专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]曲线对齐方法及装置-CN202210488057.5在审
  • 邹翔宇;陈弘仁 - 闳康科技股份有限公司
  • 2022-05-06 - 2023-10-24 - G06T11/20
  • 一种曲线对齐方法及装置。此方法获取由至少一个机台分析测试样品所得数据并用以生成多条测试曲线;响应于由测试曲线中的第一曲线周围的第一点指向第二曲线周围的第二点的对齐操作,记录第一点对应的第一特征及第二点对应的第二特征的对应关系,并集合多个对齐操作的对应关系为特征数据;获取由机台分析当前样品所得数据并用以生成多条当前曲线;根据所记录特征数据中的对应关系,搜寻当前曲线中第三曲线上匹配第一特征的第三点及第四曲线上匹配第二特征的第四点;以及调整第三曲线及第四曲线的至少其中之一,使得第三点对齐第四点。
  • 曲线对齐方法装置
  • [发明专利]分析系统、辅助分析设备及分析方法-CN202210387650.0在审
  • 钟禹德;蔡鄢安;陈弘仁 - 闳康科技股份有限公司
  • 2022-04-13 - 2023-10-24 - G01N30/02
  • 本申请公开一种分析系统、辅助分析设备及分析方法。分析方法用来对样品上的待分析物进行组成成分分析,分析方法包含:第一加热步骤、第一质谱分析步骤、第二加热步骤、第二质谱分析步骤及分析步骤。于第一加热步骤及第二加热步骤中,是利用加热装置分别对样品的非待分析区域及待分析区域进行加热。于第一质谱分析步骤及第二质谱分析步骤质谱分析步骤是将样品被加热后所产生的气体,导入气相层析质谱仪中,并对应取得两笔分析信息。分析步骤是比对两笔分析信息,以产生分析结果信息,分析结果信息包含待分析物的至少一部分的组成物的组成成分。
  • 分析系统辅助设备方法
  • [实用新型]一种便于调节的雷射切割系统-CN202223590140.8有效
  • 李苏佼;程诚;吴健为;陈弘仁 - 闳康技术检测(上海)有限公司
  • 2022-12-29 - 2023-10-20 - B23K26/38
  • 本申请涉及样品切割技术领域,尤其是涉及一种便于调节的雷射切割系统,固定端处设置有驱动件、第一转轴以及第一夹板,驱动件固定在加工台的顶部,第一转轴的一端与驱动件相连,第一转轴的另一端与第一夹板相连,驱动件用于驱动第一转轴和第一夹板进行转动;锁定端处设置有第二转轴,第二转轴靠近第一夹板的一端连接有第二夹板,第二夹板沿水平方向滑移设置,第一夹板和第二夹板用于将样品进行夹持定位;加工台上方设置有定位雷射、加工雷射以及图像传感器,加工台顶部安装有控制中心,定位雷射用于定位样品,加工雷射用于切割样品,图像传感器用于识别样品,控制中心用于接收信号,并控制加工台进行移动。本申请可全方位对样品外壳进行切割。
  • 一种便于调节雷射切割系统
  • [实用新型]一种半导体试片的研磨装置-CN202222796191.X有效
  • 孙月婷;王麒宇;林俊达;陈弘仁 - 闳康技术检测(上海)有限公司
  • 2022-10-22 - 2023-05-30 - B24B37/11
  • 本申请涉及半导体制备技术领域,尤其是涉及一种半导体试片的研磨装置,包括研磨台,研磨台上设置有研磨盘,研磨台上设置有固定台,固定台上升降设置有靠近或远离研磨盘移动的升降台,固定台上设置有带动升降台升降移动的升降机构,固定台远离研磨台的一侧形成第一限位面,升降台朝向第一限位面的一侧形成第二限位面,升降台上设置有试片基座,试片基座靠近研磨盘的一侧形成第一安装面,第一安装面与研磨盘的研磨面平行,试片基座上形成与第一安装面垂直的第二安装面。本申请具有提高对半导体试片的研磨精度的效果。
  • 一种半导体试片研磨装置
  • [发明专利]样品分析方法及样品制备方法-CN202110454603.9在审
  • 褚耕颉;詹宗儒;吴纯伟;陈弘仁 - 闳康科技股份有限公司
  • 2021-04-26 - 2022-10-21 - G01N1/28
  • 本申请公开一种样品分析方法及样品制备方法。样品分析方法包含样品制备步骤、送入步骤及分析步骤。样品制备步骤包含:取得步骤:取得识别信息;标示及置放步骤:先将已经设置有至少一样品的一样品承载构件送入一标示设备中,并使标示设备利用识别信息,于样品承载构件形成一识别结构,再依据识别信息将样品承载构件设置于相对应的容置槽中;送入步骤:由存放盒的其中一个容置槽中,取出一个具有识别结构的样品承载构件,再将样品承载构件设置于一电子显微镜设备中;分析步骤:利用电子显微镜设备对样品进行拍摄,以产生一分析影像。
  • 样品分析方法制备
  • [实用新型]中空纤维膜过滤装置-CN202221505807.7有效
  • 陈亦力;杨玉兵;李天玉;孙广东;陈弘仁;刘涛;吕学敏;范闯磊;张继昌;王龙龙 - 碧水源膜技术研究中心(北京)有限公司
  • 2022-06-16 - 2022-10-21 - B01D63/02
  • 本实用新型涉及水处理技术领域,具体公开了一种中空纤维膜过滤装置。该装置包括:膜池;振动过滤机构,设置于膜池内,用于对膜池内的污水进行过滤处理;第一驱动机构,与振动过滤机构相连接,用于驱动所述振动过滤机构相对所述膜池往复运动;刮泥机构,设置于所述膜池的底部;第二驱动机构,与所述刮泥机构相连接,用于驱动所述刮泥机构相对所述膜池运动以搅动所述膜池底部沉积的污泥;所述膜池的底部开设有用于排出污泥的排污口。本实用新型利用支撑架带动中空纤维膜组器在水平方向上进行往复运动,使中空纤维膜组器与污水产生冲击、碰撞、摩擦,从而实现膜表面的自清洗,防止膜表面的污染和堵塞,因此,无需曝气装置,大大降低了运行成本。
  • 中空纤维过滤装置

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