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[发明专利]一种双目视觉图像半全局匹配方法-CN202311009580.6在审
发明人：郑飞;郎斯喆;林贵成 -专利权人：合肥图迅电子科技有限公司
申请日： 2023-08-11 - 公布日： 2023-09-08 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种双目视觉图像半全局匹配方法，属于半导体检测技术领域。由于现有的匹配方法不能适应芯片引脚等表面光滑的物体的检测，本发明的一种双目视觉图像半全局匹配方法，通过选取图像的特征点，再对待匹配图像进行两次特征点的匹配，去除掉一次匹配中的噪声点，进而保证了特征点与匹配点的对应性，从而有效去除匹配效果欠佳的匹配点，提高匹配精度。
一种双目视觉图像全局匹配方法

[发明专利]芯片引脚外观识别方法、装置、计算机设备及存储介质-CN202310624497.3有效
发明人： 郎斯喆;郑飞 -专利权人：合肥图迅电子科技有限公司
申请日： 2023-05-30 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： G06V10/75 文献下载
摘要：本发明公开了一种芯片引脚外观识别方法、装置、计算机设备及存储介质，属于半导体检测技术领域。针对现有技术中存在的pin1引脚外观和其他引脚外观区分难度大等问题，本发明通过设定当前点，计算模板图像曲线上每个点的径向方向，通过当前点和径向方向确定径向直线，计算引脚感兴趣区域图像曲线与径向直线的拟合点，计算当前点和拟合点的欧式距离，累加当前点和拟合点的欧式距离，通过判断当前点和拟合点的欧式距离的大小从而确定引脚感兴趣区域图像中的引脚是否为pin1引脚，由此，当pin1引脚和其他引脚外观区分度很小并且在加工造成的引脚边缘轻微变形的情况下可以快速、鲁棒的检测出pin1引脚。
芯片引脚外观识别方法装置计算机设备存储介质

[发明专利]一种晶圆裂缝检测方法、装置及存储介质-CN202211713591.8有效
发明人： 郎斯喆;余志强;李杰;孙峰 -专利权人：合肥图迅电子科技有限公司
申请日： 2022-12-30 - 公布日： 2023-03-07 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种晶圆裂缝检测方法、装置及存储介质，属于晶圆检测技术领域。针对现有技术中在进行晶圆表面裂缝检测时，由于裂缝结构不连续等问题导致裂缝难以检测，本发明将晶圆表面图像通过滤波器进行卷积，对卷积后的晶圆表面图像二值化处理得到二值图像；将二值图像中所有保留的连通域拟合成线段；判断拟合线段的方向和预先设置的滤波器的方向差异，保留与滤波器方向相近的拟合线段；对保留的拟合线段进行聚类，保存属于同一类的拟合线段的端点坐标；计算每个类别中坐标点的最小外接矩形，通过最小外接矩形的长度和位置信息判断该类别是否为裂缝，从而通过滤波器增强裂缝结构及线段聚类，实现在复杂背景下的晶圆裂缝的检测和提取。
一种裂缝检测方法装置存储介质