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[发明专利]一种通用验证方法学UVM验证平台的生成方法及装置-CN202111479917.0在审
发明人： 虢成龙;张满新;马迁 -专利权人：紫光同芯微电子有限公司
申请日： 2021-12-06 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本申请实施例公开了一种通用验证方法学UVM验证平台的生成方法及，利用脚本语言构建UVM验证平台需要的多个目标组件，定义多个目标组件中的变量和运行机制，建立多个目标组件之间的通信连接通道，实现多个目标组件之间的数据传输，添加多个目标组件的实例，生成应用于芯片验证的UVM验证平台。也就是说，本申请实施例提供的方法，能够利用脚本语言直接构建好UVM验证平台需要的通用组件及其相关的内容，直接生成UVM验证平台。由此可见，直接利用脚本语言生成具有统一框架的UVM验证平台，无需工作人员手动进行搭建，降低工作人员手动搭建UVM验证平台的时间，实现了简单高效的搭建UVM验证平台，提高芯片的验证效率，满足高效验证的需求。
一种通用验证法学 uvm 平台生成方法装置

[发明专利]一种芯片启动方法及装置-CN202111130069.2在审
发明人： 虢成龙;郭耀华;马迁;张满新 -专利权人：紫光同芯微电子有限公司
申请日： 2021-09-26 - 公布日： 2023-03-31 - 主分类号： G06F9/4401 文献下载
摘要：本申请实施例公开了一种芯片启动方法及装置，芯片中包括一次性可编程存储器eFuse，对eFuse进行读取，得到eFuse内的读取数据，若eFuse内的读取数据与预设数据相同，则按照预设数据对应的工作模式启动芯片，工作模式为正常模式、测试模式和调试模式中的任意一种。也就是说，只有在读取数据和其中一种工作模式的预设数据相同时，芯片才会按照该种工作模式启动芯片进行工作，能够保证芯片仅进入其中一种工作模式，不会进入其他工作模式，此时若将预设数据设置为正常模式对应的工作模式，就能够保证在封装后芯片无法再次进入测试模式和调试模式，降低芯片的安全隐患。
一种芯片启动方法装置