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[发明专利]一种难混溶金属的非晶态合金厚膜的制备方法-CN202210424640.X在审
发明人：易军;贾生伟;黄波;卞西磊;贾延东;王刚 -专利权人：上海大学
申请日： 2022-04-21 - 公布日： 2022-07-29 - 主分类号： C23C14/34 文献下载
摘要：本发明公开了一种难混溶金属的非晶态合金厚膜的制备方法，就是将难混溶的金属拼接成靶材，用聚焦离子源以一定能量轰击靶材，将本来难以混溶的原子溅射出来并沉积到旋转的衬底上，衬底的旋转使得合金成分均匀。由于冷却速度非常高，难混溶原子来不及进行相分离而形成非晶态合金。在溅射沉积的同时，用辅助离子源对正在生长的合金膜表面用较小的能量和束流进行轰击，提高薄膜在沉积过程中的致密性，从而实现对非晶态难混溶合金厚膜的制备。该方法可显著提高合金的非晶形成能力，所制备的难互溶合金膜厚度甚至可以达到100微米以上，尺寸大，致密度高。
一种难混溶金属非晶态合金制备方法

[发明专利]一种航天飞行器分离装置的分离壳体-CN202011186560.2在审
发明人：王宇锐;王宁;范新中;陈增奎;方泽平;梁祖典;杨东生;张瑾瑜;牛飞;王晓鹏;雷豹;丁国元;夏艳;程蕾;单亦姣;姚重阳;许俊伟;唐念华;刘鹏;张东;龚旻;高峰;任新宇;王冀宁;罗波;于贺;贾生伟 -专利权人：中国运载火箭技术研究院
申请日： 2020-10-30 - 公布日： 2021-02-02 - 主分类号： B64G1/64 文献下载
摘要：本申请实施例提供了一种航天飞行器分离装置的分离壳体，包括：削弱槽，设置在所述分离壳体的外表面，所述削弱槽将所述分离壳体的外表面划分为两个部分；爆炸性部件安装位置，用于安装分离装置的爆炸性部件，位于所述分离壳体的内表面，所述削弱槽和所述爆炸性部件安装位置相背设置；其中，所述削弱槽用于削弱分离壳体在所述削弱槽处的强度和刚度，以在所述爆炸性部件安装位置的爆炸部件发生爆炸时，所述分离壳体沿所述削弱槽分为两部分。本申请实施例解决了传统的航天飞行器分离装置的分离壳体结构复杂，装配难度大的技术问题。
一种航天飞行器分离装置壳体

[发明专利]一种电子整机贮存寿命评估方法及装置-CN201710206016.1有效
发明人：范晔;李宝玉;陈津虎;马晓东;杨志刚;贾生伟;胡彦平;陈文辉;王冀宁;张喆 -专利权人：北京强度环境研究所;中国运载火箭技术研究院;北京航天自动控制研究所
申请日： 2017-03-31 - 公布日： 2020-09-04 - 主分类号： G06F11/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种电子整机贮存寿命评估方法及装置。方法包括：获取电子整机的性能退化数据和自然贮存年限；根据所述性能退化数据中的试验样本构建退化数据趋势模型，并根据所述退化数据趋势模型以及所述性能退化数据中的验证样本，获取所述电子整机的预测寿命；根据所述自然贮存年限和预建立加速模型获取加速因子；根据所述电子整机的预测寿命和所述加速因子获取所述电子整机的特征寿命。本发明通过对电子整机的性能退化数据进行分析，并根据分析结果评估电子整机的寿命，然后基于电子整机的贮存年限分析电子整机的加速因子，进而结合评估出的寿命和加速因子评估电子整机的特征寿命，具有评估精确度高的优点。
一种电子整机贮存寿命评估方法装置

[发明专利]一种电缆网加速贮存试验方法及其装置-CN201710507480.4在审
发明人：杨学印;贾生伟;陈文辉;李宝玉;陈津虎;张喆;白璐;郭城;朱曦全;胡彦平;周芳 -专利权人：北京强度环境研究所;中国运载火箭技术研究院;北京航天自动控制研究所
申请日： 2017-06-28 - 公布日： 2017-11-24 - 主分类号： G01R31/08 文献下载
摘要：本发明提供一种电缆网加速贮存试验方法及装置，电缆网加速贮存试验方法，包括基于所述电缆网的贮存极限温度应力和第一温度应力，对所述电缆网采用定时和定数相结合的截尾方式，进行加速贮存试验；其中，所述第一温度应力基于所述电缆网在实际贮存中的最高温度来确定。本发明采用温度应力为加速应力，采用步退应力试验方法对电缆网进行加速贮存试验，根据完成的试验情况，可以在较短的时间内评估电缆网贮存寿命。
一种电缆加速贮存试验方法及其装置

[发明专利]一种配电器整机加速贮存试验方法及寿命评估方法-CN201710495423.9在审
发明人：任鹏;李宝玉;陈文辉;陈津虎;马晓东;贾生伟;张喆;白璐;胡彦平;朱曦全 -专利权人：北京强度环境研究所;中国运载火箭技术研究院;北京航天自动控制研究所
申请日： 2017-06-26 - 公布日： 2017-10-27 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明提供一种配电器整机加速贮存试验方法及寿命评估方法，配电器加速贮存试验方法，包括基于所述配电器整机的温度循环加速贮存试验剖面图，对所述配电器整机进行加速贮存试验。本发明提供的配电器加速贮存试验方法，基于温度循环试验剖面，适用于配电器类产品寿命期内规定的库房贮存环境条件，可以在较短的时间内验证配电器类产品贮存寿命，并激发贮存薄弱环节，为配电器类产品研制及定型提供试验方法与评估方法，为验证配电器类产品的贮存寿命提供支撑。
一种配电整机加速贮存试验方法寿命评估