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[发明专利]适用于连续生产制程的自动化瑕疵检测设备及检测方法-CN202010331654.8在审
发明人：郑文玮;蔡维育 -专利权人：明基材料（芜湖）有限公司;明基材料有限公司;明基材料股份有限公司
申请日： 2020-04-24 - 公布日： 2021-10-26 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明提供一种适用于连续生产制程的自动化瑕疵检测设备及检测方法，检测方法的步骤包含：使用静态二值化算法在待检测产品上找出定位孔；利用定位孔框选出初级待检测区域；通过动态二值化算法，在初级待检测区域中找出实际的检测区域，动态二值化算法的公式如下：gt‑offset≤go≤gt+offset，其中gt为设定的影像阈值，go为初级待检测区域中需判定点位的像素灰阶值，offset为设定的差值；以及使用影像处理方式就实际的检测区域做准确的瑕疵检出。本发明所揭示检测设备及检测方法，即便产品具有复杂性图样，仍可避免检测到不必要的检测区域，故相较于现有自动化检测(AOI)设备及方法具有更优异的瑕疵检出能力。
适用于连续生产自动化瑕疵检测设备方法

[发明专利]多重瑕疵检出的光学检测设备-CN201410835045.0在审
发明人：邹嘉骏;方志恒;蔡维育 -专利权人：由田新技股份有限公司
申请日： 2014-12-30 - 公布日： 2016-03-23 - 主分类号： G01N21/89 文献下载
摘要：一种多重瑕疵检出的光学检测设备，包含多轴机械臂，该多轴机械臂分别将该待测物品移动至第一、第二、及第三光学检测站以分别进行检测。该第一光学检测站包含第一影像扫描装置以及提供均匀光的第一辅助照明装置。该第二光学检测站包含第二影像扫描装置以及提供平行面同轴光的第二辅助照明装置。该第三光学检测站包含有线扫描摄影机以及提供侧向线准直光的第三辅助照明装置。该多轴机械臂移动该待测物品至该第一、第二、第三光学检测站，并旋转或翻转该待测物品藉以检测该待测物品的一个或数个可视平面，以检出待测物品的表面上所有可能出现的难检瑕疵，可有效提升瑕疵产品的检出率。
多重瑕疵检出光学检测设备

[发明专利]显示装置及改变出射的光线的偏振方向的方法-CN201010571862.1无效
发明人： 蔡维育;陈其伟 -专利权人：奇美电子股份有限公司;群康科技（深圳）有限公司
申请日： 2010-12-03 - 公布日： 2012-06-06 - 主分类号： G02F1/1335 文献下载
摘要：本发明公开一种显示装置及改变出射的光线的偏振方向的方法。该显示装置、呈现三维影像的显示装置及改变液晶显示器出射的光线的偏振方向的方法。显示装置包括液晶显示器与光学膜。液晶显示器包括显示面板及偏光板。偏光板设置于显示面板上。光学膜设置于偏光板上。光学膜用以改变从偏光板出射的光线的偏振方向。
显示装置改变光线偏振方向方法