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- [发明专利]一种基于双臂结构的压弯装置-CN201711326254.2有效
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王克逸;黄智超;程光宇;王秋平;昝贵彬
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中国科学技术大学
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2017-12-13
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2020-01-03
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C03B23/02
- 本发明公开了一种基于双臂结构的压弯装置,包括基座主体,基座主体由光滑导轨、滑块、微调结构、支座以及直线步进电机组成,其中光滑导轨为部分有导轨,光滑导轨无导轨一侧固定安装微调结构,光滑导轨有导轨一侧放置滑块,滑块可在光滑导轨上滑动,两个支座分别安装在微调结构和滑块上,安装在滑块上的支座可以随滑块一起在光滑导轨上做直线运动,安装在微调结构上的支座可以通过微调结构改变姿态,两直线步进电机分别安装在两支座上;变形主体,变形主体由镜子、夹具、弹簧片以及侧臂组成,其中镜子由两夹具夹持固定,镜面平行于光滑导轨平面,两弹簧片两端分别联接两侧的支座和夹具,两侧臂位于整个装置的两侧。本发明结构紧凑、加工成本低、无机械摩擦。
- 一种基于双臂结构装置
- [发明专利]共平面度检测设备-CN200510092180.1无效
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游川贤;程光宇;刘定国
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宣德科技股份有限公司
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2005-08-22
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2007-02-28
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G01B5/00
- 一种共平面度检测设备,其适于检测多个待测物的多个待测点的共平面度。此共平面度检测设备包括多个检测模组、多个搬运装置以及一伺服控制器。其中,每一检测模组包括平台、探测棒以及马达。平台用以置放待测物以供检测。探测棒配置于平台的下方,而马达用以驱动探测棒。此外,搬运装置配设于平台旁,用以依序移动待测物至平台。另外,伺服控制器与马达电性连接,用以控制搬运装置将待测物移至平台,并同时控制马达驱动探测棒往上移动,以获得待测点的高度资讯,并对这些待测点的共平面度加以判断。
- 平面检测设备
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