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[发明专利]实现正相位对比的相位环-CN200410031776.6无效
发明人： S·阿特－内德韦德科;C·贡克尔 -专利权人： 莱卡显微系统韦茨拉尔股份有限公司
申请日： 1998-08-03 - 公布日： 2004-10-06 - 主分类号： G02B21/14 文献下载
摘要：本发明涉及由移相的薄层系统组成的一种相位环，此薄层系统在粘结系统的情况下具有一种构造：(第一)衬底－Ag－n_H－粘结剂－(第二)衬底，或具有一种构造：(第一)衬底－n₁－Ag－n₂－粘结剂－(第二)衬底，而在未粘接系统的情况下具有一种构造：衬底－Ag－n_H－空气。以n_H、n₁或n₂表示了一个介电层的各自的折射率。可以有针对性地调定正相位对比的相移。
实现相位对比

[发明专利]用于在多波段荧光显微镜中单独匹配激发强度的方法以及用于实施该方法的多波段荧光显微镜-CN99814656.0无效
发明人： A·维斯 -专利权人： 莱卡显微系统韦茨拉尔股份有限公司
申请日： 1999-11-27 - 公布日： 2004-08-18 - 主分类号： G02B21/16 文献下载
摘要：本发明涉及用多个光谱的不同激发带和所属的荧光谱带在多波段荧光显微镜中单独匹配激发强度的方法。在显微镜图像中确定单个荧光谱带的强度，并且将其与大于或等于零的强度标准值进行比较。对于各个属于偏离强度标准值的荧光强度的激发带，在照明光路中为其装设一种选择滤光镜(23；28、29、31、32)，并且其透射比如此无级地来调节，使得通过激发带的衰减，所属荧光强度被调节到其强度标准值。用于实施该方法的多波段荧光显微镜在紧靠孔径光阑(5)处具有一个由具有选择滤光镜(23；28、29、31、32)的可单独移动的、并且间隔紧密的滤光镜闸门(21；21a、21b)组成的滤光镜闸门组(20)，其中的滤光镜对于各激发带具有连续可调的透射比，且具有至少一个敞露开口(22)。本发明还给出了滤光镜组(20)不同的有利布置。
用于波段荧光显微镜单独匹配激发强度方法以及实施

[发明专利]显微镜-CN02810898.1无效
发明人： H·J·科尔布;G·普菲菲尔 -专利权人： 莱卡显微系统韦茨拉尔股份有限公司
申请日： 2002-05-14 - 公布日： 2004-07-14 - 主分类号： G02B21/24 文献下载
摘要：本发明涉及一种显微镜(1)，它的三脚架由一个横臂部(3)、一个三脚架脚部(5)和一个三脚架支柱部(4)组成，这三个部分基本上具有相等的宽度。在三脚架支柱部(4)的区域内，在两侧设有一个支承元件(16)，该支承元件沿着第一连接面(8)具有三脚架支柱部(4)的宽度。
显微镜

[发明专利]比较光学系统-CN200310113850.4有效
发明人： M·吉尔伯特 -专利权人： 莱卡显微系统韦茨拉尔股份有限公司
申请日： 2003-10-31 - 公布日： 2004-05-26 - 主分类号： G02B21/36 文献下载
摘要：本发明公开一种比较光学系统(1)，该系统由多个摄像的光学分系统组成。一个桥形架(3)将该光学分系统机械地、光学地连接起来。摄像的光学分系统具有一个可由马达驱动的XYZ工作台(8a、8b)，在该工作台上放置一个待研究的试样。另外设置一个控制元件，该元件使可由马达驱动的XYZ工作台(8a、8b)同步地沿所有三个空间方向运动。XYZ工作台(8a、8b)的同步运动可由使用者接通或者断开。
比较光学系统

[发明专利]显微镜照明装置-CN99801760.4无效
发明人： A·维斯;M·甘塞尔;H·吕尔;M·吉尔伯特 -专利权人： 莱卡显微系统韦茨拉尔股份有限公司
申请日： 1999-10-02 - 公布日： 2004-04-07 - 主分类号： G02B21/08 文献下载
摘要：本发明涉及显微镜照明装置(1)，在照明光路(6)中设置第一光源(2)，集光透镜(3)，孔径光阑(4)和聚光透镜(5)。照明光经孔径光阑(4)，聚光透镜(5)折射至物平面(9)。在照明光路(6)的光轴(20)上设置第二光源(8)，其被聚光透镜(5)成像于无穷远。
显微镜照明装置

