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- [发明专利]光检测系统-CN201711025040.1有效
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西胁青儿;鸣海建治;足立安比古
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松下知识产权经营株式会社
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2017-10-27
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2022-07-26
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G01N21/45
- 有关本公开的一技术方案的光检测系统具备光检测装置和运算电路。光检测装置包括：遮光膜，至少在第1方向上交替地配置有多个透光区域及多个遮光区域；光耦合层，与遮光膜对置，包括光栅；光检测器，包括配置在摄像面上的多个第1光检测单元及多个第2光检测单元，运算电路基于从多个第1光检测单元得到的多个第1信号和从多个第2光检测单元得到的多个第2信号，生成表示入射到多个第1光检测单元及多个第2光检测单元的各自的位置中的光的相干的第3信号；还生成第3信号的平均值、标准偏差、标准偏差相对于平均值的比等中的至少1个。
- 检测系统
- [发明专利]摄像装置-CN201710838701.6有效
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鸣海建治;西胁青儿
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松下知识产权经营株式会社
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2017-09-18
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2021-04-13
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H04N5/225
- 摄像装置具备摄像元件、光学系统、控制电路和信号处理电路。摄像元件包括至少在第1方向上交替地排列有多个透光区域及多个遮光区域的遮光膜、对置于上述遮光膜而配置的光检测器、和配置在上述遮光膜及上述光检测器之间的光耦合层。上述光耦合层包括当规定的波长的光入射到上述多个透光区域中时使上述光的一部分在上述第1方向上传输的光栅。信号处理电路从在由上述摄像元件取得的运动图像中包含的多个帧中，提取上述被摄体的上述像的位置在上述第1方向上相互不同的2个帧。
- 摄像装置
- [发明专利]光检测装置以及光检测系统-CN201710040480.8有效
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西胁青儿;鸣海建治;盐野照弘
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松下知识产权经营株式会社
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2017-01-19
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2021-04-09
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G01J9/02
- 本申请提供一种光检测装置以及光检测系统。本公开的一形态所涉及的光检测装置具备：光检测器，包含沿着主面配置的多个第1检测器以及多个第2检测器；光耦合层，配置在所述光检测器上或者上方；以及遮光膜，配置在所述光耦合层上。所述光耦合层包含：第1低折射率层；第1高折射率层，配置在所述第1低折射率层上，包含第1光栅；以及第2低折射率层，配置在所述第1高折射率层上。所述遮光膜包含：透光区域、以及与所述透光区域相邻的遮光区域。所述透光区域与所述多个第1检测器中包含的两个以上的第1检测器对置，所述遮光区域与所述多个第2检测器中包含的两个以上的第2检测器对置。
- 检测装置以及系统
- [发明专利]光检测装置以及光检测系统-CN201710046904.1有效
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西胁青儿;鸣海建治;盐野照弘
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松下知识产权经营株式会社
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2017-01-19
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2021-03-09
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G01D5/28
- 本申请提供一种光检测装置以及光检测系统。本公开的一形态所涉及的光检测装置具备：光检测器，包含第1检测器以及第2检测器；光耦合层，配置在所述光检测器上或者上方；以及偏振元件阵列，配置在所述光耦合层上。所述光耦合层依次包含第1低折射率层、第1高折射率层以及第2低折射率层，所述第1高折射率层包含第1光栅以及与所述第1光栅相邻的第2光栅。所述偏振元件阵列包含使在一方向上偏振的光透过的第1偏振元件、以及与所述第1偏振元件相邻且对在所述一方向上偏振的光进行遮光的第2偏振元件。所述第1光栅以及所述第1偏振元件分别与所述第1检测器对置，所述第2光栅以及所述第2偏振元件分别与所述第2检测器对置。
- 检测装置以及系统
- [发明专利]光检测装置-CN201710879769.9有效
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西胁青儿;鸣海建治;足立安比古
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松下知识产权经营株式会社
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2017-09-26
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2021-02-19
