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专利名称
农业 化学；冶金 建筑 机械工程 区域搜索
主分类
A 农业
B 作业；运输
C 化学；冶金
D 纺织；造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]用于动态列选择交换的设备和方法-CN202310239942.4在审
  • 藤原敬典;K·科佩尔;工藤广成 - 美光科技公司
  • 2023-03-06 - 2023-09-12 - G11C11/406
  • 本公开的实施例涉及用于动态列选择交换的设备和方法。存储器可具有组织成列平面的数个位线集合。如果与第一列平面中的第一地址相关联的位线集合为有缺陷的，那么其可通过将所述第一地址重新分配到全局列冗余GCR列平面中的冗余位线集合来修复。如果与第二列平面中的所述第一地址相关联的位线集合也为有缺陷的，那么所述存储器的交换逻辑可将所述第一地址交换为第二地址且将其分配到所述第二列平面中的所述位线集合。接着还可通过重新分配到所述GCR列平面来修复所述第二地址。
  • 用于动态选择交换设备方法
  • [发明专利]用于柔性熔丝传输的设备与方法-CN201780056518.9有效
  • 藤原敬典;吉田贤智;染谷穗;苗田广正 - 美光科技公司
  • 2017-08-14 - 2023-06-20 - G11C29/00
  • 本发明描述用于将熔丝数据从熔丝阵列传输到锁存器的设备与方法。一种实例设备包含：多个熔丝阵列，所述多个熔丝阵列中的每一熔丝阵列经配置以存储输入数据；熔丝电路，其接收所述输入数据并将所述输入数据提供于总线上；及多个冗余锁存器电路，其耦合到所述总线，所述多个冗余锁存器电路包含多个指针及将数据加载于所述总线上的与所述多个对应指针相关联的多个锁存器。所述熔丝电路可通过响应于所述输入数据而控制在所述多个对应指针之中的指针的位置来控制所述输入数据的加载。
  • 用于柔性传输设备方法
  • [发明专利]用于在行修复存储器中节能的系统及方法-CN202111003287.X有效
  • J·S·雷赫迈耶;藤原敬典 - 美光科技公司
  • 2021-08-30 - 2023-03-24 - G11C29/00
  • 本申请案涉及用于在行修复存储器中节能的系统及方法。存储器装置包含存储体，所述存储体包含：第一组存储器行，其在所述存储体的第一区段中；第一组冗余行，其在所述存储体的第一区段中；第二组存储器行，其在所述存储体的第二区段中，及第二组冗余行，其在所述存储体的所述第二区段中。所述存储体还包含：中继器阻塞器电路，其在操作中时选择性地阻塞信号发射到所述存储体的所述第二区段；及阻塞器控制电路系统，其在操作中时发射控制信号以通过所述中继器阻塞器电路控制对所述信号的选择性阻塞。
  • 用于在行修复存储器节能系统方法
  • [发明专利]具有可调整暂停时间的存储器内置式自测试-CN202210522349.6在审
  • 藤原敬典;D·S·米勒 - 美光科技公司
  • 2022-05-13 - 2023-03-03 - G11C29/12
  • 本公开涉及具有可调整暂停时间的存储器内置式自测试。设备具有存储器阵列，所述存储器阵列具有多个存储器单元。所述设备还包含用以测试所述存储器阵列的存储器内置式自测试电路。所述存储器内置式自测试电路包含一或多个处理装置以：将数据模式写入到所述存储器阵列中待测试的一或多个存储器单元；暂停对应于预定暂停时间设置的时间段；以及在经过所述时间段之后从所述一或多个存储器单元读取写入的数据模式。基于存储器装置条件自动调整所述预定暂停时间设置，所述存储器装置条件可包含所述设备的温度。
  • 具有可调整暂停时间存储器内置测试
  • [发明专利]存储器装置随机选项反转-CN202110539166.0有效
  • K·G·韦哈恩;J·M·约翰逊;藤原敬典;T·Z·詹森;D·S·米勒;D·E·杰斐逊;V·科蒂 - 美光科技公司
  • 2021-05-18 - 2023-01-03 - G11C29/02
  • 本申请案涉及存储器装置随机选项反转。描述用于存储器装置随机选项反转的方法、系统及装置。存储器装置可使用第二组熔丝来选择性地反转与第一组熔丝(例如，熔断熔丝)相关联的选项。第一组熔丝可输出第一组逻辑状态。选项反转逻辑电路系统可基于由所述第二组熔丝输出的第二组逻辑状态来执行解码，以识别与所述第一组逻辑状态匹配的所述第二组逻辑状态中的逻辑状态。基于识别所述逻辑状态，所述选项反转逻辑电路系统可选择所述第一组逻辑状态中的逻辑状态或对应于所述逻辑状态的经反转逻辑状态，及将所述所选择逻辑状态存储在所述存储器装置的锁存器中。
  • 存储器装置随机选项反转
  • [发明专利]用于错误校正的设备、系统和方法-CN202210896329.5在审
  • 藤原敬典;V·科蒂;C·G·维杜威特;J·M·约翰逊;K·G·韦哈恩 - 美光科技公司
  • 2020-12-21 - 2022-11-22 - G06F11/10
  • 本发明描述了用于错误校正的设备、系统和方法。存储器装置可具有若干存储器单元，所述存储器单元中的每一者存储信息位。可使用一或多个错误校正码(ECC)来确定所述信息位是否含有任何错误。为减轻邻近存储器单元的故障的影响，可将信息分成第一群组和第二群组，其中每一群组含有来自不邻近于所述群组的其它存储器单元的存储器单元的信息。每一信息群组可包含数据位和用于校正那些数据位的奇偶校验位。举例来说，作为读取操作的部分，第一ECC电路可从偶数编号的存储器单元接收信息，同时第二ECC电路可从奇数编号的存储器单元接收信息。
