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[发明专利]光检测器-CN202180095497.8在审
发明人：上野山聪 -专利权人： 浜松光子学株式会社
申请日： 2021-12-09 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： H01L27/146 文献下载
摘要：光检测器具备：光检测元件，其具有表面，且包括沿着表面配置的多个受光区域；以及多个超透镜部，其以对应于多个受光区域的方式配置于表面上，在多个受光区域和多个超透镜部中对应的一个受光区域和一个超透镜部中，一个超透镜部包括沿着表面配置的多个超透镜。
检测器

[发明专利]激光介质单元及激光装置-CN202280018659.2在审
发明人：村松侑辉;关根尊史;幡野佑真;玉置善纪;仓田将辉 -专利权人： 浜松光子学株式会社
申请日： 2022-02-03 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： H01S3/06 文献下载
摘要：激光介质单元具备激光介质和保持体。激光介质具有一对端面。保持体在从与一对端面交叉的方向观察的情况下包围激光介质，保持激光介质。保持体包括：变形容许部，其在从与一对端面交叉的方向观察的情况下从保持体的内侧向外侧延伸。激光介质和保持体相互接触。保持体中的与激光介质的接触区域在与一对端面交叉的方向上具有宽度，在从与一对端面交叉的方向观察的情况下沿着激光介质的侧面延伸。
激光介质单元装置

[发明专利]形状测定装置-CN202280019054.5在审
发明人：内田圭祐;宅见宗则;加藤尚明 -专利权人： 浜松光子学株式会社
申请日： 2022-01-13 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本公开的形状测定装置(1A)具备光源(2)、照射光学系统(3)、成像光学系统(4)、空间光调制器(5)、聚光光学系统(6)、线性传感器(7)、以及处理部(9A)。照射光学系统(3)使光成为线状而照射于对象物(S)。成像光学系统(4)输入在对象物(S)反射的光而成像。空间光调制器(5)在光调制面设定有一维状的强度调制图案，对输入到光调制面的光进行空间地强度调制而输出。聚光光学系统(6)将从空间光调制器(5)输出的光聚光为线状。线性传感器(7)将由聚光光学系统(6)聚光为线状的光由多个像素受光。处理部(9A)基于强度调制图案和来自线性传感器(7)的输出信号，对线性传感器(7)的多个像素的各个进行利用压缩感测技术的解析。由此，实现能够高精度地再构成对象物的形状的形状测定装置。
形状测定装置

[发明专利]扫描型显微镜单元-CN202080025051.3有效
发明人：山下慈郎;田边康行;松田俊辅;寺田浩敏 -专利权人： 浜松光子学株式会社
申请日： 2020-03-26 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G02B21/00 文献下载
摘要：实施方式为安装于显微镜(50)的连接端口(P1)的共聚焦显微镜单元(1)，包括：光源(10a～10d)，其向观察对象的试样(M)输出照射光；光检测器(13a～13d)，其检测根据照射光而从试样产生的观察光；扫描镜(4)，其使照射光在试样(M)上扫描，并将从试样(M)产生的观察光朝向光检测器(13a～13d)引导；扫描透镜(7)，其将由扫描镜(4)扫描的照射光导光至显微镜光学系统，将由显微镜光学系统成像的观察光导光至扫描镜(4)；镜筒(3)，其固定有扫描透镜(7)；配件部(21)，其用于将镜筒(3)安装于连接端口(P1)；和可动部(22)，其以可变更镜筒(3)相对于配件部(21)的角度的方式支撑镜筒(3)。
扫描显微镜单元

[发明专利]光子计数装置、光子计数方法和光子计数处理程序-CN202180095045.X在审
发明人：樋口贵文;高桥辉雄;中岛真央;中本胜大 -专利权人： 浜松光子学株式会社
申请日： 2021-12-24 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01J1/42 文献下载
摘要：光子计数装置具备：多个像素，包括光电转换元件和将由光电转换元件转换的电荷放大并转换为电压的放大器；A/D转换器，将从多个像素的放大器输出的电压转换为数字值；第一导出部，基于数字值，导出多个像素中的各像素的光子数的暂定值；和第二导出部，根据基于光子数分布的第一概率和基于读出噪声的第二概率，导出对象像素中的光子数的确定值。
光子计数装置方法处理程序

