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- [发明专利]编码采集系统及方法-CN202110574189.5有效
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陈予郎
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长鑫存储技术有限公司
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2021-05-25
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2023-10-20
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G06K7/14
- 本申请涉及一种编码采集系统及方法。编码采集系统包括传送轨道、图像采集装置和图像处理装置。通过传送轨道传送内存条可以提高内存条编码的识别速度,同时传送轨道对内存条的位置和摆置方向进行限定可以提高内存条编码识别的准确度。图像采集装置用于采集内存条图像。图像处理装置中的编码区域定义模块用于根据预先载入的内存条编码的类型、尺寸以及位置划分编码区域,编码区域的设定有利于对内存条上的多个编码进行针对性识别,可以提高编码识别速度以及编码识别的准确度。编码识别模块根据内存条图像以及编码区域对内存条编码进行识别。上述编码采集系统可以通过一帧内存条图像一次性获取内存条上的全部编码,提高了内存条编码的采集效率。
- 编码采集系统方法
- [发明专利]失效位元的修补方法及装置-CN202010832396.1有效
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陈予郎
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长鑫存储技术有限公司
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2020-08-18
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2023-09-12
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G11C29/44
- 本公开是关于一种失效位元的修补方法及装置,涉及集成电路技术领域,可以应用于对芯片中的失效位元进行修补的场景。该方法包括:确定待修补芯片的待修补区域;采用备用电路对各目标修补区域中的第一失效位元进行第一修补处理;确定第二失效位元,采用状态裁定修补步骤对第二失效位元进行第二修补处理;确定各目标修补区域的未修补失效位元,采用最佳化组合探测方式确定未修补失效位元的候选修补组合以及候选修补代价;根据候选修补代价确定目标修补代价,确定目标修补代价对应的目标修补方案,以根据目标修补方案对未修补失效位元进行修补处理。本公开可以在确定待修补芯片最佳分派解答的同时,达到大幅降低运算成本的目的。
- 失效位元修补方法装置
- [发明专利]失效位元的修补方案的确定方法-CN202010955742.5有效
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陈予郎
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长鑫存储技术有限公司
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2020-09-11
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2023-09-12
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G11C29/44
- 本申请提供一种失效位元的修补方案的确定方法,应用于包含多个子域的芯片,该芯片还包括冗余电路,该冗余电路用于修补子域中的失效位元,该方法包括:在为子域中的当前待修补的目标失效位元确定一个或者多个可用冗余电路之后,从冗余电路的可靠性列表中获取各可用冗余电路的可靠性值,该冗余电路的可靠性列表中包括多个冗余电路的可靠性值,根据该可用冗余电路的可靠性值确定子域中的目标失效位元的修补方案。其中,冗余电路的可靠性值是对已经发生的失效位元以及冗余电路中新失效位元所在的冗余电路的关系进行大数据分析得到的,通过该方法为子域中失效位元分配的冗余电路的可靠性高,从而提高了失效位元的修补效率和修补准确率。
- 失效位元修补方案确定方法
- [发明专利]失效位元修补方案的确定方法及装置-CN202010832380.0有效
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陈予郎
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长鑫存储技术有限公司
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2020-08-18
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2023-09-12
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G11C29/44
- 本公开是关于一种失效位元修补方案的确定方法及装置,涉及集成电路技术领域,可以应用于对芯片中的失效位元进行修补场景。该失效位元修补方案的确定方法包括:确定待修补芯片的待修补区域;其中,待修补区域包括多个目标修补区域;采用备用电路对各目标修补区域中的失效位元进行初始修补处理;如果剩余备用字线数量大于零且剩余备用位线数量大于零,则确定各目标修补区域的候选修补子方案,并确定各候选修补子方案分别对应的候选修补代价;根据各候选修补子方案和候选修补代价确定待修补区域的目标修补方案;其中,目标修补方案对应的综合修补代价最小。本公开可以在有限的RWL与RBL情况下,确定出最佳的分派解答。
