专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]光学电压测量装置-CN201510197841.0在审
  • 高桥正雄 - 株式会社东芝
  • 2015-04-23 - 2015-12-09 - G01R19/00
  • 本发明提供一种能进行高精度的光学电压测量且具有高可靠性的光学电压测量装置。光学电压测量装置(10)至少具备:光源(11);光分路器(12);偏振器(13);相位调制器(14);传输光纤(2);法拉第旋转器(32),使光纤的出射光的偏振波进行旋转;电光元件(31),对旋转后的光给予由泡克尔斯效应产生的折射率变化;反射镜(33);以及检测器(41)。在电光元件的灵敏度的温度系数为正的情况下,在使用温度范围内的最低温度下决定法拉第旋转器的对电光元件的入射偏振光方位,以使该入射偏振光方位与泡克尔斯效应表现出的双折射的轴成为同一轴。在电光元件的灵敏度的温度系数为负的情况下,在使用温度范围内的最高温度下,进行同样的操作。
  • 光学电压测量装置
  • [发明专利]光电压测定装置-CN201210061663.5有效
  • 高桥正雄 - 株式会社东芝
  • 2012-03-09 - 2012-09-19 - G01R19/00
  • 提供一种使光量稳定性提高的光电压测定装置。构成为,从被光源驱动装置1驱动的光源2出射的光,透过SM耦合器12,利用单模光纤13而被引导到测定点附近。该光利用光纤型的偏振器14而被直线偏光,进而利用光纤型的1/8波长板15而被椭圆偏光,利用准直器16进行准直,透过电光学元件7,在反射膜17发生反射,再次透过电光学元件,利用准直器16与光纤型的1/8波长板15耦合。上述光纤型偏振器14的导引部分和1/8波长板15的粘着部分被收纳在形成于规定的固定用部件18的圆筒孔18a内,在光纤型偏振器的导引部分和圆筒孔的内壁之间,注入规定的粘着剂而形成粘着层19,从而将光纤型偏振器的导引部分固定于圆筒孔。
  • 电压测定装置
  • [发明专利]粒子束辐射装置和粒子束辐射方法-CN201010271493.4有效
  • 井关康;高桥正雄;塙胜词;前田一尚;井上笃郎;永渊照康;角谷畅一 - 株式会社东芝
  • 2010-09-02 - 2011-04-06 - A61N5/10
  • 根据本发明的粒子束辐射装置包括:束生成单元;束发射控制单元,其控制粒子束发射;束扫描指示单元,对于通过在粒子束轴线方向上划分将要辐射的患病区域所获得的切片中的每个,束扫描指示单元连续二维指示粒子束位置;束扫描单元,其基于来自束扫描指示单元的指示信号二维扫描粒子束;荧光体膜,其提供在束扫描单元和患者之间,并且以对应于透射经过其的粒子束的粒子剂量的量来发光;成像单元,其对于切片中的每个,对荧光体膜成像;以及显示单元,其从由成像单元所成像的图像数据中获得切片中的每个的辐射剂量分布,并且显示所获得的与粒子束扫描位置相关的辐射剂量分布。
  • 粒子束辐射装置方法
  • [发明专利]光VT装置-CN200880012156.4有效
  • 佐藤纯一;高桥正雄;竹内美和;前田照彦;藤川充弘;梅村时博;桑原豪 - 株式会社东芝;东芝产业机器制造株式会社
  • 2008-04-07 - 2010-03-24 - G01R15/24
  • 光VT装置具备:初级侧电极,与外部电气设备连接,通过上述电气设备被施加被测定电压;第一次级侧电极,与上述初级侧电极相对地设置;绝缘层,设置在上述初级侧电极与上述第一次级侧电极之间,构成与上述初级侧电极以及上述第一次级侧电极一起一体成形的绝缘筒;接地层,设置在上述绝缘筒的外周以及上述第一次级侧电极的周围,与上述第一次级侧电极之间具有上述绝缘层而确保静电电容;以及电气光学元件,对上述第一次级侧电极与上述接地层之间的电压进行测量。根据上述光VT装置,不会受到温度变化等周围环境的影响而可以高精度地进行被测定电压的测定,并且可以通过削减部件件数来实现装置小型化。
  • vt装置
  • [发明专利]光学电压测量设备-CN200910174389.0无效
  • 高桥正雄;佐藤纯一 - 株式会社东芝
  • 2009-09-11 - 2010-03-17 - G01R19/00
  • 提供了一种光学电压测量设备,其包括主电路导体(1),绝缘地支撑主电路导体(1)并固定到接地构件(3)的电介质体(4),掩埋在电介质体(4)中的掩埋电极(6),以及连接到掩埋电极(6)并测量主电路导体(1)的电压的电光元件(20),其中,将由主电路导体(1)和掩埋电极(6)之间生成的静电电容与掩埋电极(6)和接地构件(3)之间生成的静电电容之间的静电电容比所分的电压施加到电光元件(20)。
  • 光学电压测量设备
  • [发明专利]铝合金与树脂的复合体及其制造方法-CN02805359.1有效
  • 成富正德;安藤直树;高桥正雄;白石雅夫 - 大成普拉斯株式会社
  • 2002-07-17 - 2004-04-28 - B32B15/08
  • 本发明涉及铝合金与树脂的复合体及其制造方法。提供一种在电子机器、家电机器中金属制筐体优异且合成树脂也优异的、生产量高、形状和结构设计自由的铝合金与树脂的复合体。本发明的制品不仅有利于电子机器、家电机器,而且有利于各种构件、结构物的轻量化和高强度化。作为前处理,将肋(3)浸渍在选自氨、肼、肼衍生物、及水溶性胺系化合物中的1种以上的水溶液中。插入为了注塑前述肋(3)的注塑成型模具中。在金属框架(2)的表面通过注塑成型填充热塑性树脂组合物,成型肋(3)。成型的外壳盖(1)的筐体与金属框架(2)和用热塑性树脂组合物制作的肋(3)一体地接合,在强度和外观设计上发挥金属特性,而且筐体内部的形状和结构上也可制成复杂的形状。
  • 铝合金树脂复合体及其制造方法
  • [发明专利]光变流器-CN97116224.7有效
  • 寺井清寿;高桥正雄;生田荣 - 东芝株式会社
  • 1997-08-29 - 2003-11-12 - G01R33/032
  • 本发明公开一种体积小结构简单、测量精度高的高性能光变流器,其由传感器光学部、信号处理部、及传送用光纤部构成、信号处理部具有发生测量光的光源、检测来自传感器光学部的光所用的检测器、处理由检测器取得的信号所用的信号处理电路,传送用光纤部具有发送用光纤和接收用光纤,传感器光学部具有由传感器和反射端构成的传感光纤部、及对该传感光纤部和信号处理部进行光学耦合的耦合光学部。
  • 变流器

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