“浙江确安科技有限公司”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果7个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]晶圆follow map测试的完整性检测方法及系统-CN202310642214.8在审
发明人：周乃新 -专利权人： 浙江确安科技有限公司
申请日： 2023-05-31 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明公开了一种晶圆follow map测试的完整性检测方法及系统，包括：获取晶圆在首次晶圆测试时生成的map文件，并获取目标晶圆的每个目标芯片的基本区site值和扩展区site值；将每个目标芯片的基本区site值均设置为预设值，得到并对修改后的map文件进行follow map测试，得到第二map文件；获取每个目标芯片分别在第二map文件中的基本区site值和扩展区site值，判断每个目标芯片的基本区site值和扩展区site值是否满足对应关系，若均是，则判定晶圆的follow map测试完整。本发明能够在不破坏map文件的情况下，防止晶圆follow map测试不完整所导致的重大风险发生。
晶圆 follow map 测试完整性检测方法系统

[发明专利]一种晶圆测试排程方法、系统、存储介质和电子设备-CN202310368220.9在审
发明人：周乃新 -专利权人： 浙江确安科技有限公司
申请日： 2023-04-07 - 公布日： 2023-08-15 - 主分类号： G06Q10/0631 文献下载
摘要：本发明公开了一种晶圆测试排程方法、系统、存储介质和电子设备，包括：从所有的可用设备中，依次确定对当前时刻的每个待测晶圆批次进行晶圆测试所需的目标可用设备以及每个待测晶圆批次使用相应的目标可用设备的时间段；根据任一待测晶圆批次使用相应的目标可用设备的时间段，确定该待测晶圆批次的测试完成时间，并判断该待测晶圆批次的测试完成时间是否符合预期出货日期，得到该待测晶圆批次的判断结果，直至得到所述当前时刻的每个待测晶圆批次的判断结果；当所有的判断结果均为是时，根据当前时刻的每个待测晶圆批次对应的时间段进行排产。本发明充分利用了测试设备的产能，提高了晶圆测试设备的利用率。
一种测试方法系统存储介质电子设备

[发明专利]一种晶圆偏移检测方法、系统、存储介质和电子设备-CN202211413901.4在审
发明人：陈保满 -专利权人： 浙江确安科技有限公司
申请日： 2022-11-11 - 公布日： 2023-03-28 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种晶圆偏移检测方法、系统、存储介质和电子设备，包括：获取目标晶圆的MAP图像；其中，所述MAP图像中包括：所述目标晶圆的每个Die的坐标和Bin值；基于所述MAP图像的任一预设边缘区域内的每个Die对应的Bin值，计算得到该预设边缘区域的边缘良率，直至得到所述MAP图像的每个预设边缘区域的边缘良率；根据每个边缘良率，确定所述目标晶圆是否发生偏移。本发明通过对晶圆的边缘区域的良率进行计算，在提高晶圆偏移检测效率的同时，避免了因晶圆发生偏移造成的重大质量问题和成本损失。
一种偏移检测方法系统存储介质电子设备

[发明专利]一种具有抗形变加强板的测试机探针卡-CN202211169696.1在审
发明人：陈保满;何鹏;吴光明 -专利权人： 浙江确安科技有限公司
申请日： 2022-09-22 - 公布日： 2023-02-24 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明涉及集成电路晶圆测试技术领域，具体涉及一种具有抗形变加强板的测试机探针卡，包括：加强板和探针卡本体；所述加强板设置在所述探针卡本体上。本发明的技术方案通过在探针卡的加强圈上加设加强板，以此减少探针卡的PCB板的变形。
一种具有形变加强测试探针

[发明专利]一种探针台OCR识别结果的修正方法及系统-CN202210533113.2在审
发明人：阚紫为;杨颖超;李鹏宇 -专利权人： 浙江确安科技有限公司
申请日： 2022-05-16 - 公布日： 2022-10-04 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明涉及一种探针台OCR识别结果的修正方法及系统，包括：探针台光学识别系统对待测晶圆的图像进行识别，并将原始识别报文向探针台测试系统发送；拦截模块对原始识别报文进行拦截，并判断原始主批次名与目标主批次名是否一致，若是，则将原始识别报文修改为包含目标批次名的修正识别报文；探针台测试系统判断修正识别报文对应的目标批次名与人工录入批次名是否一致，若是，则输出模块将人工录入批次名传输至测试机，以使测试机对待测晶圆进行测试。本发明利用探针台的识别功能，对识别报文进行拦截修正，在对晶圆进行拆分的同时，达成了识别结果与人工录入的批次名一致的目的，从而使得测试机可以正常测试，满足了不同用户的拆批需求。
一种探针 ocr 识别结果修正方法系统

[发明专利]用于晶圆测试的测试系统异常中断恢复方法及装置-CN202111014452.1在审
发明人：阚紫为;杨颖超;李鹏宇 -专利权人： 浙江确安科技有限公司
申请日： 2021-08-31 - 公布日： 2021-11-30 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于晶圆测试的测试系统异常中断恢复方法及装置，涉及芯片制造领域。该方法包括：当测试系统异常中断后，从测试机中读取已存储的晶圆信息，从晶圆信息中提取已测试的晶圆测试结果；根据晶圆测试结果对空白测试结果图进行修改，得到部分测试结果图；通过探针台调取部分测试结果图，根据部分测试结果图对晶圆未测试的部分进行测试，得到完整测试结果图。本发明适用于晶圆测试系统异常中断后的测试恢复，能够使探针台根据部分晶圆map图继续进行晶圆剩余部分的测试，不需要对已经测试过的区域再次进行测试，从而减少了不能复测产品的报废，减少针痕增多后良率降低的风险，提高良率。
用于测试系统异常中断恢复方法装置

[发明专利]PCB保护装置以及对应的IC芯片测试系统和方法-CN202111014438.1在审
发明人：阚紫为;袁科学 -专利权人： 浙江确安科技有限公司
申请日： 2021-08-31 - 公布日： 2021-11-26 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种PCB保护装置以及对应的IC芯片测试系统和方法，涉及芯片测试领域。该PCB保护装置包括：设置在PCB表面的保护板，PCB的表面设置有电子元件，保护板与PCB表面的贴合面设置有与电子元件的形状对应的凹槽。本发明提供的PCB保护装置，通过在保护板与PCB表面的贴合面设置与电子元件的形状对应的凹槽，使保护板与PCB贴合，从而减小了PCB与保护板之间的间隙，减少了PCB磕碰损坏风险，减少了FT中PCB的形变，提升了FT良率和PCB寿命，降低了测试成本。
pcb 保护装置以及对应 ic 芯片测试系统方法