[发明专利]反射型空间光调制器、光观察装置及光照射装置-CN201780097494.1有效
发明人：泷泽国治;田中博;丰田晴义;大林宁;酒井宽人;渡边翼 -专利权人： 浜松光子学株式会社
申请日： 2017-12-05 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G02F1/015 文献下载
摘要：本发明提供一种反射型空间光调制器，其具备：电光结晶，其具有输入光被输入的输入面和与输入面相对的背面；光输入输出部，其配置于电光结晶的输入面，且具有透射输入光的第一电极；光反射部，其包含包括多个第二电极的基板，且配置于电光结晶的背面侧；驱动电路，其对第一电极与多个第二电极之间施加电场，光输入输出部包含形成于输入面上的第一电荷注入抑制层，光反射部包含形成于背面上的第二电荷注入抑制层。
反射空间调制器观察装置照射

[发明专利]基板制造装置-CN202280018274.6在审
发明人：田中敦之;瀬奈哈迪 -专利权人： 浜松光子学株式会社
申请日： 2022-02-28 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： C30B30/00 文献下载
摘要：基板制造装置具备配置半导体基板的载台。基板制造装置具备向配置于载台的半导体基板照射规定脉冲周期的脉冲激光的照射部。基板制造装置具备控制载台和照射部的相对位置的控制部。照射部生成以规定间距在直线上排列的多个聚光点。控制部使载台和照射部的相对位置以规定速度与多个聚光点排列的直线平行地移动。规定速度是多个聚光点在规定脉冲周期的1周期移动的距离与规定间距相同的速度。
制造装置

[发明专利]放射线图像处理方法、机械学习方法、学习完成模型、机械学习的前处理方法、放射线图像处理模块、放射线图像处理程序及放射线图像处理系统-CN202180093696.5在审
发明人：土屋智;大西达也;须山敏康 -专利权人： 浜松光子学株式会社
申请日： 2021-10-07 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： A61B6/00 文献下载
摘要：本发明的控制装置(20)具备：图像取得部(203)，其取得向对象物(F)照射放射线，并拍摄了透过对象物(F)的放射线的放射线图像；噪声图生成部(204)，其基于表示像素值与评估噪声值的扩大的评估值的关系的关系数据，根据放射线图像的各像素的像素值，导出评估值，生成将导出的评估值与放射线图像的各像素建立对应的数据即噪声图；及处理部(205)，其将放射线图像及噪声图输入预先通过机械学习而构建的学习完成模型(207)，实行从放射线图像去除噪声的图像处理。
放射线图像处理方法机械学习方法学习完成模型模块程序系统

[发明专利]激光加工装置及激光加工方法-CN201980071652.5有效
发明人：坂本刚志;是松克洋 -专利权人： 浜松光子学株式会社
申请日： 2019-10-30 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： B23K26/53 文献下载
摘要：激光加工装置具备：支承部、照射部、移动机构、控制部及摄像部。控制部实行第1前处理，该第1前处理是沿着具有并排配置的多条并行线的加工用线将激光照射于对象物，而在对象物形成改质区域。摄像部取得第1图像，该第1图像呈现通过第1前处理而沿着具有多条并行线的加工用线形成了改质区域的情况的加工状态。
激光加工装置方法

[发明专利]激光模块-CN202310309538.X在审
发明人：高桥永齐;藤田和上;林昌平 -专利权人： 浜松光子学株式会社
申请日： 2023-03-28 - 公布日： 2023-10-17 - 主分类号： H01S5/34 文献下载
摘要：激光模块具备QCL元件和光源。QCL元件具有：基板；下部包覆层，其设置于基板上；活性层，其设置于下部包覆层的与基板相反的一侧，生成第一太赫兹波；上部包覆层，其设置于活性层的与下部包覆层相反的一侧；以及第一电极，其设置于上部包覆层的与活性层相反的一侧。来自光源的第二太赫兹波经由基板入射到活性层，被第一电极反射并且被放大或者波长转换。被活性层放大或者波长转换后的第三太赫兹波经由基板向外部射出。
激光模块

