原位展开精细成像分析和光谱分析，通过工作波长激光和紫外激光在样品测试区域产生的光学信号能够对样品的折射、散射、成分均匀性、缺陷和损伤情况等进行综合采集，冀此实现激光损伤的快速检测及损伤区域精确定位、损伤类型区分、损伤成因分析。
一种激光损伤分析测试仪器

[发明专利]一种基于深紫外光谱分析和图像识别的光学分析仪器-CN202210322533.6在审
发明人：张杨;黄凌雄;陈伟;陈秋华;陈养国;王昌运 -专利权人：福建福晶科技股份有限公司
申请日： 2022-03-30 - 公布日： 2022-06-24 - 主分类号： G01N21/33 文献下载
摘要：一种基于深紫外光谱分析和图像识别的光学分析仪器，包括：深紫外激光光源和辅助光源、样品台、第一光学成像模块和光谱分析探测器，本发明以深紫外激光作为激发光源，结合辅助光源照射样品，以光谱分析结合高清图像分析，可以自动快速检测光学材料及光学器件的质量；能够通过扫描检测精确定位光学材料及光学器件的缺陷存在区域，对光学材料的缺陷类型进行判定，分析光学材料的成分均匀性；通过深紫外激光和辅助光源的协同检测，能够更为精细地检测光学器件的加工质量；智能化比对技术结合数据库可以高效自动完成光学材料和光学器件的品质分析。
一种基于深紫光谱分析图像识别光学分析仪器

[发明专利]智能鞋柜-CN202011151593.3在审
发明人：梁俊杰;史青录;张聪;彭丽娜;赵伟;黄凌雄;贾旭峰 -专利权人：太原科技大学
申请日： 2020-10-26 - 公布日： 2022-05-13 - 主分类号： A47B61/04 文献下载
摘要：本发明涉及一种智能鞋柜，智能鞋柜主要包括鞋柜主题结构、轮换结构、杀菌、除臭、除湿、恒温装置和智能系统等，除了存放鞋子以外，同时还具有杀菌、除臭、除湿、恒温和备忘录提示等功能，最主要的是结合智能系统可进行方便的存放鞋、选择合适的鞋子和保持鞋的洁净，方便人们的生活。
智能鞋柜

[发明专利]一种路面落叶清理装置-CN202010970034.9在审
发明人：梁俊杰;史青录;彭丽娜;张聪;黄凌雄;贾旭峰;赵伟 -专利权人：太原科技大学
申请日： 2020-09-15 - 公布日： 2022-03-15 - 主分类号： E01H1/04 文献下载
摘要：本发明涉及一种路面落叶清理装置，落叶清理装置主要包括车辆主体结构、发动机、驾驶室、落叶回收装置、落叶粉碎装置以及落叶渣储存装置，主要功能是对落叶较多的路面进行落叶及较小可分解垃圾的清理。克服传统人力清扫落叶的缺点，弥补现代清扫车的不足，增加路面落叶的清扫效率，减少清扫落叶成本，从而降低公路事故发生风险。
一种路面落叶清理装置

[发明专利]用于铁电晶体相变检测的光学探针及其检测方法-CN201810784523.8有效
发明人：李丙轩;张戈;廖文斌;黄凌雄;陈玮冬;林长浪 -专利权人：中国科学院福建物质结构研究所
申请日： 2018-07-17 - 公布日： 2022-02-18 - 主分类号： G01N21/17 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于铁电晶体相变检测的光学探针及其检测方法，包括：外场控制器、激光器、数据采集控制单元、光电探测器和铁电晶体，激光器与铁电晶体光路连接，光电探测器与铁电晶体光路连接；外场控制器向铁电晶体施加外场；数据采集控制单元与外场控制器控制连接。该探针以光学信息为检测手段，获取铁电晶体受外场影响发生相变的情况，为铁电晶体相变检测提供新的检测手段。本发明的又一方面还提供了该光学探针的检测方法。
用于电晶体相变检测光学探针及其方法

[发明专利]一种光学材料性能检测装置-CN201911312386.9有效
发明人： 黄凌雄;陈瑞平;张戈;李丙轩;廖文斌 -专利权人：中国科学院福建物质结构研究所
申请日： 2019-12-18 - 公布日： 2021-06-22 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种光学材料性能检测装置，属于材料性能测试技术领域，能够解决现有装置不能提供光学材料二阶非线性光学信号检测区域处准确可靠的粒度信息，从而不能准确反映光学材料的二阶非线性光学性能的问题。所述检测装置包括：样品台，用于放置待测样品；图像采集模块，设置在样品台的上方，用于采集待测样品的待测区域的图像；处理模块，用于根据待测区域的图像获取待测区域中待测样品的粒度信息。本发明用于光学材料的二阶非线性光学性能分析。
一种光学材料性能检测装置

