专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]雷达外壳减反结构的设计方法-CN202210068426.5有效
  • 林建东;白玉茹;任玉松;罗先萍;单建勇;张恒;孙亨利;秦屹 - 森思泰克河北科技有限公司
  • 2022-01-20 - 2023-05-05 - G02B1/11
  • 本发明适用于雷达技术领域,提供了一种雷达外壳减反结构的设计方法,减反结构包括覆盖在雷达外壳内侧表面或外侧表面的第一膜系,第一膜系由第一膜层和第二膜层构成;该方法包括:确定第一膜系的结构参数,确定第一膜系的结构参数包括:获取雷达外壳的折射率和第一膜系所在侧外部介质的折射率;根据雷达外壳、外部介质的折射率确定第一膜系中第一膜层和第二膜层的折射率,并根据第一膜系中第一膜层和第二膜层的折射率确定第一膜系中第一膜层和第二膜层的厚度,得到第一膜系的结构参数。本发明能够降低雷达外壳对激光的反射,从而提高激光雷达的检测精度。
  • 雷达外壳结构设计方法
  • [发明专利]共轴激光雷达光学系统及激光雷达-CN202110964837.8有效
  • 林建东;罗先萍;任玉松;秦屹 - 森思泰克河北科技有限公司
  • 2021-08-20 - 2023-05-05 - G01S7/481
  • 本发明适用于激光雷达技术领域,提供了一种共轴激光雷达光学系统及激光雷达,上述光学系统包括:激光发射装置、反射镜、轴锥镜及激光接收装置;其中,反射镜带有中孔;轴锥镜与激光接收装置共轴;激光发射装置发射的激光光束经目标物体反射后形成回波光束,回波光束经反射镜反射后形成平行于轴锥镜的光轴的入射光束;入射光束由轴锥镜的锥面进入轴锥镜后,经轴锥镜的底面反射,再由轴锥镜的锥面射出,形成平行于轴锥镜的光轴的出射光束;出射光束穿过反射镜的中孔入射到激光接收装置。本发明采用轴锥镜使激光光束更加集中分布在激光接收装置的光轴中心,提高了近轴区光束分布比例,提高了激光雷达的增益。
  • 激光雷达光学系统
  • [发明专利]一种透镜性能测试系统-CN202011616271.1有效
  • 罗先萍;林建东;任玉松;秦屹 - 森思泰克河北科技有限公司
  • 2020-12-30 - 2023-03-17 - G01M11/02
  • 本发明适用于光学检测技术领域,提供了一种透镜性能测试系统,包括:光源发射模块、入射位置控制模块、光屏、光源检测模块、透镜固定模块和上位机;光源发射模块向光屏发射激光,光屏反射激光,被光屏反射后的激光经目标透镜聚焦后被光源检测模块接收,光源检测模块将接收到的激光的光能量信息发送至上位机;上位机通过入射位置控制模块改变激光在光屏上的入射位置,以及接收不同入射位置下光源检测模块发送的光能量信息,并根据光能量信息确定目标透镜的性能参数。本发明的透镜性能测试系统能够自动、高效地对透镜进行性能测试,且具有很高的准确率。
  • 一种透镜性能测试系统
  • [发明专利]激光雷达光源自动调焦装置及调焦方法-CN202110275717.7有效
  • 罗先萍;任玉松;林建东;高瑶瑶;白玉茹;秦屹 - 森思泰克河北科技有限公司
  • 2021-03-15 - 2022-08-26 - G01S7/48
  • 本发明提供了一种激光雷达光源自动调焦装置及调焦方法,属于激光雷达生产装备领域,包括支座、调节组件、成像光屏、图像采集单元和控制单元;支座用于连接激光雷达光源;调节组件能与激光雷达光源相对设置,具有能与透镜组件对接的调节端,以及能使激光雷达光源发射的光束通过的通道;成像光屏设于通道的出射侧;图像采集单元用于实时采集成像光屏上的光斑图像,并生成图像信息;控制单元分别与图像采集单元以及调节组件通讯连接,以根据图像信息控制调节端的动作。本发明提供的激光雷达光源自动调焦装置及调焦方法,无需人工直接参与,提高了自动化程度,减少了调试过程所用时间,能保证调节的一致性,有效提高了产品的良率。
  • 激光雷达光源自动调焦装置方法
  • [发明专利]透镜球差测量系统及方法-CN202110414174.2有效
  • 林建东;罗先萍;任玉松;秦屹 - 森思泰克河北科技有限公司
  • 2021-04-16 - 2022-07-01 - G01M11/02
  • 本发明公开了一种透镜球差测量系统及方法,该系统包括:光源产生装置、第一轴锥镜、第二轴锥镜、被测透镜、光电探测器和控制装置;光源产生装置,用于产生单色均匀的平行光;第一轴锥镜、第二轴锥镜和被测透镜沿探测光束的传输方向依次共光轴布置;光电探测器的感光面位于被测透镜的焦点处,且与被测透镜的光轴垂直;光电探测器,用于检测到达感光面的探测光束的光强分布信息,将光强分布信息发送给控制装置。通过改变第一轴锥镜和第二轴锥镜之间的距离,来改变入射到所述被测透镜的探测光束边缘离光轴的高度,从而快速测量边缘离光轴的高度不同的探测光束入射时被测透镜的球差。
  • 透镜测量系统方法
  • [发明专利]多线激光雷达及其控制方法-CN202110699469.9有效
  • 林建东;任玉松;罗先萍;秦屹 - 森思泰克河北科技有限公司
