“索虹飞”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果3个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]基于超构透镜阵列的多焦点粒子检测系统及方法-CN202310493770.3在审
发明人： 索虹飞;于岚;葛苏阳;王国玺;郑娟娟 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2023-05-04 - 公布日： 2023-09-01 - 主分类号： G01P5/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于超构透镜阵列的多焦点粒子检测系统及方法，包括照明模块、成像模块、图像采集模块、分析计算模块和微流控器件，其中，照明模块包括沿光束传输方向依次设置的激光器、准直透镜、扩束透镜和介质超构透镜阵列，首先通过激光器、准直透镜和扩束透镜产生平行光束，并使平行光束覆盖介质超构透镜阵列整个孔径，再通过介质超构透镜阵列产生一组焦点阵列；微流控器件置于照明模块与成像模块之间，用于承载含有待测粒子的溶液样品；图像采集模块位于介质超构透镜阵列的焦面后端；分析计算模块用于得到溶液中待测粒子的相关物理量。本发明利用超构透镜阵列在极短的工作距离内产生焦点阵列，简化了光路，便于与微流控器件进行集成。
基于透镜阵列焦点粒子检测系统方法

[发明专利]基于液晶调控介质超表面的低损耗太赫兹反射阵列天线-CN202210229978.X在审
发明人：俞叶峰;焦浩翔;王海宇;索虹飞;廖轶明 -专利权人：南京理工大学
申请日： 2022-03-07 - 公布日： 2022-05-31 - 主分类号： H01Q15/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于液晶调控介质超表面的低损耗太赫兹反射阵列天线，所述反射阵列天线由多个阵列单元构成液晶调控介质超表面，阵列单元的谐振结构为双层高介电常数介质柱，每个阵列单元从上到下依次为上介质基底、上金属栅极、上介质柱、液晶、下介质柱、下金属栅极、下介质基底以及金属反射层；当电磁波入射时，在上、下介质柱中激发出偶极子谐振模式，造成反射相位突变；通过施加在上金属栅极、下金属栅极上的电压调整液晶的分子偏转方向，液晶在介质柱之间的相对介电常数发生变化，阵列单元的谐振频率发生偏移、反射相位发生变化，从而实现对反射电磁波幅度相位调控。本发明实现了反射相位的实时调控，以及太赫兹反射波束的低损耗动态扫描。
基于液晶调控介质表面损耗赫兹反射阵列天线

[发明专利]基于二次非球面超构透镜的广角度逆反射器及其制备方法-CN202111452497.7在审
发明人：俞叶峰;索虹飞;丁继根;廖轶明 -专利权人：南京理工大学
申请日： 2021-11-30 - 公布日： 2022-03-01 - 主分类号： H01Q15/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于二次非球面超构透镜的广角度逆反射器及其制备方法，该逆反射器包括基底以及基底上表面设置的一层二次非球面超构透镜，基底下表面设置的一层平面反射层；制备方法为：根据二次非球面超构透镜所需产生的等相位面进行布阵；在二次非球面超构透镜的焦平面处设置平面反射层；在满足所选取的超构单元对应的均匀周期性阵列的透射系数大于0.75，且相位调控达到0‑2π的条件下，调整超构单元参数，计算不同周期及高度的超构单元所构成的逆反射器在0～120度逆反射范围内的平均逆反射效率，确定出平均逆反射效率最高时的单元高度及周期，得到最终的广角度逆反射器。本发明实现了更大的工作角度范围和更高的逆反射效率。
基于二次球面透镜角度逆反及其制备方法