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专利名称

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申请人
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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]检查装置、检查系统及检查方法以及部件的修补方法-CN202180060152.9在审
发明人：德元勇太;西泽佑司;石田匡平 -专利权人：杰富意钢铁株式会社
申请日： 2021-04-20 - 公布日： 2023-05-16 - 主分类号： G01B7/00 文献下载
摘要：提供一种检查装置、检查系统、检查方法以及部件的修补方法，能够不限制检查对象部件的检查范围而在大范围内稳定且高效地检查检查对象部件的缺陷。检查装置具备：检查装置主体，其被设置成在检查对象部件的表面自由移动；移动机构，其使所述检查装置主体沿着所述检查对象部件的所述表面移动；测定装置，其设置于所述检查装置主体，测定所述检查对象部件的板厚；发送机，其设置于所述检查装置主体，将由所述测定装置测定出的所述信息以无线方式发送到外部；和电池，其设置于所述检查装置主体，向所述移动机构、所述测定装置以及所述发送机供给电力。
检查装置系统方法以及部件修补

[发明专利]光谱分析装置、光谱分析方法、钢带的制造方法及钢带的质量保证方法-CN201880086625.0有效
发明人： 西泽佑司;辻翔太;加藤香穗 -专利权人：杰富意钢铁株式会社
申请日： 2018-12-17 - 公布日： 2023-03-14 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：受光部(3)具备：偏振光分离部(32)，将反射光分离成S偏振光和P偏振光；S偏振光检测部(34)，检测由偏振光分离部(32)分离出的S偏振光，将表示检测到的S偏振光的强度的电信号向输出部(4)输出；及P偏振光检测部(33)，检测由偏振光分离部(32)分离出的P偏振光，将表示检测到的P偏振光的强度的电信号向输出部(4)输出。输出部(4)使用从S偏振光检测部(34)及P偏振光检测部(33)输出的电信号，根据S偏振光与P偏振光的强度比来算出吸光度，使用任意的波数下的吸光度的强度来算出测定对象物P的表面的组成及/或组成比。
光谱分析装置方法制造质量保证

[发明专利]测定方法和测定装置-CN201280041663.7有效
发明人： 西泽佑司;四辻淳一;津田和吕;大重贵彦 -专利权人：杰富意钢铁株式会社
申请日： 2012-09-05 - 公布日： 2014-04-30 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本发明的目的在于非接触性/非破坏性且简便地测定形成于被检体的表面的覆膜的膜厚，得到覆膜的组分的信息，分光装置（10）事先测定已知的被检体的分光数据，运算装置（22）对测定出的分光数据进行基底分解，提取该分光数据的特征量，计算该特征量与形成于所述已知的被检体的表面的覆膜的膜厚和组分之间的关系，分光装置（10）测定所述被检体的分光数据，运算装置（22）对测定出的被检体的分光数据进行基底分解，提取该分光数据的特征量，根据计算出的已知的被检体的分光数据的特征量与覆膜的膜厚和组分之间的关系，计算形成于所述被检体的表面的覆膜的膜厚和组分。
测定方法装置

[发明专利]磁特性测定方法以及磁特性测定装置-CN201280025932.0有效
发明人： 西泽佑司;原园学;冈田典久;四辻淳一 -专利权人：杰富意钢铁株式会社
申请日： 2012-05-24 - 公布日： 2014-02-05 - 主分类号： G01N27/72 文献下载
摘要：本发明目的在于，即使在产生提离量的变动时，也能够稳定地测定钢板的局部磁特性分布，磁特性测定方法包含：预先取得事先测定用被检体的健全部中的磁敏元件的输出与磁敏元件的提离量之间的关系LS(l)作为健全部提离数据的步骤；预先取得事先测定用被检体的缺陷部中的磁敏元件的输出与磁敏元件的提离量之间的关系LP(l)作为缺陷部提离数据的步骤；测定步骤，测定被检体中的磁敏元件的输出x与获得输出x时的磁敏元件的提离l；以及校正步骤，采用健全部提离数据、缺陷部提离数据和在测定步骤中测定出的提离量对在测定步骤中测定的被检体中的磁敏元件的输出x进行校正运算。
特性测定方法以及装置

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共 4 条

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