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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]应用于测试电子元件的测试分选装置-CN202011436506.9有效
发明人：赵轶;鲍军其;胡鹏飞;叶梦雅;梁敬好;王子豪;张琦杰;崔海洋 -专利权人：杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2020-12-11 - 公布日： 2023-06-16 - 主分类号： B07C5/34 文献下载
摘要：本申请涉及应用于测试电子元件的测试分选装置，所述装置包括机台、设于机台的测试室；所述机台还设有与所述测试室管道连接的换热设备，所述换热设备对外界输入的气体进行冷热交换后输入至所述测试室，输入至所述测试室的气体用于调整所述测试室的测试温度；所述机台还设有与所述换热设备管道连接的冷媒物质压缩设备，所述冷媒物质压缩设备用于压缩冷媒物质并为所述换热设备提供冷媒物质，解决了相关技术中冷媒输送装置和测试装置搬运不便利的问题，提高了测试分选装置搬运的便利性。
应用于测试电子元件分选装置

[实用新型]电子元件测试装置-CN202122898967.4有效
发明人：徐铭阳;胡冲;鲍军其;王昭敦 -专利权人：杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2021-11-24 - 公布日： 2022-09-20 - 主分类号： G01N3/08 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种电子元件测试装置，包括壳体、测试板、压接机构及驱动机构。壳体设有测试腔及与测试腔连通的进出口。测试板设于测试腔内，并与壳体的底部滑动配合。压接机构用于将电子元件压在测试板上。驱动机构与测试板连接，用于带动测试板从进出口向测试腔外移动、及带动测试板从进出口向测试腔内移动。相比于将驱动机构安装在测试板的底部，本方案将驱动机构安装于壳体的侧壁，测试板与壳体的底部滑动配合，这样能够降低测试腔的高度，使得该电子元件测试装置的结构紧凑。此外，还能够避免压接机构将电子元件压在测试板的过程中对驱动机构产生影响，使测试板能够稳定可靠地移动，保证测试的准确性及可靠性。
电子元件测试装置

[实用新型]电子元件作业装置-CN202122901315.1有效
发明人：王强;鲍军其;翁水才;张新;韩笑;尹默 -专利权人：杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2021-11-24 - 公布日： 2022-09-20 - 主分类号： B07C5/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种电子元件作业装置，包括供收料装置、载送机构、测试装置及测试移料机构。载送机构能够在供收料装置及测试装置之间运动。测试装置包括至少一个测试模组，测试模组包括设有测试腔的壳体及设有测试工位的测试板，测试板能够收容于测试腔内，或者测试板至少部分能够从测试腔内抽出。测试移料机构设于测试装置的至少一侧，测试移料机构包括第一取放料组件，第一取放料组件能够做升降运动及沿与测试板抽出方向相交的方向做平移运动，用于将载送机构的电子元件转移至测试工位或将测试工位的电子元件转移至载送机构。如此，能够简化作业流程，提高作业效率，并且空间结构更紧凑。
电子元件作业装置

[实用新型]一种测试设备的制冷系统-CN202122999994.0有效
发明人：赵轶;鲍军其;胡鹏飞;梁欣;蔡年群 -专利权人：杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2021-11-30 - 公布日： 2022-08-09 - 主分类号： F25B41/42 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种测试设备的制冷系统，包括冷媒机和循环管路，冷媒机上设置有冷媒出口和冷媒回流口，循环管路通过冷媒出口及冷媒回流口与冷媒机连接并连通；循环管路包括多根分支管路，其中每根分支管路上分别连接有一个工位，且分支管路内的冷媒能够途经对应的工位并与其进行热交换。本实用新型能够用冷媒机上一根循环管路对应多个工位，并分别实现对每个工位的温度调节，以此减少元器件的使用，进而具有降低应用有该制冷系统的测试设备的体积、制冷成本和使用功率的作用。
一种测试设备制冷系统

