专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果76个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [实用新型]一种内存颗粒薄型测试治具-CN202320515686.2有效
  • 陈晖;田景均 - 深圳市嘉合劲威电子科技有限公司
  • 2023-03-07 - 2023-09-01 - G11C29/56
  • 本实用新型为一种内存颗粒薄型测试治具,涉及内存颗粒测试技术领域,该内存颗粒薄型测试治具包括:安装板,安装板与内存颗粒测试工装连接,安装板包括放置槽,放置槽用于放置内存颗粒;夹具组件,夹具组件与安装板连接,夹具组件能够相对于安装板进行转动,使得夹具组件的一端与安装板之间形成夹持空间,夹持空间用以夹持内存颗粒。本实用新型通过采用滑动夹钳式结构的夹具组件以夹取内存颗粒并带动内存颗粒进行滑动,通过采用夹持结构,避免治具因组件过多导致的结构复杂,本实用新型使得工件的整体厚度尺寸轻薄,且使用方便,结构简单耐用,提高了生产效率。
  • 一种内存颗粒测试
  • [发明专利]内存发光控制电路-CN201710823836.5有效
  • 田景均 - 深圳市嘉合劲威电子科技有限公司
  • 2017-09-13 - 2023-07-11 - H05B44/00
  • 本发明公开一种内存发光控制电路,包括:多个内存条,每一内存条设置有发光单元;程序写入模块,所述程序写入模块用于写入控制多个内存条上发光单元发光的发光控制程序;MCU芯片,所述MCU芯片与程序写入模块电连接,用于接收并暂存写入的发光控制程序,且MUC芯片分别与多个内存条电连接,在确定所有内存条的发光单元进行同步发光的时间基点后,根据选定的发光模式生成PWM控制信号;发光控制模块,所述发光控制模块与MCU芯片电连接,根据PWM控制信号生成控制指令,控制所有内存条的发光单元按照写入的发光控制程序进行发光。本发明的技术方案能够根据个性化的发光程序控制发光模式,能够实现内存条不同的视觉效果。
  • 内存发光控制电路
  • [实用新型]芯片测试筛选设备-CN202222850425.4有效
  • 陈晖 - 深圳市嘉合劲威电子科技有限公司
  • 2022-10-26 - 2023-04-07 - B07C5/344
  • 本实用新型公开一种芯片测试筛选设备,用于内存芯片,其中,芯片测试筛选设备包括机架、转运机构、至少三组承载机构、视觉检测装置以及内存芯片测试装置。机架形成有沿第一方向间隔设置的上料工位、视觉检测工位、测试工位、良品下料工位及不良品下料工位;视觉检测装置和/或内存芯片测试装置对芯片进行测试后由设于机架的转运机构将芯片传递至良品下料工位或不良品下料工位。本实用新型技术方案涉及芯片制造技术领域,本申请利用转运机构将待测试芯片在视觉检测装置与内存芯片测试装置之间运转,并在检测后直接分拣至不同工位下料,减少人工参与,降低人力成本,提高生产效率。
  • 芯片测试筛选设备
  • [实用新型]内存芯片测试装置-CN202222677617.X有效
  • 陈晖 - 深圳市嘉合劲威电子科技有限公司
  • 2022-10-12 - 2023-01-06 - G01R31/28
  • 本实用新型公开一种内存芯片测试装置,其中,内存芯片测试装置包括机架、定位治具、压合机构及测试组件。机架设有第一滑轨槽;定位治具设于机架且沿第一方向延伸设置,并设有供内存芯片放置的测试空间;压合机构上设有抵接件,压合机构滑动连接于第一滑轨槽,以使抵接件在测试空间上方随压合机构滑动而升降;测试组件包括测试板和控制板,控制板设于机架,测试板插接于定位治具并位于测试空间的下侧,测试板电性连接控制板。本实用新型技术方案涉及内存芯片测试技术领域,将待测芯片容置于定位治具内的测试空间,通过压合机构使其抵接测试组件并进行测试,优化内存芯片测试流程,提高内存芯片测试效率。
  • 内存芯片测试装置
  • [实用新型]自动烧录校验装置-CN202222703593.0有效
  • 陈晖 - 深圳市嘉合劲威电子科技有限公司
  • 2022-10-14 - 2023-01-06 - G06F11/22
  • 本实用新型公开一种自动烧录校验装置,涉及信息存储领域,包括机架、与机架连接的传送机构、信息获取机构、烧录校验机构及控制件,信息获取机构包括烧录信息识别件,安装于机架上表面,并位于传送机构的一侧;烧录校验机构安装于机架上表面,并位于传送机构的一侧,烧录校验机构与烧录信息识别件电性连接;控制件分别与信息获取机构、烧录校验机构、传送机构电性连接。本实用新型技术方案将传送机构、信息获取机构以及烧录校验机构同时集成于机架上,使得该烧录校验装置集信息获取、烧录、校验功能于一体,操作方便快捷,且占地空间小,设置了控制件,提高了烧录校验的自动化程度。
  • 自动校验装置
  • [实用新型]烧录校验装置-CN202222703907.7有效
  • 陈晖 - 深圳市嘉合劲威电子科技有限公司
  • 2022-10-14 - 2023-01-06 - G06F11/22
