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[实用新型]一种芯片测试系统-CN202221176547.3有效
发明人：肖毅;钟汝军;苑鹏 -专利权人：珠海全志科技股份有限公司
申请日： 2022-05-16 - 公布日： 2022-11-08 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种芯片测试系统，包括自动化测试平台、异步通信模块及被测芯片，自动化测试平台与被测芯片通过排线连接，异步通信模块包括第一串行收发器、第二串行收发器、命令译码控制器、内存控制器及数据暂存区，第一串行收发器通过总线与自动化测试平台连接，第二串行收发器通过SPI总线与被测芯片连接，命令译码控制器均与第一串行收发器和第二串行收发器电连接，内存控制器电连接命令译码控制器及数据暂存区。本实用新型实施例能够提高芯片的测试效率，可广泛应用于集成电路测试领域。
一种芯片测试系统

[发明专利]多媒体接口的量产测试系统及其方法-CN202111223848.7在审
发明人：陈乐欢;钟汝军 -专利权人：珠海全志科技股份有限公司
申请日： 2021-10-20 - 公布日： 2022-02-18 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了多媒体接口的量产测试系统及其方法，该系统包括：ATE，为待测芯片提供电源，发送测试开始/结束指令；PLD模组，PLD模组通过桥接子模组或直接与待测芯片连接，桥接子模组的芯片类型根据对接的待测芯片的接口类型及扇出位置确定；待测芯片配置自身的待测多媒体接口后进入待测状态，根据待测环路配置PLD模组的数据FIFO、开关模块、发送模块及接收模块；待测芯片，使能所述发送模块发送测试数据，同时通过所述PLD接收器接收测试数据；或者通过所述PLD发生器发送数据，同时通过所述待测芯片接收的测试数据按预设数据模式进行解码比较，得到比较结果。本发明对ATE资源要求低，测试成本低廉，具有高集成、易扩展、易移植的特点。
多媒体接口量产测试系统及其方法

[发明专利]芯片自动测试方法及系统-CN201710052105.5有效
发明人： 钟汝军;刘元才;陈乐欢 -专利权人：珠海全志科技股份有限公司
申请日： 2017-01-20 - 公布日： 2019-12-10 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明涉及一种芯片自动测试方法及系统，所述方法包括实时记录被测试芯片在各测试时间点的各管脚的测试值；提取所述测试值；将所述测试值与期望值进行比较，并根据所述比较结果生成对比报告；根据所述对比报告定位所述被测试芯片的失效信息，所述失效信息包括失效管脚和所述失效管脚的失效时间点。本发明可以获取全部失效管脚的失效时间点，便于根据失效管脚的失效时间点，对失效位置和失效原因进行定位分析，还可以通过设置不同的期望值等，对测试值进行全面的分析，给出更加详细更加准确的测试结果，保证测试成功率。
芯片自动测试方法系统

[发明专利]集成电路测试板卡-CN201410843841.9有效
发明人： 钟汝军;陈乐欢 -专利权人：珠海全志科技股份有限公司
申请日： 2014-12-30 - 公布日： 2019-03-05 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种集成电路测试板卡，包括主控模块、向量比对模块、参数量测模块和存储模块；主控模块通过三态总线与backplane板卡通讯连接；向量比对模块和参数量测模块均与被测集成电路连接；主控模块包括DC测试控制子模块和AC测试控制子模块；DC测试控制子模块，用于控制参数量测模块对被测集成电路进行DC测试；AC测试控制子模块分别与存储模块和向量比对模块连接，用于读取并根据存储模块中预存的测试向量产生特定格式的激励信号，并传输激励信号至向量比对模块；向量比对模块接收并施加激励信号至被测集成电路，对被测集成电路进行AC测试。其硬件结构简单，只需插上220V两相交流电，即可进行被测集成电路的测试。
集成电路测试板卡

[发明专利]SOC芯片LVDS接口测试方法及装置-CN201310535730.7在审
发明人： 钟汝军;陈荣志;杜联平 -专利权人：珠海全志科技股份有限公司
申请日： 2013-11-01 - 公布日： 2014-02-05 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明涉及LVDS接口技术领域，提供一种SOC芯片LVDS接口测试方法，将集成在SOC芯片中的LVDS发送器输出的串行信号转换为TTL电平的并行信号，再对TTL电平的并行信号进行测试。同时提供一种SOC芯片LVDS接口测试装置，包括用于将集成在SOC芯片中的LVDS发送器输出的串行信号转换为TTL电平的并行信号的LVDS接收器，及用于对TTL电平的并行信号进行测试的可编程逻辑器件。本发明的测试装置价格低廉，与现有的ATE测试平台相比具有明显的价格优势，大大降低了测试成本。
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