[发明专利]用于偏振显微镜的解偏器插入件-CN99807455.1无效
发明人： N·戈尔 -专利权人： 莱卡显微系统韦茨拉尔股份有限公司
申请日： 1999-05-28 - 公布日： 2003-10-01 - 主分类号： G02B21/00 文献下载
摘要：在一个解偏器插入件(1)里，一个从外面可以接近的调整轮(2)的旋转运动通过两个同样长度的平行的调节杠杆(8，9)被传递到一个可以插入显微镜光路里的可以旋转的解偏器(3)上。这调节杠杆(8，9)的一端(10，11)在调节轮(2)处，另一端(12，13)在解偏器插座(4)处都可旋转地支承在各自紧靠边缘的支承轴(14)上。这就在调整轮(2)处和解偏器插座(4)处针对其旋转轴(15，16)形成了等长的传力杠杆，它们成对地相互成一个90°角。在解偏器(3)的0°位置上，所有四个支承轴(14)在一条直线上。解偏器(3)可以精确而无滑动地位于0°和180°之间的任意位置上。若调节杠杆(8，9)用薄板制成并且啮入解偏器插座(4)内的沟槽(20，21)里，那么就实现一种扁平的解偏器插入件(1)。新的解偏器插入件(1)比过去已知的采用皮带或齿轮时制造更简单，也更经济。
用于偏振显微镜解偏器插入

[发明专利]具有一个接近传感器的显微镜-CN97199146.4无效
发明人： H·吕尔;W·伦奇 -专利权人： 莱卡显微系统韦茨拉尔股份有限公司
申请日： 1997-09-26 - 公布日： 2003-07-30 - 主分类号： G02B21/00 文献下载
摘要：本发明描述的是一个具有一个用于观察员用肉眼观察待观察物(12)的窥视镜筒(2)、一个用于操纵电气的和/或电子的显微镜功能的控制装置(7)和一个用于对待观察物(12)进行照明的照明装置(14)的显微镜(1)。控制装置(7)与一个设在显微镜(1)上的并对观察人接近窥视镜筒(2)作出响应的接近传感器(4)连接。根据传感器信号或者是切断一方面对观察待检物所需的，另一方面会使敏感的待观察物通过热传递或通过照明辐射受到损害或会使待观察物的图象质量受到不利影响的显微镜功能，或者是减少照明装置对待观察物的作用强度。
具有一个接近传感器显微镜

[发明专利]光激发半导体材料响应分析的方法和装置-CN96104150.1无效
发明人：Ｍ·瓦格纳;Ｈ·－Ｄ·盖勒 -专利权人： 莱卡显微系统韦茨拉尔股份有限公司
申请日： 1996-03-29 - 公布日： 2003-01-01 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明涉及用光激发半导体材料响应分析的方法和装置。根据本发明，激励激光束用两个分立调制频率(Ω1；Ω2)进行强度-调制，由被测物(4)发出的荧光在差频(Ω1-Ω2)下测量，并且把荧光作为调制频率(Ω1；Ω2)算术平均值(Ω)的函数进行分析。本发明用于半导体工业中测量半导体材料的各种电学参数。
激发半导体材料响应分析方法装置

[发明专利]用于变换显微镜中物镜的装置-CN00130552.2无效
发明人： M·甘瑟尔;M·吉尔伯特 -专利权人： 莱卡显微系统韦茨拉尔股份有限公司
申请日： 2000-09-30 - 公布日： 2001-05-02 - 主分类号： G02B21/00 文献下载
摘要：本发明描述了一种用于变换显微镜中物镜的装置,该显微镜主要与一个具有称作固定平台结构的显微镜平台使用。在台座中物镜转动架的本发明的结构确保在物镜变换中排除对操纵手或待检物的任何损坏。这主要是通过这一事实而实现物镜转动架确定的旋转轴相对于显微镜的第一和第二侧壁倾斜布置。还进一步确保在物镜变换之后待检物处于视场之内。整个物镜的变换以及放大率的设置和聚焦的要求完全以自动的和电机驱动的形式进行。
用于变换显微镜物镜装置

[发明专利]实现正相位对比的相位环-CN98801988.4无效
发明人： S·阿特－内德韦德科;C·贡克尔 -专利权人： 莱卡显微系统韦茨拉尔股份有限公司
申请日： 1998-08-03 - 公布日： 2000-02-09 - 主分类号： G02B21/14 文献下载
摘要：本发明涉及由移相的薄层系统组成的一种相位环,此薄层系统在粘结系统的情况下具有一种构造(第一)衬底－Ag－nH－粘结剂－(第二)衬底,或具有一种构造(第一)衬底－n1－Ag－n2－粘结剂－(第二)衬底,而在未粘接系统的情况下具有一种构造衬底－Ag－nH－空气。以nH、n1或n2表示了一个介电层的各自的折射率。可以有针对性地调定正相位对比的相移。
实现相位对比

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