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[实用新型]一种适配微型芯片的芯片老化测试座-CN202223581324.8有效
发明人：裴悠松;朴文杰 -专利权人： 苏州奥金斯电子有限公司
申请日： 2022-12-31 - 公布日： 2023-09-01 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种适配微型芯片的芯片老化测试座，包括测试部和下压装载部，所述下压装载部包括底座和芯片装载机构，所述芯片装载机构包括开设底座上的芯片装载槽、配合芯片装载槽的压紧组件和配合芯片装载槽的负压吸附组件，本实用新型的优点在于采用负压吸附组件作为主要的芯片装载机构，可以实现对超小面积的微型芯片的有效固定，且压紧组件脱离时负压吸附组件可以持续吸附微型芯片，避免微型芯片飞出，可以起到保护微型芯片的作用。
一种微型芯片老化测试

[实用新型]一种实现芯片裸露测试的芯片测试座-CN202223581545.5有效
发明人：裴悠松;朴文杰 -专利权人： 苏州奥金斯电子有限公司
申请日： 2022-12-31 - 公布日： 2023-09-01 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种实现芯片裸露测试的芯片测试座，包括测试座机构和测试部，所述测试座机构包括底座、下压限位板、设置在底座和下压限位板之间的限位机构，所述测试部包括测试平面和阵列设置在测试平面上的伸缩卡爪式探针，所述测试平面和底座间设有复位机构并通过复位机构连接在底座上，所述下压限位板配合测试平面设置，本实用新型的优点在于同传统的测试座相比较，新方案测试座少了上盖，两个压爪及压爪安装作用相应的零部件，整体结构简单，实现芯片裸露在测试空间中，拟合实际使用场景，安装测试方便，可反复循环使用。
一种实现芯片裸露测试

[实用新型]一种兼容多种芯片老化测试的老化测试座-CN202223583230.4有效
发明人：裴悠松;朴文杰 -专利权人： 苏州奥金斯电子有限公司
申请日： 2022-12-31 - 公布日： 2023-09-01 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种兼容多种芯片老化测试的老化测试座，包括装载测试部和下压部，所述装载测试部包括底座和设置在底座与下压部之间的芯片压爪，所述底座底部设有探针测试部，所述探针测试部包括一体设置在底座底部的基础探针台和可拆卸连接在基础探针台上方的辅助限位框，本实用新型的优点在于单个测试座对应多种尺寸的测试芯片，由单个零部件的快捷更换实现测试产品类型的快速切换，节省更换测试产品类型的时间，避免实际生产中的产品数量繁多，人员操作困难的问题，进行产品零部件整合，使得产品零部件充分利用，避免浪费，可以为测试座产品测试提供了一对二亦或一对多提供了方向，拓展单个测试座的适用范围。
一种兼容多种芯片老化测试

[发明专利]芯片检测探针金棒的加工工艺-CN202110500162.1在审
发明人：金光福;朴文杰;郑凤仙 -专利权人： 苏州奥金斯电子有限公司
申请日： 2021-05-08 - 公布日： 2022-11-08 - 主分类号： B21G1/00 文献下载
摘要：本发明公开的属于芯片检测探针金棒加工技术领域，具体为芯片检测探针金棒的加工工艺，包括加工台，所述加工台的顶部固定连接有两个加工板，所述加工板的顶部固定连接有弯折底板，所述弯折底板的顶部设置有探针本体，弯折底板的顶部活动连接有与探针本体配合使用的弯折盖板，加工台的内部固定连接有传动机构，传动机构的左侧固定连接有与探针本体配合使用的弯折机构，解决了现有的探针进行弯折加工方式，存下以下缺点：首先是人工完成弯折加工，难以保障探针的弯折程度始终保持一致，尤其是当需要对探针进行多道弯折加工时，最终的成型产品误差较大，次品率较高，其次人工效率低，不适应于大规模的生产加工作业的问题。
芯片检测探针加工工艺

