本发明公开一种自动化电路板测试系统及其方法,为应用于待测电子产品(Device Under Test,DUT)环境中,提供测试信号给电子产品的待测物,以便进行相关参数的量测,利用本发明自动化电路板测试系统以进行自动化电路板测试方法时,首先,测试处理模块发送控制讯号给待测试板开关模块,所述待测试板开关模块切换数个继电器,达到讯号路径的切换,并转换控制讯号为序列控制讯号,接着传送序列控制讯号给测试板进行测试动作,在回传的过程中,所述待测试板开关模块再一次切换讯号路径,其把结果资料回传给测试处理模块。藉此,透过所述待测试板开关模块的切换讯号路径,使所述系统可一次测试多个电子产品的待测物。