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- [发明专利]测试环境自动部署方法-CN202211590973.6在审
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赵胜平
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长沙景嘉微电子股份有限公司
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2022-12-12
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2023-05-23
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G06F11/36
- 本申请适用于软件测试技术领域,提供了一种测试环境自动部署方法。该方法通过服务器对预先设置的多个测试环境中每个测试环境的标签信息进行分析,得到测试环境分类索引表;待部署主机向服务器发送部署请求,服务器根据部署请求中的请求信息与待部署主机建立传送连接;在传送连接成功后,服务器向待部署主机传送测试环境分类索引表;待部署主机获取下载连接支持协议,并根据下载连接支持协议与服务器建立下载连接;在下载连接成功后,待部署主机通过接口获取自身GPU类型和自身CPU类型;待部署主机根据测试环境分类索引表、自身GPU类型和自身CPU类型,从服务器下载测试环境,并完成部署。本申请能根据不同的系统信息自动部署测试环境。
- 测试环境自动部署方法
- [发明专利]一种基于扫描链的芯片分析方法-CN201710516715.6有效
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赵胜平;黄运新;张鹏
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记忆科技(深圳)有限公司
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2017-06-29
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2021-05-28
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G06F11/22
- 本发明公开了一种基于扫描链的芯片分析方法,其特征在于芯片内部的存储器的时钟和带扫描输入寄存器的时钟统一由片外控制,存储器的读写控制信号CE与扫描链的片选信号SI相连接,存储器的地址信号分别连接到位于扫描链头部的带扫描输入寄存器的输出端;存储器的地址信号ADDR[1]与数据信号DATA[0]分别连接在同一个数据选择器的两个输入端,该数据选择器的输出端与DATA[1]分别连接在另一个数据选择器的两个输入端,两个数据选择器的输出端分别连接到位于扫描链尾部的两个带扫描输入寄存器的输入端;两个数据选择器的控制端与采样信号相连。通过提出一种不依赖于CPU和Jtag的方式,并以兼容复用扫描链定位芯片内部问题的逻辑,快速定位芯片内部存储问题,节省debug时间,排除制造及设计可能引入或存在的问题。
- 一种基于扫描芯片分析方法
- [发明专利]一种基于扫描链的芯片分析方法-CN201710132264.6有效
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赵胜平
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记忆科技(深圳)有限公司
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2017-03-07
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2020-12-18
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G06F11/22
- 本发明公开了一种基于扫描链的芯片分析方法,其特征在于将CPU中需要保存状态的普通寄存器替换为带扫描输入寄存器,当CPU出现异常时,通过JTAG输出串行扫描触发指令,启动扫描链数据保存操作,将带扫描输入寄存器的数据串行通过JTAG口输出给调试主机,调试者分析调试主机接收到的各个带扫描输入寄存器的数据,分析完成后,通过控制JTAG输出控制复位信号对CPU进行复位操作,控制CPU恢复正常工作。通过扫描链机制的方法可实现在CPU出现异常时刻快速方便读出芯片主要寄存器的状态,并配合JTAG的工具实现对出现异常的CPU进行快速分析和问题定位,可大大提升开发效率。
- 一种基于扫描芯片分析方法
- [实用新型]一种印刷污水处理板-CN201721023442.3有效
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叶文桂;叶昕;叶秀红;赵胜平
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江苏韵燕印刷版材有限公司
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2017-08-15
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2018-04-03
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B01D29/01
- 本实用新型公开了一种印刷污水处理板。通过输液道、第一过滤腔、第二过滤腔、第三过滤腔和排液道的配合设置,使污水可通过依次第一过滤腔、第二过滤腔和第三过滤腔进行逐步过滤,除去污水中的杂质,通过带有网栏的上固定片和下固定片的配合设置,可承接过滤留下的颗粒,并使污水通过,并方便装设过滤芯以对污水进行过滤,通过固定支脚和可调支脚的设置便于支撑板体,且调节可调支脚套筒可以适当调节板体的工作角度,通过卡扣座与卡扣的配合设置,方便在不使用时将固定支脚和可调支脚进行固定。本实用新型对印刷污水的过滤效果较好,在处理相对较少的污水时使用起来比较节省时间,使用方便。
- 一种印刷污水处理
- [发明专利]一种基于扫描链的CPU低功耗实现方法-CN201710131590.5在审
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赵胜平
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记忆科技(深圳)有限公司
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2017-03-07
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2017-08-04
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G06F1/32
- 本发明公开了一种基于扫描链的CPU低功耗实现方法,其特征在于将CPU中需要保存状态的普通寄存器替换为带扫描输入寄存器,所述CPU接收到待机指令后,启动扫描链数据保存操作,将带扫描输入寄存器的数据串行扫描并输出存储到CPU待机是不会关闭的SRAM中,再触发CPU进入待机模式;当CPU接收到唤醒中断输入时将存储在SRAM中的带扫描输入寄存器的反向数据串行输出到对应的带扫描输入寄存器。本发明通过增加扫描链机制的方法可实现在微秒级的短时间内实现对CPU状态的保存,并可实现在同样短时间内的CPU状态的恢复,同时实现大大降低CPU的静态功耗,可在各类CPU设计中广泛应用,具有较高的应用价值。
- 一种基于扫描cpu功耗实现方法
- [实用新型]光学膜片自动检测设备-CN201120299231.9有效
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范卫星;董兴华;赵胜平
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奥普镀膜技术(广州)有限公司
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2011-08-17
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2012-05-09
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G01M11/02
- 本实用新型公开了一种光学膜片自动检测设备。光学膜片自动检测设备,包括底座,所述的底座上设有膜片上料盘、膜片检测台、若干个分等级的装膜片盒,所述的底座上设有可对膜片上料盘中的光学膜片进行图象坐标定位的定位CCD,所述的底座上设有第一机械臂和第二机械臂,第一机械臂和第二机械臂上分别设有拾取器,第一机械臂根据光学膜片的坐标定位来移动,第一机械臂上的拾取器拾取膜片并放置到膜片检测台上,第二机械臂上根据膜片检测结果来移动,第二机械臂上的拾取器拾取膜片并将放置到不同等级的装膜片盒内。本实用新型可实现膜片的全自动化检测,检测效率高,膜片产品的品质控制可得到有效保障。
- 光学膜片自动检测设备
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