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[发明专利]一种用于信号源的键盘和液晶调测装置及调测方法-CN202310938410.X在审
发明人：孟勇萍;赵习智;孙立;姜正吉;宫斌;赵尊旭;宋志强 -专利权人：中电科思仪科技股份有限公司
申请日： 2023-07-27 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于信号源的键盘和液晶调测装置及调测方法，涉及信号发生器调测技术领域。该调测装置包括基础平台；基础平台上表面设置有上托架、下托架和液晶托架，分别安装有待调测的键盘板、按键板，液晶；基础平台为待测液晶、按键板和键盘板提供电源和接口，下托架和液晶托架均通过托架固定装置与基础平台上表面连接，上托架通过托架固定装置与液晶托架连接，托架固定装置与基础平台表面固定连接，托架固定装置与上托架、下托架和液晶托架均为转动连接。本发明设计集成键盘和液晶调测的专有调测平台，减少模块拆卸次数，降低磨损，延长平台使用寿命。其调试方法使信号源生产调试过程中的电路板调试实现自动化，提高电路板调试的效率和准确度。
一种用于信号源键盘液晶装置方法

[发明专利]一种矢量微波模块调测装置及调测方法-CN202310839284.2在审
发明人：王涛;赵习智;马骏 -专利权人：中电科思仪科技股份有限公司
申请日： 2023-07-10 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种矢量微波模块调测装置及调测方法，属于矢量微波模块调测技术领域。包括主控单元、信号源生成单元、程控微波开关和测试单元；主控制单元用于获取待测试信号类型并将待测试信号类型发送至信号源生成单元和程控微波开关；信号源生成单元根据待测试信号类型，生成信号源并输入待调测矢量微波模块，以生成待测试信号；程控微波开关用于根据待测试信号类型，采集待测试信号并输入测试单元；测试单元用于对待测试信号进行测试，获取待调测矢量微波模块的调测参数能够实现参考信号发生模块的自动化测试。能够提高自动化测试效率，减少测量结果误差；解决了现有技术中存在的人工测试效率低且质量差的问题。
一种矢量微波模块装置方法

[发明专利]一种CPU模块调测系统及方法-CN202310708550.8在审
发明人：黄旭昭;赵习智;刘嘉豪;邱田华;姜正吉;宋志强;谢义明 -专利权人：中电科思仪科技股份有限公司
申请日： 2023-06-14 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种CPU模块调测系统及方法，涉及电子产品制造技术领域。包括待测CPU模块、安装平台和上位机，其中：安装平台，其用于连接并承载待测CPU模块；上位机，其用于与待测CPU模块通信,控制测试软件在待测CPU模块上的加载和运行，获取待测CPU模块的测试结果并生成测试结果表格；待测CPU模块，其用于与上位机通信，运行上位机的指令，执行测试程序并将测试结果反馈至上位机。本发明调测系统根据模块特点进行了结构优化设计，并提供了丰富的外设测试环境，可对CPU模块进行相对完整的功能测试，提高了调测质量和调测效率，推动了整件自动化生产，生成CPU模块性能测试记录表,增强调试数据可追溯性。
一种 cpu 模块系统方法

[发明专利]一种基带信号发生模块调测装置及方法-CN202310710274.9在审
发明人：欧鹏龙;赵习智;马骏;谷帆;史亚婷;刘嘉豪 -专利权人：中电科思仪科技股份有限公司
申请日： 2023-06-14 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： H04B17/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基带信号发生模块调测装置及方法，属于调测装置技术领域。包括第一控制单元、第二控制单元、信号源和信号调测单元；第一控制单元用于获取测试人员的调测需求并生成调测流程，信号源用于发出5GHz参考信号至待测的基带信号发送模块，第二控制单元用于获取调测需求并根据调测需求发出控制信号和时钟信号至待测的基带信号发送模块，待测的基带信号发送模块根据5GHz参考信号和控制信号生成待测信号，信号调测单元用于获取待测信号和调测流程并根据调测流程进行调测。实现了高效率、自动化的基带信号发生模块调试，解决了现有技术中存在“调测效率低且可调测质量与人员素质关系较大”的问题。
一种基带信号发生模块装置方法

