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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]测量装置和测量方法-CN202110900392.7在审
发明人：小松崎晋路;铃木义将;高桥知隆 -专利权人：株式会社三丰
申请日： 2021-08-06 - 公布日： 2022-02-22 - 主分类号： G01S17/08 文献下载
摘要：一种测量装置100，包括:激光装置110，其输出调频激光束；分支部件120，其将调频激光束分离为参考光和测量光；差拍信号生成部件150，其通过混合参考光和将测量光照射到待测对象10上而反射的反射光来生成差拍信号；频率分析部件160，其对差拍信号进行频率分析；存储部件190，其存储参考频率信号，该参考频率信号是通过转换在没有待测对象10的状态下由差拍信号生成部件150输出的参考信号而获得的频率信号；以及计算部件170，其计算参考光和测量光的传播距离之间的差。
测量装置测量方法

[发明专利]测量装置和测量方法-CN202110538600.3在审
发明人：加藤隆介;高桥知隆 -专利权人：株式会社三丰
申请日： 2021-05-18 - 公布日： 2021-11-23 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：测量装置(100)包括激光器装置(111)、将激光束分成参考光和测量光的分支部(120)、将测量光会聚到待测量对象(10)上的会聚部(140)、调节会聚部(140)会聚测量光的焦点位置的控制部(160)，以及距离计算部(117)，该距离计算部基于参考光和测量光之间的光程差来计算距待测量对象(10)的距离，其中，会聚部(140)包括第一透镜(141)和对应性计算部(145)，该对应性计算部基于第一透镜(141)的位置和距待测量对象(10)的距离来计算会聚部(140)的焦点位置和第一透镜(141)的位置之间的对应性。
测量装置测量方法

[发明专利]测量装置和测量方法-CN202010633181.7在审
发明人：铃木义将;原慎一;小松崎晋路;加藤隆介;氏原大希;奈良正之;高桥知隆 -专利权人：株式会社三丰
申请日： 2020-07-02 - 公布日： 2021-01-05 - 主分类号： G01S17/34 文献下载
摘要：一种测量装置300，包括：激光装置110；分支部件120，将由激光装置110输出的调频激光束分支为参考光和测量光；差拍信号生成部件150，通过混合反射光和参考光来生成差拍信号；转换部件160，以第一采样率将差拍信号转换为数字信号，并对其进行频率分析；提取部件170，从调频激光束中提取与共振腔频率相对应的信号分量；数字滤波器310，以第二采样率对提取的信号分量进行数字滤波；以及计算部件180，计算参考光和测量光之间的传播距离的差。
测量装置测量方法

[发明专利]具有失准检测的光编码器和与其关联的调整方法-CN201210020249.X有效
发明人： 高桥知隆 -专利权人：株式会社三丰
申请日： 2012-01-29 - 公布日： 2017-03-01 - 主分类号： G01D5/38 文献下载
摘要：一种光编码器包括标尺，具有在测量轴方向上以预定间距形成的衍射光栅；探头，能够相对于所述标尺而相对移动，所述探头包括用光照射所述标尺的光源单元、以及接收以不同相位由所述标尺的衍射光栅反射或通过所述标尺的衍射光栅透射的光的多个接收单元；以及信号处理设备，对从所述探头的接收单元输出的光接收信号执行信号处理，以产生正交差分信号。所述信号处理设备计算对应于所述正交差分信号的李萨如半径的姿态监控信号，以便检测所述探头相对于所述标尺的失准。
具有失准检测编码器与其关联调整方法

[发明专利]光电式编码器-CN200910172195.7有效
发明人： 高桥知隆 -专利权人：株式会社三丰
申请日： 2009-09-21 - 公布日： 2010-03-24 - 主分类号： G01D5/36 文献下载
摘要：提供一种光电式编码器，在测量相对位移的光电式编码器中，标尺(10)具有由形成在增量轨(12)的至少一个位置上的反射缝构成的基准标记(14)，检测部(20)具有光照射部(24)、以该光照射部为中心被配置在其周围的输出相位不同的四个增量信号的主受光部(30a、30b、30ab、30bb)以及以上述光照射部为点对称的中心被配置在与测长方向垂直的方向上的一对基准信号受光部(32z、32zb)，信号处理部(40)具有三相信号生成部(48)、两厢正弦波信号生成部(50)、方向辨别部(56)、内部周期计数器(58)以及基准信号处理部(60)。由此，能够以超小型结构检测基准。
光电编码器

[发明专利]干涉仪-CN200810172680.X有效
发明人： 高桥知隆 -专利权人：株式会社三丰
申请日： 2008-11-06 - 公布日： 2009-05-13 - 主分类号： G01B9/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种干涉仪。该干涉仪包括：激光束源；光波分割和合成部，用于对从激光束源照射来的激光束进行2路分波，并将其照射在测量对象上，并且合成分别具有位移信息的光；多相位干涉光生成部，用于根据合成的激光束，生成具有第一相位的第一干涉光、具有与第一相位相差180°的第二相位的第二干涉光、具有与第一相位相差90°的第三相位的第三干涉光和具有与第一相位相差270°的第四相位的第四干涉光；三相信号生成部，用于根据基于第一至第四干涉光的第一至第四干涉信号来生成相位差为90°的三相信号；以及两相信号生成部，用于对相位差为90°的三相信号执行矢量合成，从而生成相位差为90°的两相信号。
干涉仪

[发明专利]位移检测器-CN200510136116.9有效
发明人： 高桥知隆;二本森辰悟 -专利权人：三丰株式会社
申请日： 2005-12-21 - 公布日： 2006-06-28 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：位移检测器包括：光源(140)；分束器(170)，其用于将从光源(140)发送的光分成两束光束；反射镜(181、182)，提供给从分束器(170)发送的两束光束，用于反射这两束光束并使它们入射到标尺(110)上；和角隅棱镜(191、192)，提供给在入射到标尺(110)的两束光束被衍射光栅(111)衍射时产生的衍射光束，其中角隅棱镜(191、192)回射所述衍射光并使所述光作为回射光入射到标尺上。在入射光和标尺的法线矢量之间形成的到光栅凹槽的入射角大于在回射光和标尺的法线矢量之间形成的衍射角。
位移检测器

[发明专利]光电式编码器-CN200410043295.7有效
发明人：小岛健司;高桥知隆 -专利权人：三丰株式会社
申请日： 2004-05-17 - 公布日： 2004-12-01 - 主分类号： G01D5/26 文献下载
摘要：提供一种光电式编码器。在光电式编码器的光接收芯片上，沿测定轴配置多个光电二极管。在这些光电二极管的各光接收面上，形成具有在y方向上延长的遮光部的第2光学格子。各光接收面有相对于遮光部延长的方向倾斜配置的部位。
光电编码器

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