[发明专利]半导体器件的制造方法-CN202310350521.9在审
发明人：中林正助;长屋正武;笹冈千秋;恩田正一;小岛淳;河口大祐;杉浦隆二;油井俊树;原佳祐;荒谷知巳 -专利权人：株式会社电装;丰田自动车株式会社;未来瞻科技株式会社;国立大学法人东海国立大学机构;浜松光子学株式会社
申请日： 2023-04-04 - 公布日： 2023-10-17 - 主分类号： H01L21/268 文献下载
摘要：一种半导体器件的制造方法，包括：在化合物半导体衬底(12)的第一表面(12a)中沿着多个器件区域(40)之间的界面形成排气凹部(14)，化合物半导体衬底包括与第一表面(12a)相邻的多个器件区域(40)；通过施加激光束(112)，在化合物半导体衬底内部形成改变层(16)以沿着第一表面在对应于排气凹部的深度范围的深度处延伸；在改变层处将化合物半导体衬底分割成包括第一表面(12a)的第一部分(61)和包括化合物半导体衬底的与第一表面(12a)相反的第二表面(12b)的第二部分(62)；以及形成金属膜(71、81、91)以覆盖第一部分的分割面(61a)，同时露出排气凹部。
半导体器件制造方法

[发明专利]激光模块-CN202310310458.6在审
发明人：林昌平;藤田和上;伊藤昭生;中西笃司 -专利权人： 浜松光子学株式会社
申请日： 2023-03-28 - 公布日： 2023-10-17 - 主分类号： H01S5/34 文献下载
摘要：本发明提供一种激光模块，其包括QCL元件和支承部件。QCL元件具有位于与作为层叠方向的第一方向正交的第二方向上的第一侧的第一端面、和位于第二方向上的第一侧的相反侧的第二侧的第二端面。基板具有第一基板端面～第四基板端面。支承部件具有：具有与第四基板端面的至少一部分相对的第一面的第一部分；和具有与第一基板端面的至少一部分相对的第二面及在第二方向上位于第二面的相反侧的第三面的第二部分。在活性层生成的太赫兹波的至少一部分经基板入射到支承部件的第二面，通过第二部分的内部后从第三面射出。
激光模块

[发明专利]X射线发生装置-CN201980024620.X有效
发明人：石井淳 -专利权人： 浜松光子学株式会社
申请日： 2019-02-18 - 公布日： 2023-10-17 - 主分类号： H05G1/06 文献下载
摘要：X射线发生装置包括X射线管、X射线管收纳部和通过将用于向X射线管供给电压的内部电路板密封于绝缘内而构成的电源部。在由绝缘块的上表面和X射线管收纳部的内表面界定的空间中封入有绝缘油。在上表面配置有与靶材支承部连接的高压馈电部。在上表面设置有突出到比高压馈电部、上表面和绝缘油的边界部更靠绝缘阀侧的位置且从管轴方向看时包围高压馈电部的至少1个突出部。突出部的顶部与包含绝缘阀的端部且在与管轴正交的方向上延伸的虚拟平面隔开间隔。
射线发生装置

[发明专利]半导体装置、及半导体装置的制造方法-CN201880087178.0有效
发明人：高木慎一郎;米田康人;村松雅治;井上直;山本宙和;中田慎一;小山卓雄 -专利权人： 浜松光子学株式会社
申请日： 2018-11-27 - 公布日： 2023-10-17 - 主分类号： H01L21/60 文献下载
摘要：本发明提供一种半导体装置，其具备：支承体，其具有安装区域；半导体芯片，其经由规定距离配置于安装区域上；凸块，其配置于支承体与半导体芯片之间；壁部，其以沿半导体芯片的外缘的一部分的方式配置于支承体与半导体芯片之间；及底部填充树脂层，其配置于支承体与半导体芯片之间；底部填充树脂层覆盖壁部的外侧的侧面。
半导体装置制造方法

[发明专利]光检测装置-CN201811132089.1有效
发明人：井上直;小池亮介;中山晴幸 -专利权人： 浜松光子学株式会社
申请日： 2018-09-27 - 公布日： 2023-10-17 - 主分类号： H01L25/16 文献下载
摘要：光检测装置具备背面入射型的受光元件、电路元件、连接部件、底部填料、遮光掩模。遮光掩模具有形成有开口的框体和设置于开口的内面的遮光层。开口的电路元件侧的第一开口边缘位于受光元件的外缘的外侧。开口的与电路元件相反侧的第二开口边缘位于受光元件的外缘的内侧。开口从第一开口边缘朝向第二开口边缘缩小。框体的宽度从第一开口边缘朝向第二开口边缘扩大。底部填料到达受光元件和遮光层之间。
检测装置

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