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[发明专利]光反应评价装置和光子数计算方法-CN202080096404.9在审
发明人： 渡边康之;玉木隆宏 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2020-09-28 - 公布日： 2022-09-23 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：强度分布获取部获取在标准光源向不存在试样的试样位置照射光的状态下由检测部检测出的第一检测强度分布，在第一测定动作时获取在照射光源向不存在试样的试样位置照射光的状态下由检测部检测出的第二检测强度分布。辐射强度计算部基于第一检测强度分布、第二检测强度分布以及标准光源的辐射特性，来计算照射光源的照射光的各波长下的辐射强度。照射光子数计算部基于各波长下的辐射强度，来计算照射光源的照射光的各波长下的照射光子数。
光反应评价装置光子计算方法

[发明专利]荧光分光光度计、分光测定方法以及荧光分光光度计用控制软件-CN201780090129.8有效
发明人： 渡边康之 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2017-04-28 - 公布日： 2021-08-20 - 主分类号： G01J3/443 文献下载
摘要：荧光分光光度计(1)具备：光源部(11)，其能够向试样配置部(12)发出多个波长的光；检测部(13)，其对来自试样配置部(12)的光中的规定波长范围内的光的强度进行测定；激发波长输入部(30)，其用于受理多个激发波长的输入；测定波长范围决定部(221)，其与所述多个激发波长对应地决定与各激发波长对应的透射光测定波长范围和发光测定波长范围；空白测定执行部(222)，其接收空白测定的执行指示，来使光源部(11)按顺序发出所述多个激发波长的光，并测定穿过了试样配置部(12)的透射光测定波长范围内的光的强度；以及实际测定执行部(223)，其接收实际测定的执行指示，来使光源部(11)按顺序发出多个激发波长的光，并测定穿过了试样配置部(12)的透射光测定波长范围内的光的强度和从所述试样配置部发出的发光测定波长范围内的光的强度。
荧光分光光度计测定方法以及控制软件

[发明专利]量子产率计算方法、荧光分光光度计以及存储介质-CN201810356158.0有效
发明人： 渡边康之 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2018-04-19 - 公布日： 2021-08-06 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：提供一种量子产率计算方法、荧光分光光度计以及存储介质，能够高精度地计算量子产率。在利用荧光分光光度计来计算量子产率时，校正处理部进行基于光子数(A1)和光子数(B1)来校正光子数(A2)的处理，光子数(A1)是空白测定状态下的激励光的光子数，光子数(B1)是样品测定状态下的激励光的光子数，光子数(A2)是空白测定状态下的荧光的光子数。因此，能够校正光子数(A2)来高精度地计算校正后背景光子数(A2′)。另外，量子产率计算处理部除了基于空白测定状态下的激励光的光子数(A1)和样品测定状态下的荧光的光子数(B2)以外，还基于校正后背景光子数(A2′)计算量子产率。因此，能够高精度地计算量子产率。
量子计算方法荧光分光光度计以及存储介质