  • 2021-06-23 - 2022-07-01 - G01S7/497
  • 本发明适用于雷达测控技术领域,提供了一种多线激光雷达及其控制方法,其中,多线激光雷达包括雷达壳体,雷达壳体的一侧安装有调节组件,调节组件包括环形槽,环形槽的中心设置有旋转轴,旋转轴转动时带动环形槽旋转;旋转轴两侧安装有发射模块和接收模块;发射模块包括多个阵列式布置的用于输出激光线束的发光单元以及发射透镜;接收模块包括多个阵列式布置的用于汇聚激光线束的探测单元以及接收透镜;多个发光单元和多个探测单元以旋转轴为轴线,对称安装在环形槽;旋转轴与控制器连接,控制器用于按照调节指令控制旋转轴旋转。通过本发明可以降低调校难度和调校成本。
  • 激光雷达及其控制方法
  • [发明专利]激光雷达反射镜的检测装置及检测方法-CN202210170873.1在审
  • 罗先萍;任雨杭;李进强;任玉松;林建东;秦屹 - 森思泰克河北科技有限公司
  • 2022-02-23 - 2022-06-03 - G01S7/497
  • 本发明提供一种激光雷达反射镜的检测装置及检测方法,检测装置用于检测双面反射镜的相对偏角,包括:第一定位调整装置,包括一旋转台,在旋转台上设有一定位部,定位部的轴线与旋转台的旋转轴同轴设置;光源发射系统,包括至少一对点状光源模组,点状光源模组以旋转台的旋转轴为中心、对称分设在第一定位调整装置的两侧,且一对点状光源模组的光束均在平行于旋转轴的第一平面上;至少一对第二定位调整装置,分别支撑点状光源模组并用于调整点状光源模组在第一平面内的俯仰角;至少一对光屏,对称分设在第二定位调整装置的外侧、用于接收待测双面反射镜对应侧的反射光斑或相对侧点状光源模组的发射光斑。本发明的检测装置操作简单,检测精度高。
  • 激光雷达反射检测装置方法
  • [发明专利]转镜式多线激光雷达及其设计方法-CN202210051148.2在审
  • 林建东;任玉松;李进强;罗先萍;张恒;孙亨利;秦屹 - 森思泰克河北科技有限公司
  • 2022-01-17 - 2022-05-13 - G01S17/931
  • 本发明提供了一种转镜式多线激光雷达及其设计方法,设计方法包括:根据视场和光源宽度驱动反射镜尺寸、光源位置与视场的约束条件;确定透光外壳宽度和边缘点位置坐标的约束条件;根据雷达俯仰角度范围确定发射光路的最小空间高度;确定接收孔径和反射镜尺寸;优化布置接收透镜的位置;选择透光外壳的结构并进行优化设计。本发明提供的转镜式多线激光雷达及其设计方法,能够明确转镜式多线激光雷达的各元件之间的结构参数和转镜式多线激光雷达的性能指标之间的约束关系,在保证转镜式多线激光雷达性能指标最优化的同时,提高其系统空间利用率,并通过优化各元件之前的尺寸和位置参数,提高转镜式多线激光雷达的紧凑度。
  • 转镜式多线激光雷达及其设计方法
  • [发明专利]激光二极管像散的测量系统及测量方法-CN202010116114.8有效
  • 罗先萍;林建东;任玉松;李安;李军建 - 森思泰克河北科技有限公司
  • 2020-02-25 - 2022-04-29 - G01R31/26
  • 本发明适用于半导体技术领域,提供了一种激光二极管像散的测量系统及测量方法,系统包括激光二极管、透镜、分束棱镜、光功率计、相机、横缝光阑和竖缝光阑;激光二极管发射激光光束通过透镜传输至分束棱镜;分束棱镜对部分出射光束进行透射形成透射光束,对部分出射光束进行反射形成反射光束;相机实时监控反射光束的光斑形态;横缝光阑安装在光功率计上;根据光功率计实时测量的功率确定光功率计的位置;竖缝光阑替换横缝光阑;将激光二极管从初始位置向前移动至目标位置,激光二极管位于目标位置时,光功率计在激光二极管向前移动的过程中测量的功率最大;初始位置与目标位置之间的距离为激光二极管的像散值。本发明能提高像散测量的准确性。
  • 激光二极管测量系统测量方法
  • [发明专利]一种激光雷达发射光学系统的确定方法及电子设备-CN202111284394.4在审
  • 林建东;任玉松;罗先萍;秦屹 - 森思泰克河北科技有限公司
  • 2021-11-01 - 2022-03-04 - G01S17/06
  • 本发明适用于激光雷达技术领域,提供了一种激光雷达发射光学系统的确定方法及电子设备,该方法包括:构建发射光学系统,发射光学系统包括光源、别汉棱镜和平凸透镜;获取系统的第一折射率和第二折射率;基于边缘光线能够经过别汉棱镜进入平凸透镜的约束条件,计算别汉棱镜入射孔径的第一长度和第二长度;基于第一折射率、第二折射率以及等光程原理,计算平凸透镜的椭球面方程;基于平凸透镜中边缘光线的入射高度,计算平凸透镜在光轴处的厚度;基于第一长度、第二长度、椭球面方程以及厚度,调整上述发射光学系统。本发明提供的激光雷达发射光学系统的确定方法能够在保证发射功率的前提下减少系统的尺寸,实现系统小型化。
  • 一种激光雷达发射光学系统确定方法电子设备

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