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[发明专利]磁透镜调试方法和装置、计算机设备、存储介质-CN202211320131.9在审
发明人：马晓旻;付鲁堂;王培毅;齐汝西;吴静;高远瞩;许淑嫚;谭菊英;李沛尧;郭嘉豪 -专利权人：南方科技大学
申请日： 2022-10-26 - 公布日： 2022-11-25 - 主分类号： G06F16/33 文献下载
摘要：本申请涉及一种磁透镜调试方法和装置、计算机设备、存储介质。方法包括：获取Digital Micrograph软件的调试选项集中被选取的多个待调试选项；在多个待调试选项中选择顺序满足第一预设条件的目标调试选项；根据目标调试选项对磁透镜进行调试，得到目标调试值；判断目标调试选项的调试初始值或目标调试值是否满足第二预设条件；若否，返回执行根据目标调试选项对磁透镜进行调试，直至得到满足第二预设条件的目标调试值；若是，将目标调试选项置为已调试状态，并从待调试选项中剔除，返回执行在多个待调试选项中选择顺序满足第一预设条件的待调试选项，直到各待调试选项处于已调试状态。采用本方法能够提高磁透镜调试的准确性。
透镜调试方法装置计算机设备存储介质

[发明专利]基于SerialEM的单颗粒数据收集方法和装置-CN202210889629.0有效
发明人：马晓旻;王培毅;高远瞩;吴静;许淑嫚;付鲁堂;谭菊英 -专利权人：南方科技大学
申请日： 2022-07-27 - 公布日： 2022-11-15 - 主分类号： H04N5/232 文献下载
摘要：本申请涉及一种基于SerialEM的单颗粒数据收集方法和装置。方法包括：当SerialEM进入观察模式时，获取样品台中样品的第一离焦量，根据第一离焦量和粗校离焦量对样品台的高度进行初步校正；对校正后的样品台中的样品进行拍摄，得到样品孔洞图像；将样品孔洞图像和孔洞参考图像进行比对，得到图像比对信息，并根据图像比对信息和预设的补偿信息对样品进行补偿移动；当SerialEM进入聚焦模式时，获取样品的第二离焦量，根据第二离焦量和精校离焦量对样品台进行精调；根据精调后样品台所处的位置和拍摄倍数对样品进行拍摄，得到方格图像；根据方格图像进行选点、单颗粒数据收集。采用本方法能够提高单颗粒数据收集有效率。
基于 serialem 颗粒数据收集方法装置