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G01J9/02
- 光检测装置具备遮光膜、光耦合层、光检测器和光学系统。遮光膜至少在第1方向上交替地配置有多个透光区域及多个遮光区域。光耦合层与上述遮光膜对置，包括使光在上述第1方向上传输的光栅。光检测器包括排列在摄像面上的多个第1光检测单元及多个第2光检测单元。光学系统配置在上述光耦合层及上述光检测器之间。在上述光耦合层中透射了与上述多个透光区域及遮光区域分别对置的部分的光的像分别被上述光学系统放大或缩小，并形成在上述多个第1及第2光检测单元中的对应的光检测单元上。
- 检测装置
- [发明专利]光检测装置-CN201710063525.3有效
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鸣海建治;盐野照弘;西胁青儿
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松下知识产权经营株式会社
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2017-02-03
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2020-10-16
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G01B11/24
- 提供一种光学部分更小型、更不易受到周围环境的影响的光检测装置。光检测装置具备摄像元件、干涉元件和光学系统。上述干涉元件使入射到两个第1入射区域中的第1波段的光的一部分干涉，将干涉后的光向多个第1像素中的某一个引导，将入射到上述两个第1入射区域中的上述第1波段的光的另一部分向多个第2像素中的某一个引导；使入射到两个第2入射区域中的第2波段的光的一部分干涉，将干涉后的光向多个第3像素中的某一个引导，将入射到上述两个第2入射区域中的上述第2波段的光的另一部分向多个第4像素中的某一个引导。
- 检测装置
- [发明专利]光学装置-CN201880068704.9在审
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西胁青儿
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松下知识产权经营株式会社
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2018-12-06
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2020-06-05
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G02F1/295
- 在某实施方式中的光学装置具备：光源，所述光源用于出射激光；光波导元件，所述光波导元件位于所述激光的光路上；第一透明构件，所述第一透明构件位于所述光路上且具有面向所述光波导元件的底面，以及相对于所述光路旋转对称的侧面；以及控制电路。所述光波导元件包括沿径向配置并且折射率互不相同的多个部分，并且包括第一光栅和第二光栅，所述第一光栅使入射的所述激光的一部分在所述光波导元件内沿所述径向传播，所述第二光栅配置在所述第一光栅的外侧，包括沿所述径向配置的折射率互不相同的多个部分，并使来自光波导元件的光出射。
- 光学装置
- [发明专利]光检测装置以及光检测系统-CN201610286166.3有效
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西胁青儿
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松下知识产权经营株式会社
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2016-05-03
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2020-04-14
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G01J9/02
- 本公开提供一种光检测装置以及光检测系统，光检测装置具备：光检测器，其具有主面，包含沿着所述主面而配置的至少1个第1检测器以及至少1个第2检测器；光耦合层，其配置在所述光检测器上，包含第1低折射率层、配置在所述第1低折射率层上且包含第1光栅的第1高折射率层、以及配置在所述第1高折射率层上的第2低折射率层，所述第1高折射率层与所述第1低折射率层以及所述第2低折射率层相比折射率高；和遮光膜，其配置在所述光耦合层上，包含至少1个透光区域、以及与所述至少1个透光区域相邻的至少1个遮光区域，所述至少1个透光区域与所述至少1个第1检测器对向，所述至少1个遮光区域与所述至少1个第2检测器对向。
- 检测装置以及系统
- [发明专利]摄像装置-CN201280015736.5有效
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中村达也;西胁青儿;若林信一;铃木正明
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松下知识产权经营株式会社
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2012-12-18
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2017-05-17
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H01L27/14
- 本申请所公开示的摄像装置，具备多个光检测部，其是具有光接收面的多个光检测部(15a、15b)，通过沿着第一方向和与第一方向不同的第二方向二维地排列，多个光检测部的光接收面构成摄像面；透明层(11)，其具有入射面和出射面，且使出射面与摄像面对置地配置；多个分光部(12)，其具有比透明层(11)的折射率大的折射率，在透明层内且在与摄像面平行的排列面被二维排列，并且，使在各分光部和与各分光部邻接的透明层的部分所透过的光形成的0级衍射光(13)和±1级衍射光(14)，分别入射多个光检测部之中不同的光检测部，在规定的方向上邻接的两个分光部的间隔，周边侧的一方比摄像面的中央侧小。
- 摄像装置
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