专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种便于芯片定位的芯片检测设备-CN202320974400.7有效
  • 徐玉鑫;张隽;满维华 - 无锡市爱普达微电子有限公司
  • 2023-04-26 - 2023-10-17 - G01R31/28
  • 本实用新型公开了一种便于芯片定位的芯片检测设备,包括底座,所述底座的顶面固定安装有支架,所述支架的顶面固定安装有电动推杆,通过定位机构的设置,使得压板靠近芯片,对芯片进行限位,避免芯片在后续检测时发生偏移或移动,而影响检测准确性的情况发生,通过橡胶垫的设置,可以增大摩擦与对芯片进行保护,通过驱动机构的设置,带动定位板移动,将芯片移动到检测扫描头的正下方,通过电动推杆的输出端推动安装块移动,进而调节检测扫描头的高度,便于对定位板上的芯片进行检测,通过调节机构的设置,使得检测扫描头移动,可以对芯片的边角进行检测,避免因检测不到位而产生不合格的芯片流落到市场进行使用的情况发生。
  • 一种便于芯片定位检测设备
  • [实用新型]一种芯片测试用多工位测试板-CN202222272214.7有效
  • 徐玉鑫;张隽;满维华 - 无锡市爱普达微电子有限公司
  • 2022-08-29 - 2023-04-07 - G01R31/28
  • 本实用新型公开了一种芯片测试用多工位测试板,包括底座,底座上侧开设有凹槽,凹槽内部通过转轴旋转安装有测试座,测试座上侧设有滑槽和螺杆,螺杆上通过滑块螺纹滑动安装有测试板,且测试板内中部开设有测试接孔,且滑槽、螺杆和测试板设置有多组,底座上侧中部安装有立架,立架内顶部通过气缸安装有测试笔,转轴下端通过齿轮组传动连接有电机,本实用新型由于测试板通过滑块和螺杆滑动设置在测试座的滑槽内,且滑槽、螺杆和测试板设置有多组,测试座的转轴下端通过齿轮组传动连接有电机,使得通过电机和齿轮组能够驱动测试座水平旋转调节,从而能够切换不同的测试板进行测试使用处理,上下料交替设置测试,极大提高了芯片测试的效率。
  • 一种芯片测试用多工位
  • [发明专利]一种芯片电路测试装置及芯片测试系统-CN202211076320.6在审
  • 徐玉鑫;张隽;满维华 - 无锡市爱普达微电子有限公司
  • 2022-09-05 - 2023-03-07 - G01R31/28
  • 本发明提供一种芯片电路测试装置及芯片测试系统,涉及芯片电路测试技术领域。该一种芯片电路测试装置,包括底座,所述底座两侧外壁上均固定连接有侧向支撑板,两块所述侧向支撑板上端面靠近前后端位置处均套设有气缸,位于两侧的所述气缸上端面分别固定连接有一号支撑架和二号支撑架,所述一号支撑架和二号支撑架相对一侧外壁上分别固定开设有调节滑槽和限位滑槽,所述调节滑槽前后内壁之间转动连接有调节丝杆,所述限位滑槽前后内壁之间固定连接有限位滑杆,所述调节丝杆外壁上螺纹套接有调节滑块,所述限位滑杆外壁上滑动套接有限位滑块。该装置整体结构设计合理,使用方便,不仅能够对芯片电路进行高效全面的检测,而且能够方便检测完毕后工人取下芯片,降低劳动强度,节省时间。
  • 一种芯片电路测试装置系统
  • [实用新型]一种IC芯片测试机用高效翻转上料机构-CN202222167792.4有效
  • 徐玉鑫;张隽;满维华 - 无锡市爱普达微电子有限公司
  • 2022-08-17 - 2023-02-28 - B65G47/90
  • 本实用新型公开了一种IC芯片测试机用高效翻转上料机构,涉及芯片测试领域,包括上料斜台以及开设在上料斜台倾斜面上的上料通道,所述上料通道的内部中间转动安装有旋转筒,所述旋转筒的中部沿着上料通道的方向开设有过道腔,所述过道腔的下表面与上料通道槽底平齐,所述旋转筒的内部上下侧均安装有能够相互靠近的夹紧件,本实用新型设置了旋转筒,旋转筒的内部设置了过道腔,过道腔可使得芯片不受阻碍的通过,在旋转筒的内部安装了能够伸缩的压杆,当芯片上表面为非测试面的状态时,压杆可将位于过道腔内部的芯片夹紧,而后再进行旋转,以实现给芯片进行翻转的目的,整个翻转较为方便快速。
  • 一种ic芯片测试高效翻转机构
  • [发明专利]一种芯片测试治具及其测试设备-CN202211070725.9在审
  • 徐玉鑫;张隽;满维华 - 无锡市爱普达微电子有限公司
  • 2022-09-02 - 2023-01-10 - G01R31/28
  • 本发明属于芯片测试领域,尤其是一种芯片测试治具及其测试设备,针对目前市场上的检测设备效率低下,无法同时测试多个芯片以及无法很好的固定多个较小的芯片,从而影响测试结果的问题,现提出如下方案:一种芯片测试治具及其测试设备,一种芯片测试治具及其测试设备,包括底板,所述底板的上端固定设置有后板,所述底板的上端固定设置有电机,所述电机的上端固定设置有第一箱体,所述第一箱体的一侧开设有限位槽。本发明中,通过设置有稳固放置多个芯片的放置板以及设置有相对应的测试槽,在对芯片本体进行固定的同时,设置有电机组件,可以进行自动进行移动检测,使用方便,提高效率。
  • 一种芯片测试及其设备
  • [实用新型]一种集成电路分选机用的检测装置-CN202123370798.3有效
  • 徐玉鑫;张隽;满维华 - 无锡市爱普达微电子有限公司
  • 2021-12-29 - 2022-09-13 - B07C5/344
  • 本实用新型公开了一种集成电路分选机用的检测装置,包括机体和连接线,所述机体的上表面固定安装有显示屏,所述机体的上表面、位于显示屏的下方两侧均开设有固定孔,所述机体的一侧开设有两组滑槽,两组所述滑槽中均活动安装有滑块,两组所述滑块之间的一侧固定安装有挡盖,所述挡盖的一侧固定安装有插板,所述连接线的外表面固定安装有连接套,所述连接线的一端固定安装有检测头,所述连接套的外表面螺纹连接有对接套,所述对接套的外表面固定安装有防护套。本实用新型使检测装置具有防护的功能,并且使检测装置在检测时更加安全,避免了传统用手直接拿起检测头连接电源进行检测,具有实用性。
  • 一种集成电路分选检测装置

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