[发明专利]一种芯片检测工装的自动化检测线-CN202110500216.4在审
发明人：朴文杰;金光福;谢腊弥 -专利权人： 苏州奥金斯电子有限公司
申请日： 2021-05-08 - 公布日： 2022-11-08 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开的属于芯片检测技术领域，具体为—种芯片检测工装的自动化检测线，包括输送平台和自动化芯片检测系统，所述输送平台的顶部活动连接有检测台，所述检测台的顶部活动连接有压合模具，解决了现有的检测线在对芯片进行检测时需要人工一个个的对芯片进行检测，在检测的过程中非常的耗费时间，同时减少了检测的效率，在对芯片检测后，还需要人工对好的芯片和故障的芯片进行分类，在分类的过程中极容易发生错误，导致故障芯片被掺和在好的芯片内，从而会导致其流入市场，使安装该芯片的自动化设备发生故障，从而导致瘫痪，减少了检测的效率和分类的准确性，不方便使用者使用的问题。
一种芯片检测工装自动化

[实用新型]一种弹压式探针板的芯片吸盘取放机-CN202120338272.8有效
发明人：朴文杰;金光福 -专利权人： 苏州奥金斯电子有限公司
申请日： 2021-02-06 - 公布日： 2021-11-02 - 主分类号： H01L21/67 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种弹压式探针板的芯片吸盘取放机，包括工作台，所述工作台上表面中部水平固定安装有探针板，所述探针板内中部开设有卡槽，所述探针板上表面左右两侧均转动安装有支杆，两组所述支杆靠近卡槽的一端与卡爪上表面中部固定连接，两组所述支杆远离卡槽的一端底部均固定连接有压缩弹簧。本实用新型在卡槽内的芯片进行吸取时，电动推杆带动吸嘴向下运动，支板下表面的顶杆随着吸嘴向下与支杆远离卡槽的一端接触，顶杆向下带动支杆远离卡槽的一端向下转动，支杆靠近卡槽的一端向上转动使得卡爪远离卡槽，再通过吸嘴将卡槽内的芯片吸出，无需工作人员对探针板内卡爪的位置进行调整。
一种弹压探针芯片吸盘取放机

[实用新型]一种避免针脚受压形变的封装芯片检测承载平台-CN202120344110.5有效
发明人：朴文杰;金光福 -专利权人： 苏州奥金斯电子有限公司
申请日： 2021-02-06 - 公布日： 2021-11-02 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种避免针脚受压形变的封装芯片检测承载平台，属于芯片技术领域，其技术方案要点包括承载台，所述承载台的顶部开设有测试槽，所述测试槽的内壁活动连接有芯片本体，通过设置测试槽，能够使芯片本体进入测试槽的内腔后，通过与卡紧臂的配合使用，能够使测试槽对芯片本体进行限位，使其不会发生偏斜和移动的现象，同时还可与拖台进行配合，避免芯片针脚在测试时被压弯，解决了现有的检测承载平台在对芯片进行检测时，芯片由于被限位压紧的压力导致其针脚被压弯，使芯片在检测过后无法进行使用，从而导致报废的现象发生，增加了使用成本，不方便使用者使用的问题。
一种避免针脚受压形变封装芯片检测承载平台

[发明专利]一种探针检测工装的集成测试装置及其工作方法-CN202110917361.2在审
发明人：裴悠松;朴文杰 -专利权人： 苏州奥金斯电子有限公司
申请日： 2021-08-11 - 公布日： 2021-10-19 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本发明公开一种探针检测工装的集成测试装置及其工作方法，包括检测机构和主控终端，所述检测机构包括机械部分疲劳检测组件和探针性能测试组件；机械部分疲劳测试组件，包括工装安装座和配合的往复加压机构，所述往复加压机构包括架设在工装安装座上的施压工件和连接在施压工件上的数控往复驱动装置；探针性能测试组件，包括探针电性能测试组件，所述探针电性能测试组件包括工装夹具和架设在工装夹具上的电性能测试模块，所述电性能测试模块包括架设在工装夹具上方的数控升降抵触探针以及与升降抵触探针配合的导通回路，本发明的优点在于检测设备小型化，检测流程集成化，有效提升了检测效率，降低了检测成本。
一种探针检测工装集成测试装置及其工作方法

[实用新型]一种芯片检测夹具-CN202021525478.3有效
发明人：金光福;朴文杰 -专利权人： 苏州奥金斯电子有限公司
申请日： 2020-07-28 - 公布日： 2021-06-11 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型涉及技术领域，公开了一种芯片检测夹具，包括夹具本体和若干探针；该芯片检测夹具通过将探针设置在与芯片管脚根部对应的位置，在芯片被夹具本体夹紧时，探针的顶端与芯片的管脚的根部相接触，管脚的根部与芯片平行，使探针可以垂直于管脚的根部，并且管脚的根部稳定性好，在生产和转移的过程中不易变形，这些要素使得探针与管脚的接触更加充分和牢靠，在芯片测试时芯片与检测电路的连接更加可靠，从而可以获得更加准确的检测结果；承载盘上设置的凸起部围成与芯片的轮廓相匹配的形状，可以限制芯片的移动，使芯片在承载盘上保持稳定，进一步保证芯片与检测电路的可靠连接。
一种芯片检测夹具

