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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]具有冷却回路的主轴装置-CN201610086868.7在审
发明人：陈冠领;许益彰 -专利权人：协鸿工业股份有限公司
申请日： 2016-02-16 - 公布日： 2017-08-22 - 主分类号： B23B19/02 文献下载
摘要：一种具有冷却回路的主轴装置，包含一个轴套件、一个衬筒单元及一个拉杆单元。该轴套件呈中空筒状且沿一条轴线延伸，该衬筒单元安装于该轴套件，且呈中空筒状，并具有至少一个引流孔，在一个外周面与该轴套件的一个内环面之间产生数个外冷却流道，该拉杆单元安装于该衬筒单元中，将冷却液引入于该衬筒单元的一个轴孔，且沿该轴线流动后，经由该引流孔而流入于所述外冷却流道，再反向流动，且朝外导出。借此，既能对该衬筒单元的内侧进行冷却，也能对衬筒单元的外侧及该轴套件进行冷却，使得该主轴单元产生较佳的冷却效果，且能提升该主轴装置的加工精度。
具有冷却回路主轴装置

[实用新型]高速主轴的防水前盖-CN201620147004.7有效
发明人：陈冠领;许益彰;游復麟 -专利权人：协鸿工业股份有限公司
申请日： 2016-02-27 - 公布日： 2016-09-07 - 主分类号： B23B19/02 文献下载
摘要：一种高速主轴的防水前盖，其包括：主体的一端装设有心轴，心轴一端组装于主体内另一端则外凸于主体，又心轴外凸的一端包括有锁接面及掣动段；前套环套设于心轴外凸主体的一端，而前套环对应主体的一侧为第一接合面，第一接合面的局部对应锁接面、局部对应主体，而第一接合面对应主体处凸设有第一块体及第二块体，第一块体与第二块体之间有卡接槽，主体对应卡接槽凸设有嵌合块，第一块体夹设于嵌合块与心轴间，第二块体对外侧有第一斜导面，另外嵌合块对应第二块体的一侧凸设有挡止块；锁件贯穿前套环并锁接于心轴的锁接面。
高速主轴防水

[发明专利]可测体温的智能表-CN201510122724.8在审
发明人： 许益彰;方婷妮;罗士峰 -专利权人：环旭电子股份有限公司
申请日： 2015-03-20 - 公布日： 2015-05-27 - 主分类号： G04B47/06 文献下载
摘要：本发明提供一种可测体温的智能表，包括壳体、感温线圈、以及控制单元；壳体设有显示部，感温线圈以至少环绕一圈的方式设置于显示部且显露于外部，控制单元容设于壳体内且电连接至显示部，并且至少设有互呈电连接的温度传感器与微处理模块，微处理模块具有振荡器，以用于计时；感温线圈与温度传感器接触，以进行热传导；因此，温度传感器接受经由感温线圈提供的热传导，而能够产生热信号，该热信号可通过微处理模块进行处理而转换为检测温度值，使该检测温度值显示于显示部。
体温智能

[发明专利]测试系统-CN200710187123.0有效
发明人：滕贞勇;许益彰;黄杰威 -专利权人：普诚科技股份有限公司
申请日： 2007-11-16 - 公布日： 2009-05-20 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明揭露一种测试系统，用来测试多个待测试元件。该测试系统包括有一测试主机以及多个处理器。测试主机用来提供多个控制信号，并依据该多个待测试元件所产生的多个量测结果，决定该多个待测试元件的测试结果。多个处理器耦接于该测试主机，用以依据该多个控制信号，产生多个测试信号，其中该多个待测试元件依据该多个测试信号，分别产生该多个量测结果。本发明所述的测试系统，可同时测试多个IC，进而大幅提升IC测试的效率。
测试系统

[实用新型]电路测试装置-CN200620133191.X无效
发明人：滕贞勇;许益彰;蒋维棻;林杨铭;张立颖 -专利权人：普诚科技股份有限公司
申请日： 2006-09-05 - 公布日： 2008-01-16 - 主分类号： G01R31/3167 文献下载
摘要：本实用新型公开一种电路测试装置，用来测试一待测试元件。该电路测试装置包含有一滤波电路、一放大电路、一比较模块、以及一结果检测模块。该滤波电路对该待测试元件所产生的一模拟输出信号进行滤波以产生一滤波信号。该放大电路对该滤波信号进行放大以产生一放大信号。该比较模块比较该放大信号与至少一参考电平以据以产生至少一结果信号。该结果检测模块则通过检测该至少一结果信号以决定该待测试元件的测试结果。
电路测试装置

[实用新型]电路测试装置-CN200620116497.4无效
发明人：滕贞勇;许益彰;蒋维棻;陈弘伟 -专利权人：普诚科技股份有限公司
申请日： 2006-06-07 - 公布日： 2007-08-15 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型披露了一种电路测试装置，用来测试一待测试组件。该装置包含有一讯号转换模块、一电表、以及一逻辑测试机。该讯号转换模块耦接于该待测试组件，用来将该待测试组件所产生的一模拟输出讯号转换成一直流讯号。该电表耦接于该讯号转换模块，用来量测该直流讯号以产生一数字量测结果。该逻辑测试机耦接于该电表，用来依据该数字量测结果来决定该待测试组件的测试结果。
电路测试装置

[实用新型]可同时测试多个待测芯片的测试装置以及单颗芯片测试机-CN200520141897.6无效
发明人：滕贞勇;许益彰;许丽娇 -专利权人：普诚科技股份有限公司
申请日： 2005-11-25 - 公布日： 2007-02-21 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种可同时测试多个待测芯片的测试装置以及单颗芯片测试机。该测试装置包括一单颗芯片测试机以及一支持器。该单颗芯片测试机包括一模式存储器以及一微处理器，该模式存储器包括多个模式子存储器，用来分别对该多个待测芯片进行功能模式测试以产生对应于该多个待测芯片的一测试结果；该微处理器用来控制测试的进行并且依据该测试结果产生一接口控制信号。该支持器耦接于该测试机，用来启动该微处理器进行测试，并且接收该接口控制信号以完成置于该支持器上的该多个待测芯片的测试。该测试装置同时具有单颗芯片测试机低成本及多颗芯片测试机较短测试时间的优势。
同时测试多个待测芯片装置以及

[实用新型]使用低压逻辑测试机测试高压IC的接口电路-CN200520103801.7无效
发明人：滕贞勇;许益彰 -专利权人：普诚科技股份有限公司
申请日： 2005-08-12 - 公布日： 2006-11-15 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型涉及使用一般低压逻辑测试机测试高压IC的接口电路，使高压IC的高压输出转换成一般低压逻辑测试机所能接受的电压位准。一种使用低压逻辑测试机测试高压IC的接口电路，该接口电路包括：第一控制器，衔接待测高压IC的输出脚位，藉其内部的控制开关的开、闭而进行高压IC的输出脚位的开路短路测试、功能模式测试或是消耗电流测试；衰减电路，介于第一控制器与低压逻辑测试机之间，以衰减高压IC的输出至低压逻辑测试机所能接受的电压范围；以及第二控制器，介于第一控制器与低压逻辑测试机之间，藉其内部的控制开关的开、闭，并配合第一控制器而进行高压IC的输出是否通过衰减电路。
使用低压逻辑测试高压 ic 接口电路

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