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- [发明专利]一种误码测试装置-CN202310846107.7在审
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邓仁辉;周晓峰;廉哲
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苏州联讯仪器股份有限公司
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2022-05-19
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2023-09-15
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H04L1/20
- 本发明提供了一种误码测试装置,属于误码仪技术领域。该误码测试装置包括误码仪;被测器件线路板,与所述误码仪形成可拆卸连接且与所述误码仪连接时通信连接,所述被测器件线路板设有用于插接待测光模块的接口;以及压接盒,与所述误码仪形成可拆卸连接,所述压接盒内设有与所述被测器件线路板上的所有所述待测光模块对应的压接结构和温控结构,所述温控结构用于对所述待测光模块进行温度控制,所述压接结构用于将所述待测光模块压接在所述温控结构上。本发明的误码测试装置能够提高生产换线的效率。
- 一种测试装置
- [发明专利]一种误码测试装置-CN202210555651.1有效
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邓仁辉;周晓峰;廉哲
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苏州联讯仪器股份有限公司
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2022-05-19
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2023-08-01
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H04L1/20
- 本发明提供了一种误码测试装置,属于误码仪技术领域。该误码测试装置包括误码仪;被测器件线路板,与所述误码仪形成可拆卸连接且与所述误码仪连接时通信连接,所述被测器件线路板设有用于插接待测光模块的接口;以及压接盒,与所述误码仪形成可拆卸连接,所述压接盒内设有与所述被测器件线路板上的所有所述待测光模块对应的压接结构和温控结构,所述温控结构用于对所述待测光模块进行温度控制,所述压接结构用于将所述待测光模块压接在所述温控结构上。本发明的误码测试装置能够提高生产换线的效率。
- 一种测试装置
- [发明专利]一种模块化误码测试装置-CN202210145949.5有效
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周晓峰;范学斌;邓仁辉
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苏州联讯仪器股份有限公司
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2021-12-27
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2023-04-14
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H04B10/079
- 本发明提供了一种模块化误码测试装置,属于通信技术领域。该模块化误码测试装置包括:测试仪箱体,其形成有多个沿其长度方向延伸的安装腔体,每一安装腔体的前端设有安装开口、两侧安装有通道导轨,每一安装腔体内的两个通道导轨面向彼此的一侧均设有安装凹槽,用于插接水平布置的测试板,测试板的长度方向上的一端与箱体固定,另一端设有用于插接待测光模块的连接器,每一通道导轨靠近连接器的位置设有沿竖向布置的通孔,用于安装球头柱塞,球头柱塞的球头端与测试板抵接,测试板的预设区域内设有多个用于增加测试板的柔性的微型孔。本发明的模块化误码测试装置能够保证不同的待测光模块与连接器都接触良好。
- 一种模块化测试装置
- [发明专利]一种防冲击自锁钱胆装置-CN202211495344.5在审
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李永康;邓仁辉;刘阳忠;王建华;滕学文;韩宽
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郑州天迈科技股份有限公司
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2022-11-27
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2023-02-03
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E05G1/02
- 本发明提供了一种防冲击自锁钱胆装置,电机上安装凸轮和齿轮,电机带动偏心轮,偏心轮通过设置的凹点和齿轮设置的凸点配合带动滑板在钱胆外壳与电气安装盒之间的轨道内滑动,通过控制器上的传感器(红外、霍尔等检测手段)检测滑板检测条的位置信息,当到达锁闭位置和开启位置时,自锁装置自动锁闭滑板,达到锁闭和开启钱胆的功能,本发明提供的防冲击自锁钱胆装置,利用锁杆锁定电机和滑板,防止钱胆受到非正常外力冲击,导致钱胆上的滑板移动,影响钱胆的安全性能,同时避免冲击过程中,电机等精密部件非正常转动或松动,使电机等机构受到损伤,解决锁胆机构在冲击下容易造成损坏电机的问题,同时设置了摩擦打滑装置,实现应急开锁功能。
- 一种冲击锁钱胆装置
- [发明专利]一种芯片测试装置-CN202210852094.X在审
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邓仁辉;罗跃浩;赵山;廉哲
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苏州联讯仪器有限公司
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2022-05-27
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2022-11-01
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G01R1/04
- 本发明提供了一种芯片测试装置,涉及半导体芯片检测技术领域。本发明的芯片测试装置包括至少一个测试抽屉,每一测试抽屉包括位于测试抽屉一端的通风口和位于通风口处的散热组件。散热组件包括风扇和风控组件。风控组件包括支架和与支架可转动连接的叶轮,支架处设置多个第一通孔,叶轮处设置多个第二通孔,风控组件构造成在风扇转动时,叶轮转动至第二通孔与第一通孔贯通,在风扇停止转动时,叶轮转动至第二通孔与第一通孔错开。本发明的装置保证了位于壳体内部的不同的芯片位置处的温度一致,避免因芯片底部的散热片和热沉与通风口的距离以及散热片与外界较大气流量对流而影响到芯片的可靠性测试时的温度不一致,提高测试准确性。
- 一种芯片测试装置
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