[实用新型]一种测试治具核心针板-CN201921112984.7有效
发明人：金光福;朴文杰 -专利权人： 苏州奥金斯电子有限公司
申请日： 2019-07-16 - 公布日： 2020-07-24 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种测试治具核心针板，包括针板单体，所述针板单体的前端右侧开设有探针插槽，且探针插槽的中间位置设置有针板卡扣，针板单体上位于探针插槽的左侧开设有两个贯通孔，所述探针插槽内插装有弹片探针，每个所述针板单体的探针插槽内均插装一个所述的弹片探针，多个所述针板单体组成弹片探针组合针板。本实用新型的测试治具核心针板通过销钉及针板卡扣固定成型，可根据不同PIN数结构层叠组装提供整套针板，根据PIN数的实际情况进行增加或拆卸调整，达到降低成本的同时，增加测试稳定性及共用灵动性；能安装不同的探针，可适用于不同市场的需求，也解决了针对弹片探针的针板加工难、加工成本高、组装效率低的问题。
一种测试核心

[实用新型]一种用于针板的探针-CN201921112987.0有效
发明人：金光福;朴文杰 -专利权人： 苏州奥金斯电子有限公司
申请日： 2019-07-16 - 公布日： 2020-05-19 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于针板的探针，包括探针本体、头部连杆、探头、尾部连杆和探针尾端，探针本体的一端设置有头部连杆，头部连杆的端部设置有探头，探针本体的另一端设置有尾部连杆，尾部连杆的端部设置为探针尾端，探针尾端的外侧端部开设有尾端凹槽。本实用新型尾部的探针尾端用于外部作用，探针尾端上开设尾端凹槽有助于探针的使用便捷，使其在测试过程中更加稳定，增加使用寿命。
一种用于探针

[实用新型]一种用于针板的新型探针-CN201921112985.1有效
发明人：金光福;朴文杰 -专利权人： 苏州奥金斯电子有限公司
申请日： 2019-07-16 - 公布日： 2020-05-19 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于针板的新型探针，包括探针主体、尾部凹槽、支杆一、支杆二和探头，所述探针主体的右端开设有尾部凹槽，探针主体的左侧固定连接有支杆一，支杆一的左侧设置有支杆二，支杆二的左端设置为探头，且支杆二上位于探头的右侧设置有凸起二，支杆二和支杆一外侧套设有弹簧，且弹簧位于凸起二与探针主体之间。本实用新型的尾部通过设置尾部凹槽或者尾部凸起可适用于多种不同的市场，同时支杆一和支杆二通过螺纹连接，便于拆装，使用便捷，同时探针主体、支杆一、支杆二均为片状没，不同于常规的圆柱形结构，该结构稳定性更好，利于检测工作进行，提供使用寿命。
一种用于新型探针

[发明专利]一种测试治具核心针板-CN201910641889.4在审
发明人：金光福;朴文杰 -专利权人： 苏州奥金斯电子有限公司
申请日： 2019-07-16 - 公布日： 2019-10-01 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本发明公开了一种测试治具核心针板，包括针板单体，所述针板单体的前端右侧开设有探针插槽，且探针插槽的中间位置设置有针板卡扣，针板单体上位于探针插槽的左侧开设有两个贯通孔，所述探针插槽内插装有弹片探针，每个所述针板单体的探针插槽内均插装一个所述的弹片探针，多个所述针板单体组成弹片探针组合针板。本发明的测试治具核心针板通过销钉及针板卡扣固定成型，可根据不同PIN数结构层叠组装提供整套针板，根据PIN数的实际情况进行增加或拆卸调整，达到降低成本的同时，增加测试稳定性及共用灵动性；能安装不同的探针，可适用于不同市场的需求，也解决了针对弹片探针的针板加工难、加工成本高、组装效率低的问题。
针板探针插槽弹片测试治具测试稳定性层叠组装单体组成卡扣固定探针组合组装效率贯通孔灵动性插装拆卸卡扣内插销钉成型加工

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