[实用新型]电子元件测试装置-CN202122901327.4有效
发明人：徐铭阳;胡冲;鲍军其;王昭敦 -专利权人：杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2021-11-24 - 公布日： 2022-08-05 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种电子元件测试装置，包括用于放置电子元件的测试座、压接机构及驱动机构。压接机构包括承载板及至少两个测试压头，至少两个测试压头均安装在承载板。驱动机构与承载板驱动连接，用于带动承载板做升降运动，使承载板带动至少两个测试压头分别压接在测试座的电子元件上。作业时，驱动机构对承载板施加作用力，带动承载板做下降运动，进而带动所有的测试压头压接在电子元件进行测试作业。完成测试后，驱动机构对承载板施加作用力，带动承载板做上升运动，进而带动所有的测试压头上抬至与电子元件分离。如此，相比于每个测试工位均设置一个气缸进行压接，可简化结构，降低成本。
电子元件测试装置

[实用新型]冷却模组及测试设备-CN202120419572.9有效
发明人：赵轶;鲍军其;邱国志;何松;叶波 -专利权人：杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2021-02-26 - 公布日： 2022-07-12 - 主分类号： F25D31/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种冷却模组及测试设备。冷却模组用于控制测试设备中压合件的温度，所述冷却模组内开设有用于流通冷却液的冷却流道，所述冷却流道呈螺旋线的形状开设。该冷却模组通过设置螺旋线的冷却流道，使得冷却模组能够均匀地对压合件进行温度控制，避免造成压合件局部温度过热或过冷的现象，进而提升所测试的电子元器件的测试性能。
冷却模组测试设备

[实用新型]用于电子元件的测试装置及测试系统-CN202122071206.1有效
发明人：徐铭阳;胡冲;鲍军其;王昭敦 -专利权人：杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2021-08-30 - 公布日： 2022-04-26 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种用于电子元件的测试装置及测试系统，该测试装置装设于机架上，机架具有下端板，测试装置包括压头组件、和载物座和力平衡支架。压头组件设有流道，冷媒在流道内与压头组件发生热交换。载物座装设于下端板，且载物座用于放置电子元件，压头组件能够朝向载物座移动以压接电子元件，或者，压头组件能够远离载物座移动。本实用新型提供的用于电子元件的测试装置及测试系统，解决了现有的测试装置无法在低温条件下或者高温条件下测试电子元件的性能的问题。
用于电子元件测试装置系统

[实用新型]冷媒输送管路布置结构和测试分选机-CN202121113909.X有效
发明人：赵轶;鲍军其;胡鹏飞;谢天海;张琦杰 -专利权人：杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2021-05-21 - 公布日： 2022-04-12 - 主分类号： B07C5/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种冷媒输送管路布置结构和测试分选机。冷媒输送管路布置结构，包括：底座；设置在所述底座上的多个软管组，其中，所述多个软管组沿远离所述底座的方向间隔排布，在垂直于所述底座的方向上，相邻的两个软管组相互错开；与所述多个软管组分别以流体连通的方式连接的多个刚性管组。根据本实用新型，多个软管组形成了在底座上的分层构型，这种分层布置能有效提高零部件的空间利用率，使冷媒输送管路布置结构更加的布局合理，结构紧凑。
冷媒输送管路布置结构测试分选

[实用新型]电子元器件检测装置-CN202121613643.5有效
发明人：陆人杰;闫登攀;刘治震;鲍军其 -专利权人：杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2021-07-15 - 公布日： 2022-04-05 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本实用新型涉及产品检测技术领域，特别是涉及一种电子元器件检测装置。该电子元器件检测装置包括料梭组件、发射组件及感光组件，料梭组件具有用于放置电子元器件的料槽，料梭组件具有第一方向及第二方向，发射组件能够沿第一方向及第二方向朝料槽发射光线，以检测电子元器件的放置状态；其中，第一方向与第二方向位于同一水平面上，且第一方向与第二方向存在夹角A，0°＜A＜180°；当光线被电子元器件遮挡时，感光组件接收不到信号；当光线未被电子元器件遮挡时，感光组件能够接收信号。本实用新型的优点在于：结构简单、检测精确且检测更全面。
电子元器件检测装置

[实用新型]自锁装置、自锁系统及芯片测试分选机-CN202122793657.6有效
发明人：徐铭阳;胡冲;鲍军其;王昭敦 -专利权人：杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2021-11-15 - 公布日： 2022-03-18 - 主分类号： B07C5/34 文献下载
摘要：本实用新型涉及半导体测试技术领域，尤其涉及一种自锁装置、自锁系统及芯片测试分选机。该自锁装置包括与压接执行机构连接的导向件和与载物台连接的自锁组件；压接执行机构下降至压接于载物台时，导向件随压接执行机构下降至与自锁组件锁定，导向件与自锁组件解锁后，压接执行机构能够上升。该自锁系统包括上述自锁装置。该芯片测试分选机包括上述自锁系统。本实用新型提供一种自锁装置、自锁系统及芯片测试分选机，缓解现有技术中存在的芯片测试分选机中压接执行机构压接于芯片上的压接状态的保持不稳定的技术问题。
装置系统芯片测试分选