[发明专利]多孔吸附材料的再生方法-CN201911059253.5有效
发明人： 黄凌雄;陈瑞平;张戈 -专利权人：中国科学院福建物质结构研究所
申请日： 2019-11-01 - 公布日： 2021-04-02 - 主分类号： B01J20/34 文献下载
摘要：本申请公开了一种多孔吸附材料的再生方法，该方法至少包括步骤：a)将待处理多孔吸附材料进行脱水处理，得到中间产物；b)对所述中间产物进行激光照射处理，即可使所述待处理多孔吸附材料再生。本申请使用的激光设备能够输出高峰值功率的激光，吸附污物的多孔吸附材料吸收激光能量后在极短的时间内温度上升到很高的温度，使其中吸附的有机物直接解吸或受热分解，多孔吸附材料中的孔隙实现解吸，从而实现多孔材料的再生。
多孔吸附材料再生方法

[发明专利]一种光学材料折射率的测量装置及其测量方法-CN201910873210.4有效
发明人： 黄凌雄;陈瑞平;张戈;李丙轩;廖文斌 -专利权人：中国科学院福建物质结构研究所
申请日： 2019-09-16 - 公布日： 2021-02-12 - 主分类号： G01N21/41 文献下载
摘要：本发明公开了一种光学材料折射率的测量装置及其测量方法，属于材料性能测试技术领域，能够解决现有折射率测量方法难以精确测量高折射率或微小尺寸的光学材料的折射率的问题。所述装置包括光源模块、透明平板、成像模块和测量模块；光源模块用于提供预设波长的单色光；透明平板上设置有第一成像参考标记；成像模块用于在测量待测样品之前和测量待测样品时，分别对第一成像参考标记进行光学成像；将测量待测样品之前的成像模块的成像位置记为零点位置；将测量待测样品时的成像模块的成像位置记为终点位置；测量模块用于根据成像模块从零点位置移动到终点位置的位移量，以及待测样品的厚度测量待测样品的折射率。本发明用于测量光学材料的折射率。
一种光学材料折射率测量装置及其测量方法

[实用新型]一种电光调Q腔倒空激光器-CN202020828176.7有效
发明人：廖文斌;张戈;李丙轩;林长浪;黄凌雄 -专利权人：中国科学院福建物质结构研究所
申请日： 2020-05-18 - 公布日： 2020-11-20 - 主分类号： H01S3/115 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种电光调Q腔倒空激光器，包括激光单元和依次设置在激光单元出光侧的透射反射单元、激光晶体、折叠镜、电光调Q装置和全反镜，折叠镜的设置位置满足第一条件，第一条件为：其中，L为折叠镜距透射反射单元的距离，R为折叠镜的曲率半径，f为激光晶体的热焦距；折叠镜为凹透镜，凹透镜的凹面用于将从激光晶体出射的激光反射至电光调Q装置，并将从全反镜反射的激光反射至激光晶体。本申请使用凹透镜作为折叠镜，并将其放置在离激光泵浦镜距离L处，使得折叠镜后的激光半径不变，提高了电光调Q晶体运行的稳定性，进一步提升了腔倒空激光器的运行稳定性。
一种电光倒空激光器

[发明专利]一种电光调Q腔倒空激光器-CN202010421674.4在审
发明人：廖文斌;张戈;李丙轩;林长浪;黄凌雄 -专利权人：中国科学院福建物质结构研究所
申请日： 2020-05-18 - 公布日： 2020-07-31 - 主分类号： H01S3/115 文献下载
摘要：本发明公开了一种电光调Q腔倒空激光器，包括激光单元和依次设置在激光单元出光侧的透射反射单元、激光晶体、折叠镜、电光调Q装置和全反镜，折叠镜的设置位置满足第一条件，第一条件为：其中，L为折叠镜距透射反射单元的距离，R为折叠镜的曲率半径，f为激光晶体的热焦距；折叠镜为凹透镜，凹透镜的凹面用于将从激光晶体出射的激光反射至电光调Q装置，并将从全反镜反射的激光反射至激光晶体。本申请使用凹透镜作为折叠镜，并将其放置在离激光泵浦镜距离L处，使得折叠镜后的激光半径不变，提高了电光调Q晶体运行的稳定性，进一步提升了腔倒空激光器的运行稳定性。
一种电光倒空激光器

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