  • 用于错误校正设备系统方法
  • [发明专利]微电子装置测试以及相关装置、系统和方法-CN202111476799.8在审
  • 藤原敬典 - 美光科技公司
  • 2021-12-06 - 2022-08-30 - G06F11/22
  • 本文中描述微电子装置测试以及相关方法、装置和系统。装置可包含存储器阵列，所述存储器阵列包含某一数目的行和某一数目的列。所述存储器装置可进一步包含耦合到所述存储器阵列的电路。所述电路可经配置以对所述数目的行中的每一行执行测试操作以检测：所述数目的行中的第一行的第一失效；以及与所述数目的行的行集合相关联的额外失效集合。所述电路还可经配置以确定所述行集合是否邻近于所述第一行。此外，响应于确定所述行集合邻近于所述第一行，所述电路可经配置以产生指示所述数目的列中的列的失效的信号。
  • 微电子装置测试以及相关系统方法
  • [发明专利]用于错误校正的设备、系统和方法-CN202080091729.8在审
  • 藤原敬典;V·科蒂;C·G·维杜威特;J·M·约翰逊;K·G·韦哈恩 - 美光科技公司
  • 2020-12-21 - 2022-08-19 - G11C29/42
  • 本发明描述了用于错误校正的设备、系统和方法。存储器装置可具有若干存储器7单元，所述存储器单元中的每一者存储信息位。可使用一或多个错误校正码(ECC)来确定所述信息位是否含有任何错误。为减轻邻近存储器单元的故障的影响，可将信息分成第一群组和第二群组，其中每一群组含有来自不邻近于所述群组的其它存储器单元的存储器单元的信息。每一信息群组可包含数据位和用于校正那些数据位的奇偶校验位。举例来说，作为读取操作的部分，第一ECC电路可从偶数编号的存储器单元接收信息，同时第二ECC电路可从奇数编号的存储器单元接收信息。
  • 用于错误校正设备系统方法
  • [发明专利]识别存储器装置中的高阻抗故障-CN202110399757.2在审
  • D·S·米勒;藤原敬典 - 美光科技公司
  • 2021-04-14 - 2021-10-29 - G11C29/12
  • 本申请案是针对识别存储器装置中的高阻抗故障。存储器装置可执行将第一逻辑状态写入到存储器单元的第一写入操作。在所述第一写入操作期间，所述存储器装置可在供应线和控制线之间建立连接，所述控制线与施加耦合到所述存储器单元的数字线的驱动器的输出相关联。在执行所述第一操作之后，所述存储器装置可将所述供应线配置于浮动状态。在所述供应线浮动之后，所述存储器装置可执行将第二逻辑状态写入到所述存储器单元的第二写入操作。所述存储器装置可执行用于读取所述存储器单元的第三操作。所述存储器装置可基于所述读取操作的结果确定所述供应线或控制线的条件。
  • 识别存储器装置中的阻抗故障
  • [发明专利]用于自测试模式中止电路的设备及方法-CN202110155941.2在审
  • 藤原敬典 - 美光科技公司
  • 2021-02-04 - 2021-10-01 - G11C29/12
  • 本发明涉及用于自测试模式中止电路的设备、系统及方法。存储器装置可进入自测试模式且对所述存储器阵列执行测试操作。在所述自测试模式期间，所述存储器装置可忽略外部通信。所述存储器包含中止电路，其可在所述自测试模式无法正确结束的情况下终止所述自测试模式。举例来说，所述中止电路可对自所述自测试模式开始以来的时间量进行计数，并且在所述时间量达到或超过阈值的情况下结束所述自测试模式，所述阈值可基于完成所述测试操作所需的预期时间量。
  • 用于测试模式中止电路设备方法
  • [发明专利]互连的命令/地址资源-CN202110291571.5在审
  • J·M·约翰逊;藤原敬典;K·G·韦哈恩 - 美光科技公司
  • 2021-03-18 - 2021-10-01 - G11C29/00
  • 本申请案是针对互连的命令/地址CA资源。晶片的CA焊盘可与所述晶片的逻辑电路耦合，以支持测试信号在所述晶片的不同存储器裸片之间的发射。第一存储器裸片的CA焊盘可与所述晶片的切割区域中的中继器电路耦合，且所述中继器电路可与所述切割区域中的对应控制电路耦合。这些电路可支持信号从探针卡到所述晶片的一或多个其它存储器裸片的一或多个其它CA导电路径的中继。所述中继器电路可从可接收来自所述探针卡的测试信号的所述CA焊盘接收所述测试信号，且可基于所述控制电路的配置将所述测试信号发射到另一存储器裸片的另一CA焊盘。
  • 互连命令地址资源
  • [发明专利]用以检测外部端子处的测试探测接触的方法和设备-CN202010902175.7在审
  • 藤原敬典;T·M·奥尼尔;亿田富夫 - 美光科技公司
  • 2020-09-01 - 2021-03-05 - G11C29/50
  • 本申请案涉及检测外部端子处的测试探测接触的方法和设备。一种实例设备包含：耦合到输入端子的输入缓冲器，其中所述输入缓冲器经配置以基于在所述输入端子处接收到的电压提供输入信号；测试端子，其经配置以接收探测信号；以及电力供应端子，其经配置以接收外部供应电压。所述实例设备进一步包含测试逻辑电路，其经配置以响应于所述探测信号指示测试且外部供应电压检测信号具有指示所述外部供应电压的检测的值，起始探测接触检测测试。在所述起始探测接触检测测试期间，所述测试逻辑电路经配置以接收所述输入信号，且提供具有基于所述输入信号的值的输出信号。
  • 用以检测外部端子测试探测接触方法设备
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