[实用新型]测试头组件和测试装置-CN202121048107.5有效
发明人：赵轶;鲍军其;胡鹏飞;叶梦雅;梁欣 -专利权人：杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2021-05-17 - 公布日： 2022-02-01 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种测试头组件和测试装置。该测试头组件包括测试头主体和第一导热介质结构，测试头主体朝向待测电子元件的一侧设置有凸起，第一导热介质结构覆盖在凸起上，且第一导热介质结构用于与待测电子元件配合，第一导热介质结构的导热率大于空气的导热率；所述测试头组件还包括卡爪，所述卡爪设置在所述测试头主体上，并能够围设于所述待测电子元件的周测，以防止所述待测电子元件移动。该测试头组件使用效果更好。
测试组件装置

[发明专利]用于电子元件的测试装置及测试系统-CN202111003637.2有效
发明人：徐铭阳;胡冲;鲍军其;王昭敦 -专利权人：杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2021-08-30 - 公布日： 2021-12-07 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于电子元件的测试装置及测试系统，该测试装置装设于机架上，机架具有下端板，测试装置包括压头组件、载物座和力平衡支架。载物座装设于下端板，且载物座用于放置电子元件，压头组件能够朝向载物座移动以压接电子元件，或者，压头组件能够远离载物座移动。力平衡支架与载物座配合，力平衡支架能够钩住载物座并对载物座施加远离下端板的作用力。本发明提供的用于电子元件的测试装置及测试系统解决了现有的测试装置在工作过程中，压头组件会导致机架的下端板受压变形的问题。
用于电子元件测试装置系统

[实用新型]分选机-CN202120042957.8有效
发明人：陆人杰;张鸿;刘治震;鲍军其 -专利权人：杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2021-01-07 - 公布日： 2021-10-15 - 主分类号： B07C5/00 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种分选机，涉及半导体元件检测装置技术领域，该分选机包括：第一测试臂、第二测试臂、测试座、第一载料机构、第二载料机构、驱动机构和视觉检测机构，测试座设于第一载料机构和第二载料机构之间；视觉检测机构包括信号连接的图像采集器和分析器，图像采集器通过第一安装组件与第一测试臂和第二测试臂连接，驱动机构分别与第一测试臂和第二测试臂传动连接，以驱动第一测试臂在测试座和第一载料机构之间移动，同时对应地驱动第二测试臂在第二载料机构和测试座之间移动。本实用新型提供的分选机缓解了相关技术分选机中增加取像器的数量，不利于节省空间的技术问题。
分选

[实用新型]测试装置及分选机-CN202120090692.9有效
发明人：陆人杰;张鸿;刘治震;鲍军其 -专利权人：杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2021-01-13 - 公布日： 2021-09-24 - 主分类号： B07C5/34 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种测试装置及分选机，涉及分选设备技术领域，该测试装置包括测试座、测试件以及测距传感器；测试座上设有用于放置待测产品的容腔；测试件能够相对测试座运动，并对放置在容腔的待测产品进行测试；测距传感器位于容腔的上方，测距传感器用于采集与容腔之间的距离信息，通过将距离信息与预设距离信息比较以获取容腔内有无残留物。该分选机包括测试装置。通过该测试装置，缓解了现有技术中存在的分选机对相机及其测试系统的配置要求较高的技术问题。
测试装置分选

[发明专利]测试防护装置及具有其的测试设备-CN202110545566.2在审
发明人：赵轶;鲍军其;胡鹏飞;张琦杰;叶梦雅 -专利权人：杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2021-05-19 - 公布日： 2021-09-21 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明涉及一种测试防护装置及具有其的测试设备。该测试防护装置包括防霜罩，防霜罩用于与测试设备的面板连接，以与面板配合围成用于容纳测试板的密封腔，密封腔用于容纳干燥气，以控制密封腔内的露点。该测试防护装置可以防止凝露。
测试防护装置具有设备

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