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[实用新型]用于超声波检测的治具及超声波检测装置-CN202320374978.9有效
发明人：张迎华;蒲嘉鹏;杨振颢;肖晟熙;王凯东 -专利权人：曙光信息产业股份有限公司;中科曙光国家先进计算产业创新中心有限公司
申请日： 2023-03-01 - 公布日： 2023-08-25 - 主分类号： G01N29/04 文献下载
摘要：本申请涉及一种用于超声波检测的治具及超声波检测装置。治具包括：固定框架，固定框架包括第一边框和与第一边框连接的第二边框，第一边框和第二边框相交设置；定位件；第一连接件和第二连接件，第一连接件与第一边框连接，第二连接件与第二边框连接，第一连接件和第二连接件均与定位件连接；其中，第一连接件相对于第一边框的位置能够调节，第二连接件相对于第二边框的位置能够调节，定位件、第一边框和第二边框配置为共同固定住待检测的芯片。在进行超声波检测的过程中，治具设置于超声波检测装置的水槽中。即便水槽中的水体因检测探头的运动而产生波动，芯片也不会发生运动。由此，可以避免芯片随水体波动而导致成像不清晰的问题。
用于超声波检测装置

[发明专利]一种散热器的散热性能的检测方法-CN202211229711.7在审
发明人：张迎华;蒲嘉鹏;肖晟熙;杨振颢;郑磊 -专利权人：曙光信息产业股份有限公司
申请日： 2022-10-08 - 公布日： 2023-01-10 - 主分类号： G01M99/00 文献下载
摘要：本申请提供一种散热器的散热性能的检测方法，属于散热性能检测技术领域。检测方法包括：在第一预设表面涂抹染色剂，然后将散热器和散热对象按照散热安装位置进行贴合；将相互贴合的散热器和散热对象进行加热处理用于将染色剂烘干；将散热器和散热对象分离，然后获取检测指标，再根据检测指标判断散热器对散热对象的散热性能。散热器与散热对象的接触面、散热对象与散热器中的一者为第一预设表面且另一者为第二预设表面；检测指标用于表征第一预设表面的脱色情况和/或第二预设表面的染色情况。该检测方法能够通过该检测指标准确地反映散热器和散热对象的接触性，从而能有效地反映散热器对散热对象实际能够发挥的散热作用。
一种散热器散热性能检测方法

[实用新型]测试治具及测试系统-CN202222134610.3有效
发明人：张迎华;蒲嘉鹏;郑磊;肖晟熙;杨振颢 -专利权人：曙光信息产业股份有限公司
申请日： 2022-08-11 - 公布日： 2022-11-18 - 主分类号： G01L5/00 文献下载
摘要：本申请提供了一种测试治具及测试系统，涉及测试治具的技术领域。测试治具包括：连接组件，具有相对设置的两侧；夹紧组件，其位于连接组件的两侧，以形成用于测试的测试工位，夹紧组件与连接组件铰接，且夹紧组件上配置有调节部，当调节部进行调节，使得夹紧组件相对于连接组件转动时，测试工位对测试件形成夹紧或释放。能够将测试治具上的测试件与固定治具上的配合件进行适配或者脱离，以测试出测试件的插入力和拔出力，可准确评估测试件的使用可靠性。
测试系统

[发明专利]插拔力测试方法、装置、电子设备及存储介质-CN202110841195.2在审
发明人：张迎华;辛云龙;蒲嘉鹏;郑磊;肖晟熙;刘喆旻 -专利权人：曙光信息产业股份有限公司
申请日： 2021-07-23 - 公布日： 2021-10-29 - 主分类号： G01L5/00 文献下载
摘要：本申请提供一种插拔力测试方法、装置、电子设备及存储介质，涉及工业测试技术领域。所述方法包括：根据插拔力测试项目选择对应的治具，插拔力测试项目包括插入力测试和拔出力测试；将待测样品固定于测试机的载物台上；将对应的治具安装于测试机的传感器上，传感器用于在测试机控制下随对应的治具移动并获取插拔力数据；根据插拔力测试项目设置待测样品的待测状态，待测状态包括插拔件未插入状态插拔件已插入状态；基于运行参数启动测试机移动对应的治具进行插入/拔出动作，并记录插拔力数据，运行参数包括最大荷重值、最大行程和插拔速率。在插拔力测试中设定测试行程与测试应力阈值，提高了整个插拔力测试的安全可靠性。
插拔力测试方法装置电子设备存储介质

[发明专利]一种测试基板、LLCR测量方法及测试基板测试方法-CN202110841032.4在审
发明人：张迎华;蒲嘉鹏;肖晟熙;郑磊;刘佳劲;刘喆旻 -专利权人：曙光信息产业股份有限公司
申请日： 2021-07-23 - 公布日： 2021-10-22 - 主分类号： G11C29/50 文献下载
摘要：本申请涉及一种测试基板、LLCR测量方法及测试基板测试方法，属于计算机技术领域。该测试基板包括：基板、内存插槽以及测试端子；内存插槽，设置于所述基板上，用于连接内存；测试端子，设置于所述基板上，所述测试端子的数量与所述内存插槽的接触点的总数量相同，一个接触点对应连接一个所述测试端子，从而利用所述测试端子来替代内存金手指进行LLCR测试。本申请通过该测试基板，使得在对内存金手指进行LLCR测试时，通过将待测内存条插接于该测试基板上的内存插槽中，通过测量测试基板上每一对测试端子的接触阻抗值，达到对内存金手指的间接测量的目的，这样避免对内存金手指表面镀层造成损伤。
一种测试 llcr 测量方法方法