  • 本实用新型公开一种烧录校验装置,涉及信息存储领域,烧录校验装置包括机架、与机架连接的传送机构、信息获取机构以及烧录校验机构,机架侧壁开设有通孔,所述机架内部设置有风机,以对所述机架上表面进行散热,信息获取机构包括烧录信息识别件,安装于机架上表面,并位于传送机构的一侧;烧录校验机构安装于机架上表面,并位于传送机构的一侧,烧录校验机构包括烧录模块、控制模块以及测试模块,控制模块与烧录信息识别件电性连接。本实用新型技术方案将传送机构、信息获取机构以及烧录校验机构同时集成于机架上,使得该烧录校验装置集信息获取、烧录、校验功能于一体,操作方便快捷,且占地空间小。
  • 校验装置
  • [发明专利]一种抗冲击的固态硬盘-CN202211068258.6在审
  • 张丽丽;明振东 - 深圳市嘉合劲威电子科技有限公司
  • 2022-09-02 - 2022-11-29 - G11B33/04
  • 本发明涉及一种抗冲击的固态硬盘,其该固态硬盘包括内部功能板、前端盖、后端盖以及弹性支架,其中,该内部功能板上设置有若干数据模块,该内部功能板固定设置在该弹性支架中,该前端盖以及该后端盖分别连接在该弹性支架两侧,该固态硬盘还包括防护散热挡板,该防护散热挡板分别连接在该前端盖以及该后端盖的端盖外表面上,该防护散热挡板包括外挡板、内接触板以及挡板连接体,其中,该挡板连接体连接在该外挡板与该内接触板之间,该内接触板贴合在该端盖外表面上,该内接触板包括贴合导热板以及连接块,其中,该贴合导热板贴合在该端盖外表面上,该连接块连接在该内接触板与该端盖外表面之间。
  • 一种冲击固态硬盘
  • [发明专利]一种固态硬盘的防碰撞方法-CN202211068274.5在审
  • 张丽丽;明振东 - 深圳市嘉合劲威电子科技有限公司
  • 2022-09-02 - 2022-11-29 - G11B33/04
  • 本发明涉及一种固态硬盘的防碰撞方法,其包括如下步骤:第一步、将固态硬盘的内部功能板、前端盖以及后端盖连接在弹性支架中,第二步、将导热膜片连接在该前端盖、该后端盖与该内部功能板上的数据模块之间,第三步、在该前端盖以及该后端盖的端盖外表面上分别设置防护散热挡板,第四步、将填充层填设在该防护散热挡板与该前端盖、该后端盖之间,该防护散热挡板的该外挡板暴露在该填充层外部,第五步、在该固态硬盘的引出线上连接数据线保护器。
  • 一种固态硬盘碰撞方法
  • [发明专利]一种车载固态硬盘-CN202211068279.8在审
  • 陈晖;杨洪财 - 深圳市嘉合劲威电子科技有限公司
  • 2022-09-02 - 2022-11-29 - G11B33/04
  • 本发明涉及一种车载固态硬盘,其包括固态硬盘部分以及数据线保护器,其中,该固态硬盘部分包括固态硬盘、填充层以及连接器,该固态硬盘部分设置在车辆的座位中,该数据线保护器一端通过数据线与该固态硬盘相连接,该数据线保护器另外一端通过车机数据线与车辆车机相连接,车辆在正常工作时,车辆车机中的数据通过该数据线、时时传输至该固态硬盘中进行数据备份,当车辆遇到剧烈车祸的时候,该数据线保护器断开,切断该固态硬盘与车辆车机之间的连接,进而达到保护该固态硬盘,防止该固态硬盘由于过载或其它情况而出现损坏的情况。
  • 一种车载固态硬盘
  • [发明专利]一种单晶内存修补单晶内存的方法和装置-CN202111447238.5在审
  • 陈晖;陈任佳;刘文;钟林峰 - 深圳市嘉合劲威电子科技有限公司
  • 2021-11-30 - 2022-03-01 - G11C29/00
  • 本申请提供了一种单晶内存修补单晶内存的方法和装置,包括依据不良IC的不良区域将不良IC划分至地址线组和位址线组;选择地址线组内的任一分组中至少两个不良IC以及选择位址线组内的任一分组中至少一个不良IC;依据不良IC的分组和预设规则,划分不良IC中地址线位的IC位区;依据IC位区确定不良IC的排列顺序;依据不良IC的类型和排列顺序,调整×16IC单晶封装的PCB板的布局。通过利用出厂的×8单晶封装的不良IC对×16单晶封装的不良IC进行修补,从而重组为合格产品,高效地利用了不良产品,节省资源,同时也在一定程度上有利于环境的保护。
  • 一种内存修补方法装置
  • [发明专利]一种单晶内存修补单晶内存的方法、装置及设备-CN202111447239.X在审
  • 张丽丽;陈任佳;李苑锋;林劲涛 - 深圳市嘉合劲威电子科技有限公司
  • 2021-11-30 - 2022-03-01 - G11C29/00
  • 本申请提供了一种单晶内存修补单晶内存的方法和装置,包括:依据不良IC的类型和不良区域,对所述不良IC进行分组;从所述A组、B组、C组、D组和E组中选择其中两组不良IC,以及从选中的其中一组选择至少2个不良IC,从选中的另一组选择至少1个不良IC,并依据所述不良IC的分组和预设规则,划分所述不良IC中地址线位的IC位区;依据所述IC位区和所述不良IC的类型,调整×16IC单晶封装的PCB板的布局。通过上述方法可对不良品的SDP类型封装的内存进行修补,利用出厂的内存IC存在不良产品,通过修补使其变为合格产品,有效的利用了不良产品,节省资源,同时也在一定程度上有利于环境的保护。
  • 一种内存修补方法装置设备

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top