- 失效位元修补方案确定方法装置
- [发明专利]失效位元的修补方法及装置-CN202010833678.3有效
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陈予郎
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长鑫存储技术有限公司
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2020-08-18
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2023-09-12
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G11C29/44
- 本公开是关于一种失效位元的修补方法及装置,涉及集成电路技术领域,可以应用于对芯片中的失效位元进行修补的场景。该方法包括:确定待修补芯片中包括多个目标修补区域的待修补区域;采用备用电路对各目标修补区域中的第一失效位元进行第一修补处理;执行第二失效位元的位置确定步骤以确定第二失效位元的位元位置,并对第二失效位元进行第二修补处理;确定各目标修补区域的未修补失效位元,并递归执行第二失效位元的位置确定步骤以得到未修补失效位元的测试修补位置,以根据测试修补位置对未修补失效位元进行第三修补处理。本公开提出最佳化备用电路分派的三个不同阶段的失效位元修补处理方案,可以得到针对芯片中失效位元的最佳修补方案。
- 失效位元修补方法装置
- [发明专利]失效位元的修补方法及装置-CN202010832381.5有效
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陈予郎
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长鑫存储技术有限公司
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2020-08-18
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2023-08-25
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G11C29/44
- 本公开是关于一种失效位元的修补方法及装置,涉及集成电路技术领域,可以应用于对芯片中的失效位元进行修补场景。该方法包括:确定待修补芯片的待修补区域;采用备用电路对第一失效位元进行第一修补处理;确定各目标修补区域中的第二失效位元的位元位置,对第二失效位元进行第二修补处理;确定各目标修补区域的未修补失效位元,并确定候选修补组合和候选组合数量;如果候选组合数量大于组合数量阈值,则确定目标修补位置,并采用备用字线对目标修补位置进行修补处理;其中,目标修补位置为经修补处理后最大化减少候选组合数量的失效位元的位置。本公开可以避免由于无法找到失效位元的最佳修补组合导致待修补芯片被判定为无法成功修补的问题。
- 失效位元修补方法装置
- [发明专利]失效位置的修补方法和装置-CN202110407955.9在审
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仰蕾;陈予郎
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长鑫存储技术有限公司
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2021-04-15
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2022-10-21
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H01L21/66
- 本申请实施例提供了一种失效位置的修补方法和装置,在对晶圆的失效位置进行修补时,可以先确定待处理晶圆中的失效位元;并基于挖掘规则库中包括的潜在挖掘规则,确定与失效位元存在关联的目标潜在失效位元;这样基于挖掘规则库中的潜在挖掘规则,确定与失效位元存在关联的目标潜在失效位元,可以挖掘出更多的与失效位元存在关联的目标潜在失效位元,使得后续在对失效位元对应的失效位置,和目标潜在失效位元对应的目标潜在失效位置进行修补时,可以在一定程度上避免失效位元位置被遗漏,从而有效地降低了晶圆出现故障的概率。
- 失效位置修补方法装置
- [发明专利]芯片采集方法和芯片定位方法-CN202110026098.8在审
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陈予郎
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长鑫存储技术有限公司
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2021-01-08
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2022-07-15
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G06T7/00
- 本发明实施例提供一种芯片采集方法和芯片定位方法,其中,检测标准的获取方法,包括:获取待检测图像,待检测图像中存在芯片编码图像,芯片编码图像用于标示半导体芯片;获取数据库中与待检测图像匹配度最高的对照图像的芯片位置信息,芯片位置信息用于标示对照图像中半导体芯片的位置;基于芯片位置信息,获取待检测图像中检测区域的位置,检测区域用于标示出芯片编码图像的位置;基于检测区域的位置,获取检测区域的图像;判断检测区域的图像中是否存在芯片编码图像;若检测区域的图像中存在芯片编码图像,识别芯片编码图像对应的芯片编码,并将芯片编码存储在数据库中;本发明实施例旨在自动化实现芯片托盘上芯片的编码获取。
- 芯片采集方法定位
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