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[发明专利]热重量测量装置-CN201410524400.2有效
发明人：西村晋哉;山田健太郎;长泽宽治;高泽良治 -专利权人：日本株式会社日立高新技术科学
申请日： 2014-10-08 - 公布日： 2019-04-23 - 主分类号： G01N25/00 文献下载
摘要：本发明提供热分析装置，能够观察热分析中的试样的变化，并减少从加热炉对炉管内的试样直接放射的辐射热而提高了热分析的测量精度。热分析装置（100）具备：由透明材料形成的炉管（9）、配置在炉管的内部并将分别收容测量试样（S₁）及参照试样（S₂）的一对试样容器（51、52）分别保持在自身的载置面（41s、42s）上的一对试样保持件（41、42）、和包围炉管的筒状的加热炉（3），当从与轴向（O）垂直且与载置面垂直的方向观察时，加热炉具有在沿着将载置面彼此的重心（G1、G2）连结的线段（M）的方向（P）以该线段作为中心为7mm以上、在与线段垂直的方向以该线段作为中心为3mm以上且至少与线段重叠的开口部（W），能够经由该开口部观察测量试样。
分析装置

[发明专利]热分析装置-CN201310070923.X有效
发明人： 长泽宽治;山田健太郎;西村晋哉 -专利权人：精工电子纳米科技有限公司
申请日： 2013-03-06 - 公布日： 2013-09-18 - 主分类号： G01N5/04 文献下载
摘要：提供能够观察热分析中的样品变化的热分析装置。一种热分析装置(100)，具备：由透明材料构成的炉管(9)；加热炉(3)；样品保持设备(41、42)，配置于炉管的内部；第一支撑台(12)；第二支撑台(14)；炉管固定部(16)，将炉管固定于第一支撑台；加热炉固定部(18)，将加热炉固定于第二支撑台；测定室(30)，连接至炉管；第一移动设备(22)，使第一支撑台和第二支撑台在炉管连接至测定室的测定位置与样品保持设备比炉管和加热炉更露出至后端侧的样品安置位置之间移动；以及第二移动设备(24)，在加热炉前进且炉管露出的样品观察位置仅使第二支撑台移动。能够从露出的炉管的外侧观察样品。
分析装置

[发明专利]ICP分析装置及其分析方法-CN201110086370.8有效
发明人：田边英规;长泽宽治;赤松宪一;松泽修;中野信男 -专利权人：精工电子纳米科技有限公司
申请日： 2011-03-29 - 公布日： 2011-11-09 - 主分类号： G01N21/73 文献下载
摘要：本发明涉及一种ICP分析装置及其分析方法，活用能进行高灵敏度测定但装置的劣化快的等离子体的发生轴方向测定和装置劣化少但灵敏度低的等离子体的横向测定中各测定的特征而能够进行高灵敏度且减轻了装置的劣化的倾斜方向测定。构成为：为了将所述等离子体喷灯设定为任意角度，以直线状对置地配置等离子体喷灯和聚光部时为基准，使至少一个相对于ICP分析装置中的聚光部的等离子体的光的取进方向转动，从而以任意角度对置。
icp 分析装置及其方法