专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种偏振光散射光谱成像内窥装置与探测方法-CN202111594941.9有效
  • 穆廷魁;阿卜杜萨拉木·图尼亚孜;韩风;李昊阳 - 西安交通大学
  • 2021-12-23 - 2023-05-30 - G02B27/28
  • 本发明偏振光散射光谱成像内窥装置,包括线偏振光产生模块、偏振调制模块和光谱采集处理显示系统;所述偏振调制模块包括消色差四分之一波片、延迟器和线偏振片;线偏振光产生模块用于提供照射探测目标的线偏振光;所述线偏振光在所述探测目标散射,产生后向散射光;后向散射光依次经消色差四分之一波片、延迟器和线偏振片,完成偏振调制;光谱采集处理显示系统对完成偏振调制的光线进行光谱成像并解调;本发明可解决内窥镜活检通道的空间利用率不高的问题,并在此基础上进一步解决PLSS探头成像效率不高的问题,适用于探测消化道早癌信息,并在口腔癌、食管癌、胃癌、结肠癌等疾病诊断领域具有潜在的应用价值。
  • 一种偏振光散射光谱成像装置探测方法
  • [发明专利]一种提高近红外高反膜激光损伤阈值的方法-CN201410050291.5在审
  • 程鑫彬;阿卜杜萨拉木·图尼亚孜;焦宏飞;鲍刚华;王占山 - 同济大学
  • 2014-02-13 - 2014-09-10 - C23C14/30
  • 本发明涉及一种提高光学薄膜损伤阈值的设计方法,该方法属于薄膜光学领域,主要针对高反射膜中影响损伤阈值的最主要的缺陷-节瘤缺陷。节瘤缺陷的阈值决定整个薄膜的阈值。目前提高高反膜激光损伤阈值的技术手段主要通过消除节瘤,即尽可能的降低节瘤密度和尺寸来提升薄膜的阈值。但是在目前的技术条件下,消除节瘤需要的工艺难度大,需要的成本高,而且无法完全消除。本发明提出了一种直接提高节瘤阈值从而提升薄膜阈值的方法。理论和实践已经证明,电场在节瘤损伤特性中起很重要的角色,而节瘤中的电场与节瘤的几何特性和光谱特性信息相关。通过改变膜系设计来降低节瘤中的电场强度,从而提高节瘤的损伤阈值。此方法具有针对性强,效率高,简单易行的特点。
  • 一种提高红外高反膜激光损伤阈值方法

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