[发明专利]一种参考信号发生模块调测装置及方法-CN202310708712.8在审
发明人：马骏;赵习智;谷帆;史亚婷;刘亮 -专利权人：中电科思仪科技股份有限公司
申请日： 2023-06-14 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： H04B17/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种参考信号发生模块调测装置及方法，属于参考信号发生模块调测技术领域。包括主控制单元、模块控制单元、采集单元和信号测试单元；主控制单元用于获取模块工作模式和测试需求，生成工作模式指令并发送至模块控制单元；选择测试流程并发送至信号检测单元；生成参考信号采集指令并发送至采集单元；模块控制单元用于根据工作模式指令，控制待测的参考信号发生模块生成待测试参考信号；采集单元用于根据参考信号采集指令采集待测试参考信号并发送至信号测试单元；信号测试单元用于根据测试流程对待测试参考信号进行测试。能够实现参考信号发生模块的自动化测试，解决了现有技术中存在“人工测试效率低且标准不一致”的问题。
一种参考信号发生模块装置方法

[发明专利]一种介质基片光刻对准标记、对准方法及光刻方法-CN201810663301.0有效
发明人：宋振国;王斌;路波;赵习智 -专利权人：中国电子科技集团公司第四十一研究所
申请日： 2018-06-25 - 公布日： 2020-10-27 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：本发明提出了一种介质基片光刻对准标识，所述对准标识为使用激光机加工的“十”字对准标记，加工遍数为1次；“十”字对准标记的横线和竖线的中心具有相对边沿更亮的中心线；“十”字对准标记设置在介质基片边缘。本发明在激光加工介质基片上的“十”字对准标记时只加工1遍，在光刻机的目镜中能形成清晰的中心线，使之与掩模版上“十”字对准标记的中心线对准，提高了薄膜电路的制造精度和一致性。
一种介质光刻对准标记方法

[发明专利]宽带多点参考信号发生模块的测试装置、系统及设备-CN201810500649.8在审
发明人：马骏;梅跃;赵习智 -专利权人：中国电子科技集团公司第四十一研究所
申请日： 2018-05-23 - 公布日： 2018-10-02 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种宽带多点参考信号发生模块的测试装置、系统及设备，可通过采集待测试的宽带多点参考信号发生模块生成的宽带多点参考信号，根据预设的测试流程，在测试平台中对于所述宽带多点参考信号进行测试处理，以获取测试参数。通过上述宽带多点参考信号发生模块的测试方法、装置、系统以及设备，即可解决相关技术中宽带多点参考信号发生模块的测试效率较低的问题，以达到对于宽带多点参考信号发生模块的高效测试处理。
宽带发生模块系统及设备测试处理测试装置测试测试参数测试流程测试平台测试效率中宽带预设采集

[发明专利]labview在宽带多点参考信号发生模块的自动测试方法-CN201810500084.3在审
发明人：梅跃;马俊;唐昱龙;赵习智 -专利权人：中国电子科技集团公司第四十一研究所
申请日： 2018-05-23 - 公布日： 2018-09-18 - 主分类号： G01R35/02 文献下载
摘要：本发明公开了一labview在宽带多点参考信号发生模块的自动测试方法，可通过采集待测试的宽带多点参考信号发生模块生成的宽带多点参考信号，根据预设的测试流程，在测试平台中对于所述宽带多点参考信号进行测试处理，以获取测试参数。通过上述labview在宽带多点参考信号发生模块的自动测试方法、装置、系统以及设备，即可解决相关技术中宽带多点参考信号发生模块的测试效率较低的问题，以达到对于宽带多点参考信号发生模块的高效测试处理。
宽带发生模块自动测试测试处理测试参数测试流程测试平台测试效率中宽带预设采集测试

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